美丽的网站-英华家电维修论坛

标题: 屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修 [打印本页]
作者: 江西电子维修    时间: 2011-4-28 15:46
标题: 屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

1 K2 S; {. s9 q6 ^1 Q屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修* X. @* f" p% p& _. f2 U$ f/ \. s
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
) S0 ?" C+ t- ^# r. ^! w+ R* j根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
, B- t# Q4 `) m5 h0 M1 U! j7 C行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE+ ]1 |4 g" s9 T# `( o( u3 ?4 B
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
) {2 L5 W2 q! |. s) Y  d* @( @: }) Y需要有一定的时间积累。. x& @, x  X5 i
假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
$ D* e& s, w, F( Z1 A烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没+ G6 k0 {! J( n9 O. L
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
" \: C; O: D5 v% i1 n2 f行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：： 8 A3 q/ z8 k/ k  i, f1 x% a
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：' |( S' c9 p/ Y
1
. h& d. J1 ^% U( x! ~、 电流监测法   i- z7 s* ]! u& J! f! M
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供. v5 c# ?- I' O" \' \) G" s- b* q
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
- j2 F/ x9 M9 r5 Z. b  h7 ]% }2、 电压测量法
. R( R) i) r3 l  @显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几5 t" T: l& @/ r6 ?0 b3 T: z( G
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
" ~% n5 N* z4 W; y假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
' a8 B. r# W, p; L! x6 J/ @, x& r7 o好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。 5 Q0 g" C! ]" j! W
3、 波形检测对比法
" L4 K: C9 j/ n! T; V/ Q) ^6 X行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
: k! r7 s+ R  r/ ~' P: b( M极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
9 @1 Z9 N% d& w2 g# Z  |2 l9 t9 pVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点( K! J( l" W8 Q& }% P8 {
的) d( ?, g, D6 _  [7 p' r6 F- @" h
的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅9 A$ B" U) w3 F6 }- |& A
速定位故障点，找出故障原因。
8 @; L" N+ k' e: H  b0 i4、 温度测量法
  Q+ ?- m8 Z: x主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
0 u, c( \! B  A& E: Z" D70 度以下，基本都可以使用。注意测
6 B# t) B: F0 Z- C5 Q! Y+ @个小时以上，行管的温度不上升，保持在
0 r; R/ D$ X. W8 v' H! r8 Z量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
1 q5 B3 q' a9 p9 T( E9 t时要注意与实际使用环境温度相当。 7 M) T) c( A6 x8 M* |1 `6 Q9 ^
5、 元件替换排除法
0 G' B9 V" q+ X4 w对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。   m  u( k( [* Y) W
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）" a! ~3 f& J( M1 j
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
) }) q3 B! I  w) z' Z* Q, k行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：： & l5 V) Y  ?( [
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：) F* Y7 a; [, |9 q& S6 q6 l( V
1、 开关电源输出电压偏高
/ \/ F* }% x5 _4 O9 k由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
+ e3 M4 m; q# u7 V过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器+ P% x8 X5 c8 j1 j# T
和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
9 _) v% H2 M$ F, U范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
" u; \! ]0 B" Y1 z$ @! G) q2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高 2 {9 a6 i. w5 Z% b
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
  U2 ~2 {9 T2 A- _' Y高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
  n4 M, D% J6 J: E' R4 t1 $ Y2 c' Z! B. T, ]9 [- q
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK 4 V+ k4 q- ~0 l' w- @! W  c4 h4 r
电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
& M% x: L+ x0 s+ _* h还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
' X( t* p) [9 N/ Q9 t常。, n: \) ?- N1 A. k3 s* e
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
4 D- y- S. Q$ `行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
) S9 R2 Q+ W# U& {6 ]! r; ^5 q& Q. N1 \路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
! K" p2 t2 }/ `( \; x8 v较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散# @, A7 C& b8 n( K/ f* a4 i
热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
  `1 I( N) L: _$ X+ I! {1 I, Z穿。' Y' C9 e* e: o8 \
4
" l& v5 B4 h* {$ Y6 \; l、 行频过低
1 r! k0 {+ H. N% x  l9 U/ z- g7 U/ p由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，: g1 j* A. \& H/ r, a
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
. g+ z- z1 R7 ^7 \/ {# M9 H电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于9 K3 c- \3 b5 U0 D) b
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
: q& B  \4 P* k生，一般不会出现行频过低现象。$ C# |$ W2 l  |, D( ]' l& x
5、 行逆程时间过短 , _0 W/ s; S2 z5 m: w
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出8 [. f0 d1 I/ P
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
! N) K4 V& t* j路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只+ A2 w) K0 b0 ^6 E4 ]1 A5 |
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
2 n, b. U4 S; w3 t- n由于逆程电容开路而引起的过压击穿。 % u* r0 m9 ?3 r) x3 Y9 O+ T! J
解决方法：是将行逆程电容全部换新。
  o3 j0 {7 h0 _( B8 J6、 行激励不足
+ k$ n1 @8 x! k3 ?* |1 A6 a4 J6 ^! D假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
. ?' Q! e* ^: J1 A0 r/ f变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流' Z6 q) M2 o, {8 K+ W, D0 F
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦- N$ [( |  J: ^% L- u' G
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则2 }9 b' f8 S& q2 u1 L6 {7 s
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察5 _0 @: L: @* Q  Y( V  U8 I* ]
激励级的波形，可帮助找到故障原因。 : H! @2 E8 ]/ M( l0 D, {
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻+ K5 }+ _4 _* |1 v7 E1 ?/ S0 {
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
3 b1 R( d7 t% q: C变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
) ?$ |) Q0 ~7 k- |效造成滤波不良。 " ^  S3 o$ }1 p/ D3 f& `+ Z
' n6 p( I  L4 }3 `
[NextPage]2 M/ ]4 z- d' e6 l

