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标题:
稳压二极管
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作者:
ssedet
时间:
2011-3-11 11:12
标题:
稳压二极管
硅稳压二极管(简称硅稳压管)实质上是一个硅晶体二极管。稳压二极管的实例和管子的符号如图Z0113所示。1.二极管的击穿现象由二极管的伏安特性可知,当加于它两端的反偏电压超过反向击穿电压之后,二极管将发生击穿现象。二
极管的击穿通常有三种情况,即雪崩击穿、齐纳击穿和热击穿。(1)雪崩击穿对于掺杂浓度较低的PN结,结较厚,当外加反向电压高到一定数值时,因外电场过强,使PN结内少数载流子获得很大的动能而直接与原子碰撞,将原子电离,产生新的电子空穴对,由于链锁反应的结果,使少数载流子数目急剧增多,反向电流雪崩式地迅速增大,这种现象叫雪崩击穿。雪崩击穿通常发生在高反压、低掺杂的情况下。 (2)齐纳击穿对于采用高掺杂(即杂质浓度很大)形成的PN结,由于结很薄(如0.04μm)即使外加电压并不高(如4V),就可产生很强的电场(如
)将结内共价键中的价电子拉出来,产生大量的电子一空穴对,使反向电流剧增,这种现象叫齐纳击穿(因齐纳研究而得名)。齐纳击穿一般发生在低反压、高掺杂的情况下。(3)热击穿在使用二极管的过程中,如由于PN结功耗(反向电流与反向电压之积)过大,使结温升高,电流变大,循环反复的结果,超过PN结的允许功耗,使PN结击穿的现象叫热击穿。热击穿后二极管将发生永久性损坏。对于硅PN结,击穿电压在7V以上的为雪崩击穿;4V以下的为齐纳击穿;在。4~7V之间的两种情况都有。无论哪种击穿,只要控制反向电流的数值不致引起热击穿,当反向电压下降到击穿电压以下,其性能可以恢复到未击穿前的状况。2. 稳压管的击穿特性 稳压管的正向特性与一般二极管相同,而反向击穿特性很陡峭。3. 稳压管的主要参数(1) 稳定电压
V
Z
Vz
稳压管反向击穿后其电流为规定值时它两端的电压值。不同型号的稳压管其
Vz
的范围不同;同种型号的稳压管也常因工艺上的差异而有一定的分散性。所以,
V
z一般给出的是范围值,例如2CW11的
Vz
在3.2~4.5V (测试电流为10mA)。当然,二极管(包括稳压管)的正向导通特性也有稳压作用,但稳定电压只有0.6~0. 8V,且随温度的变化较大,故一般不常用。(2)稳定电流
I
Z
I
Z
是指稳压管正常工作时的参考电流。
I
z 通常在最小稳定电流
I
Zmin与最大稳定电流
I
Zmax之间。其中
I
Zmin 是指稳压管开始起稳压作用时的最小电流,电流低于此值时,稳压效果差;
I
Zmax是指稳压管稳定工作时的最大允许电流,超过此电流时,只要超过额定功耗,稳压管将发生永久性击穿。故一般要求
I
Zmin
< I
z
< I
Zmax 。(3)动态电阻
r
Z
rZ
是指在稳压管正常工作的范围内,电压的微变量与电流的微变量之比。
r
Z 越小,表明稳压管性能越好。(4)额定功耗
P
Z
P
z是由管子温升所决定的参数,
P
z
=V
z
I
Zmax 。(5)温度系数α
α
是指
Vz
受温度影响的程度。硅稳压管在
V
Z<4V时α<0;在
V
Z>7V时,
α
>0;在
V
Z = 4~7V时,
α
很小
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