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标题: 屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修 [打印本页]
作者: 江西电子维修    时间: 2011-4-28 15:46
标题: 屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修5 F* v  b0 x. y% w- f+ \3 d# z
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿 5 z  n* K0 X. _5 d& z
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
8 f4 A, s* p' G" Y行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
" c. P2 Y8 @, @. N! Y阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
& a/ c. g8 j. N% }9 O. I需要有一定的时间积累。
/ p% a  y( n" \6 J6 o% x" E假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
+ @* ~" W4 N! e# B3 I! Y烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没9 w8 E1 ]- _3 l5 X# L' a; i
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
3 v7 m0 F6 P0 A% g' y行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
6 x. \+ _) O5 j* m/ U- q/ z8 e  W: ~行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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$ D: J' ?3 @: m) {2 z$ a' @, Z- Q& v、 电流监测法
; J3 X* e5 ^( ~检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
/ X5 U; K/ E/ [: y7 E0 s: y电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。0 ]7 E3 F, s" g6 ]
2、 电压测量法
# N% l- L; L2 j3 A) Q2 @显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
5 w7 o% `" W" K0 c种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。 4 V/ s5 L& h, W9 {- O5 f
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
% K. z. V( y1 V0 V/ `好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。 & X: M4 h" D* [# P8 W5 e
3、 波形检测对比法 / e5 P4 X; H8 ]& D" d* Y; p
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B9 B" I4 N, V( b7 s4 y
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
0 \/ x+ m5 a1 h) Q; ?" o0 lVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
* N7 L5 @; ~- V* L5 h, Y的
/ d. {& C1 M3 E% E: p* F+ g# s的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅1 F+ k% ?1 I3 g8 f. j
速定位故障点，找出故障原因。 $ k, V6 ^% M! `9 O9 {
4、 温度测量法 2 o! P3 o/ t6 J1 |4 j. v
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两. h- y) ]- y* l; s+ Z. ~
70 度以下，基本都可以使用。注意测
9 j5 I- x: Z* O. ^2 S个小时以上，行管的温度不上升，保持在+ M( l) o( S7 E/ A2 F; z
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量: @9 |* W) s) _% L, Q, z% ^
时要注意与实际使用环境温度相当。 8 s- ^* D0 u' Q
5、 元件替换排除法
# F; D  B/ o4 ^& H: f* z* |# s; s2 P对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。 ' f4 K$ o) {/ d
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）) c& w- m1 t9 P9 D
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。  g$ k6 D7 i, s4 z* w! |9 ^
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
. n6 v  q' J3 [4 c  J8 }3 T行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：/ m1 m" d/ {& p0 n4 u
1、 开关电源输出电压偏高 ) U$ W" K. x. m, P. g% H' n
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超% R- d3 T; e, d- ~
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器4 W% a. }% F* g
和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值* T: v; C4 J. G1 O2 r1 B' U2 ^
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。 6 w& Y. G! q- z1 |- e) }8 N
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
7 m( S7 o+ a8 o# C9 C- M( ?- K  f正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
+ r% h% T0 C+ f6 S& _/ [9 ]高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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6 k6 |0 O( J% ~1 a徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
$ b. D" G3 m3 T! d1 x6 [电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
, ^" v! o3 w$ n7 Q还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
% f! P) a: A# X. }1 r常。
6 c" e' _$ f* x, D3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路 8 F  {  _/ J0 ?# p7 {' c* m2 L
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
3 `. |( L+ L  C1 e3 |' `6 t+ T# b路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比2 h( T1 @/ D1 Y3 a. z& C% J$ p
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散2 |$ k) i% M- K9 J  f
热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
; ~5 @+ |1 t5 Y0 c& @" C穿。5 b1 U+ t( {4 Z8 q' G
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、 行频过低
/ I+ f' N( P/ W4 i由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
) v; v: m3 t  o9 c周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
; R$ F9 a9 o2 }. ?" o& Z, H+ @, `电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于  k5 D" _( X2 O- ^. w  m
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产6 H9 [( ^  F- s) f, z0 ~: ~- K
生，一般不会出现行频过低现象。
; O3 F! \5 w7 m, r" E) L" n% f. G5、 行逆程时间过短 0 w9 R, e& i. ?4 k
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出3 H( f9 l7 J% }3 d/ ?$ N
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开3 e) ^: {7 {8 E/ J- S* Y; j- x8 \
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
% B' ?! P, H2 R3 A& W7 T/ a的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是! F: D% M; i7 n/ U. q2 S
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。 4 P' I+ n( P2 E' b) ]. L
解决方法：是将行逆程电容全部换新。
' i7 L3 v+ S! M- S: z! C/ a6、 行激励不足
  N5 j9 ^8 F; L& s; Q" _1 W$ I' |假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性4 C6 W1 v( N! H1 E/ }8 B2 j
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流& Z+ T0 q& ~2 M7 c6 \& ^( D$ @3 v  W1 R
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
6 W) d" }5 ^! u! c超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则5 [: G) F; ^- z5 Z. R
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察: n( X8 T. S9 e" Z4 J
激励级的波形，可帮助找到故障原因。 6 }; k3 v/ s5 n% u/ u9 }3 o! Y
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻, K4 \0 p) }% F$ x; k9 S4 v
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容' f2 ]8 ~+ M4 i+ h8 p- h" j
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失  S: w9 x; @0 x
效造成滤波不良。
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、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，% u" H: K5 d/ T& {' ~, S
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
+ F. A0 ^% F- }) I" P1 l- l导致损坏行管。
8 s& \) r  E1 N% t$ G1 c; x. f3 [* u、 行偏转线圈开路
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- W, o, ]) v) b& K& S2 X此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆9 l: n9 W7 }$ h* m1 }% b
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
( K6 {9 `, ?! W* x: J( G及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
# d1 |5 t2 N( |/ v! k9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。 9 |7 ]% p7 G$ k2 d/ t
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流( ]0 z- i2 |: z4 l6 O
而击穿。7 O2 G: d. O( I+ r
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徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK - @" T; ?" x/ T6 k
此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
" }1 l0 M; H4 Q8 k8 w2 k压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
# x: T* N9 g+ S流击穿。) ^! V) V. t$ L4 q5 i$ F1 i7 n
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
2 H$ H& ^3 F! W% p* G+ v受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。 3 O- e) R( p# O: h6 Y: i+ l2 }7 m
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
( M" v1 w5 B* b! c& ^, y- Y逆程二极管等引脚虚焊 # N1 H3 [7 p1 U9 {
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆. k2 M) E# m) G6 A' w2 @
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造+ _1 O: L8 z+ E! n7 H9 r
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。 3 T" L7 T# D" d1 Z! M/ V- [
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管) a0 k% T7 W9 r2 Z, ~
或阻尼电阻的行管
- p! Z2 D" d4 W8 \我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方8 F9 l: Z* W; d( X; b
法不当也会瞬间烧行管。 2 @8 g( G& a) p
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
* v4 k5 x7 j* b& Q# ]) C高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
+ n' Z7 ?& D% C; X! O高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高& q) b5 p1 @3 n5 [6 t9 N5 `
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致  X4 q* r, B" f  `" T
行管负载变化异常造成行管烧毁! \" s. ^! W! B& _9 q1 D5 a




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