3 @8 m" T5 {- h、 环境潮湿 ' S, x* j7 a0 b1 N8 V1 i0 L) T
73 u+ Y6 @+ N! N; \: ]% |' [
这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
- t4 l& N$ r" Q' o/ a或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终- D$ }8 q0 ^7 o
导致损坏行管。 $ v- |) t7 V, ~5 A8 _
、 行偏转线圈开路 " L2 s- n. e( R. h
8  i3 x4 W1 M( ^. n3 y
此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
! ]- J6 ]# [1 p5 ~. X5 ]程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈/ V0 u: C5 f$ {1 m
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。 + |/ r' k7 V& w4 Z$ r& b) w
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
, o9 _& g9 }0 T# T* n9 W. a如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流# a  ]" D5 a5 R' P
而击穿。2 M, m/ {" P- i3 ^  _& z
2
' r& z' }; c+ A! b; o徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK + p, ^# @6 I! q! O' ~- v: v& N/ r
此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高$ W' [7 n& I' g  B1 @( u
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过1 i# x1 b5 D2 I4 H* n7 D( k4 p5 q4 }
流击穿。2 O8 U( ~: Z# V  g# s
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
8 n4 o3 n  ?# t/ {3 S3 G6 F; q受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。 4 ^+ W/ [8 I3 N
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，1 {; o; J. N  X3 j. A
逆程二极管等引脚虚焊 ) h4 O$ v  d. c9 w4 V
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆+ f! J  o8 L9 B; k$ I
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
0 ~+ K# C; R) {+ c成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
, i% |' s2 v/ n! h& u6 h: ]" n& D12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
4 h* g# a0 {- G# \0 n; x或阻尼电阻的行管
" ~  ], z1 q& p$ a4 K  E- j+ G我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
. s& x' \5 V& c" Q6 E2 p法不当也会瞬间烧行管。
2 `1 m! @' w" R; C6 n13
) T+ {! e9 I; G+ V6 w, J- G、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
4 O- h6 Y* ]. A2 j, z* _7 R高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。# B7 N! ~, a8 V4 Y% l
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高9 h& Z6 ]9 G3 ~8 S7 \+ K
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
5 w! O2 q: N% ?# D行管负载变化异常造成行管烧毁
/ e! F, C$ f, Y. W( y; Y- m



欢迎光临 美丽的网站-英华家电维修论坛 (http://www.bsss.info/) Powered by Discuz! X3.2