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标题: 屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修 [打印本页]

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作者: 江西电子维修    时间: 2011-4-28 15:46
标题: 屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

: v6 ]% E7 F' P: O( m屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
4 o3 L3 t" p' `' p根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
5 K! ]* G0 b3 p; |阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
3 S  |$ F7 B9 _+ n4 P$ q& T需要有一定的时间积累。
假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
6 u  K# M- N8 M' N  V; w( m6 h有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
& L# d/ F( G2 L* C1
; \# l; d4 Q7 j  l8 G! n、 电流监测法
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
" F. Y0 V1 s+ m& N" i% e* K. N2、 电压测量法
& G5 s% H7 Y+ g; Z! J4 [6 A3 S( c显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
  y6 z. e" s/ l4 ^# J4 C( f好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
  d. x; ^7 h( h% g# j4 s- E3、 波形检测对比法
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
/ j" Y7 F' Z) }VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
) _$ g$ Z& [3 p! Z9 y) B的
: b: \9 V: E7 j, z  O的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
" E: M0 }; q, V, I8 v- I! U8 x速定位故障点，找出故障原因。
4、 温度测量法
6 [# m3 c( @. |  j& x- b1 A主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
' H. ~  ]/ ]) o70 度以下，基本都可以使用。注意测
个小时以上，行管的温度不上升，保持在
; N! k1 T" X6 q2 B' Z1 T$ B2 S* u量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
时要注意与实际使用环境温度相当。
: ]2 S6 d) c9 Z8 Z5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
  z. [% J0 X; w2 G& k行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
1、 开关电源输出电压偏高
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
% k6 @: u* X2 L5 Z$ S/ e/ x1 [范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
( r7 l2 k5 ?) @电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
& R4 Z1 e9 s5 y# c常。
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
7 g* {- e1 X2 P3 a3 u. @6 {7 R4 G行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
6 d% k; `9 O: _2 g! P" r, y( d$ t热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
# [! t/ w% p7 p穿。
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, G& W. w. O& W7 {4 ]2 S8 p" A& ?、 行频过低
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
% h+ T$ F- w0 _7 J周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
5 {7 |- s$ i$ V( V3 `; s偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
' [% b5 ^% N. q4 @1 h) K: t2 |生，一般不会出现行频过低现象。
$ k, V0 Q, t0 G0 @! Z5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
- D6 k9 [' K/ z- D9 F5 E/ E1 N3 X路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
) W5 @" c5 b) c" a# `; d8 l的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
& h' j. X2 ~) w' i1 n; a解决方法：是将行逆程电容全部换新。
; q. _. @$ y5 g4 m6、 行激励不足
7 w, j* h( b0 s  r1 h$ T0 b假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
, b' ]/ F& u; k, v) h  x" ]2 F. u变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
: }( s+ C. z+ l  d$ G变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
- o8 u* L) D" r5 l' J效造成滤波不良。
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、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
5 @5 B" P: D; u0 m6 O导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
4 V  C2 n) {; A程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
! b. P( H  N8 }+ |1 b) E, @2 O2 t及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
7 A7 a* T, A$ x4 ?7 p6 K  p9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
  ^( a+ ~& y  d4 \' T# E8 A8 I, Z如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
而击穿。
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+ X: L9 X9 c5 D) H5 c6 {/ t此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
8 L/ D! C& ^5 }% h; P压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
流击穿。
  g' j' p) X# \- f! g10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
( ^" Y3 ?/ ]) e6 \% h' U8 I受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
: N/ }2 a; ?7 |: H2 {8 l逆程二极管等引脚虚焊
$ D7 B% h3 i% y# A5 A' w6 Y1 K虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
" }; D  e4 m2 U5 f  u程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
# P3 x8 }# ]" P) A: ^或阻尼电阻的行管
& S/ W+ v# [: X/ |& W我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
. }: q; h6 D+ @+ a2 u$ o# U! }. q高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
! g; |) u" M: Q8 O# X- L# o高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
. O9 F6 B/ k# Y压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
行管负载变化异常造成行管烧毁
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