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标题: 屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修 [打印本页]
作者: 江西电子维修    时间: 2011-4-28 15:46
标题: 屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

, D$ x5 `9 }/ B: [. w屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
( N2 B2 F. P; H) R+ e- P$ s) O根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿 - d2 h! K4 A6 k1 \
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：' B- Z* i' X+ R2 \/ ?8 C4 F2 ~
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
" K# M0 j% G6 ~0 [7 w! [; {阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前3 F$ W9 b3 ?" {% ?
需要有一定的时间积累。
* z6 K; R  H% @( a7 D7 N& D假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然/ o/ T8 p' x/ |  O4 D. v* o% A
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没$ f7 M0 S6 @! K0 w" _- c# L2 l
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。 8 x$ {8 t3 |2 H0 F$ D) X* a+ T
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：： 6 ^; e8 V# Q! \
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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& T4 n; K2 R  Z) j" ~9 f: W、 电流监测法 : s6 p  L' e7 X
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
7 W7 b! `% ]9 J电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
' m' a3 Z( T& J2、 电压测量法
( q8 `& u( Q" P% ]" }9 B7 A/ V显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几( T9 a! j% S1 |( k
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。 $ g9 R6 r( n0 k
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最. q" y5 e( V" e9 }1 c$ C, S" t
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。 " |; Z7 @- t6 I* K/ g) i4 M
3、 波形检测对比法
% l4 }1 N) E9 c* w行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
8 P/ }9 F  C6 V3 _, j极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
/ T* t& s$ L# w+ H3 Z7 J! S; I! AVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
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的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅- C: t0 l& L& A! ]3 m
速定位故障点，找出故障原因。   o# i' c8 j" T5 g( r% u5 I0 p
4、 温度测量法 1 F3 w' T$ H1 D; s- Z, N: z' w3 h) H# p
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
6 @  n6 ?3 D5 I3 r$ g, q70 度以下，基本都可以使用。注意测, Y7 m5 w! y& t3 V& N
个小时以上，行管的温度不上升，保持在9 E; E% O, _( z& [
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量3 q* b4 @6 x+ J* n% f
时要注意与实际使用环境温度相当。
- s! v* j" b' @3 H. O5、 元件替换排除法 ' f) q4 ^1 ~+ i  t, I0 S0 K3 q
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。 * ?& G7 K$ F- k- }+ @6 H7 Y
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）+ S! P/ H2 S+ u/ W, ^
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。/ ^& A# d& q- S# Z7 s( A! X
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
; V8 {4 t- F8 N行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
0 f$ _9 W6 g! g4 @0 l1、 开关电源输出电压偏高
7 S" C+ ~+ t' E( z; e3 Z由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超+ h! e$ c% W- u+ k& Q9 O
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器, X# d& k% e5 r/ s2 o5 i
和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值' c0 }2 _0 S( F; u, H. S  _( W! q
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。 . m. c5 y; p4 v1 A1 q
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
# S. D( A% d' U7 O1 s* U, V正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
6 S: q- {  O- p# \高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
8 T7 w3 M) Y" v$ n; Q: f7 I: C电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
1 C) X# a4 n, @还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异5 P4 p/ Y$ @4 o5 Y& h
常。: q7 J+ V5 i: M) h4 d7 R" _
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路 % \( Y" q% ~+ F
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短0 S% `7 F2 q9 m/ w( o
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比" p1 U, e9 M/ }. d, k; Z0 M! V
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
$ E% H! B" r- C, c6 B2 C热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击# W# Y1 C& @. D$ a/ C& Q$ }
穿。8 _3 {( E# w: p- I1 s/ C
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2 g7 T  o- A1 A9 k2 Z# v; b、 行频过低
( t8 }1 [; K- D0 @由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，( f5 Y2 ]  c- c
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
. G+ m6 y+ X1 a" _7 V6 C5 v8 v! ^电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于& S- `, N+ M) D0 ]7 m' `
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
! c1 a" q( u7 o% L/ p; z6 R生，一般不会出现行频过低现象。
5 s' v; j1 e. X, Y; L  N5、 行逆程时间过短
) Z2 u: J" G1 }0 J- N7 J$ w) O在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
8 Y7 p( x8 M2 Q( h管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开% X# q$ O% I. Z  Y, Q5 L/ w) |
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
' y+ q8 U$ ~2 {% Y+ a: {* k/ e的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是( Q( F; I! X: g8 G9 i6 g
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。 5 b& o+ n; k4 p* P: p
解决方法：是将行逆程电容全部换新。 : P: d+ v0 t- h5 D/ o3 G$ T2 n, n
6、 行激励不足 % g! L3 A5 v3 F' N9 f
假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
8 l* @) D( ?* `变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流7 R5 A  x% V0 y7 V( m
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦; Z$ q* e* ~- i2 V
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则, ]4 x/ E/ D2 N: o( b. Y/ i1 o
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察" u; O" o. R" M
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
/ G& Z: j6 }3 m7 r' Y# T造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
! U# H& o2 [: [' g4 i- a值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容; I+ E- S% ?# H# ~0 `' f' j
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失" M1 `: S9 q) I1 @
效造成滤波不良。   t! [: F/ C2 e4 e( L; P

  P' t) |' F9 e7 R- J8 Y: _[NextPage]2 n' L- h" j; d( K2 h+ X% l/ }- W

' O6 a+ o+ i  y! L/ [、 环境潮湿
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, z' u8 }+ ?4 J) O* f  K( H3 T这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，9 ^; Q8 J9 E8 X4 N" q5 |
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终! }+ T) K. l1 e- L' j
导致损坏行管。 6 u% G4 S/ d) H+ {
、 行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆: }1 d6 }1 S; |6 N
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈2 o, W6 E* Q$ r. ]
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。 9 x5 F  L: U) P- a
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
; x5 A4 |; w8 a! [$ `8 {$ ]" Q( u如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
: F. R* d, I' _9 r0 v3 ?而击穿。- Y2 ~$ w7 L3 H( {7 @* X: }1 T
2 : B. W/ I7 }3 N
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK 7 C! H7 M) h2 K3 R6 g
此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高- R/ U. x. Q, A. U
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
3 t- F1 u8 h+ {9 h* E3 T# W; j流击穿。
- b& ]3 U; H# k0 S) ?10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
8 Q4 M$ I5 P2 j; q# O受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。   D+ E; g* q, A: O  t  R9 @
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，. `: o6 ]: ^1 L5 l
逆程二极管等引脚虚焊
* V' \) b2 P) u1 P2 c/ X4 C  n  q; V虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
4 |5 L3 ~8 k% v/ I9 d  K- n程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造  a' F% p5 ^' t7 w& Z4 _; e
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
1 T4 o- g% a' o# b12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管" m: r5 U5 F& Z) m0 l
或阻尼电阻的行管 % z" A  M* P# w" g0 o. x' N
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
5 v0 h, h+ d9 ^5 l' k法不当也会瞬间烧行管。 5 {4 d$ m% W0 v+ _. J
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
" L; D( V# b2 _( H高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
# c& `* ~8 N3 s8 e高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
0 L4 e# f  L9 ?, r$ {压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致8 Z9 t. }  `6 c
行管负载变化异常造成行管烧毁& {' J+ W* ^7 p. L




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