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标题: 屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修 [打印本页]
作者: 江西电子维修    时间: 2011-4-28 15:46
标题: 屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
1 p! X. Q- t8 J7 e2 A4 C! N7 s根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
- ?* m9 P5 C/ x5 k$ _根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：0 S" F8 p# M$ F/ F) D( m
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE+ h# x/ H( H! T# @: t( e
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
$ e% C' T0 x/ Y0 l需要有一定的时间积累。8 ~& R# L  r+ P) \  U9 W; M
假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然' @: T* Y( g5 ]; U6 {/ H
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
( D7 D3 o' {' U  [- _有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。 ! R, ~  r" g) m0 Z
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：： 8 T. B5 A- H( Z2 y: G1 J
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
. e  o: q/ N) q# F. u1  x1 b" n" {; @
、 电流监测法 8 s% I6 y4 }' [2 N& n8 |
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供! T! C. i7 B, w5 M
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
7 i! \: i3 c  I7 ]9 u5 w2 ?) h2、 电压测量法
$ Z+ f, m8 W' C/ i. ?# k显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
5 ]  U* y8 g3 f( \3 P: h种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。 : W8 L/ [/ u/ Y. S4 H
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
: {: Z3 m. U- [( y- A好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
' Y5 E, ]) T/ `+ ]0 D1 J; r3、 波形检测对比法 " d, W0 D& c8 I$ ]  b; ^; I1 R
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
: z1 X% U3 ^$ n9 F. k; u2 J2 N极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
; B  I7 q0 n; ]; l& NVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点& }& {% S! s, d/ ]% O% K; R- A
的
$ V' G8 N% k- k- k的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
; m$ ]5 A# t+ {0 D2 }速定位故障点，找出故障原因。
' g# S6 Z! ?% V# N- D% W% P4、 温度测量法
8 a2 f/ D4 s% J; Z( M主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
3 F  ?+ p$ ]5 _70 度以下，基本都可以使用。注意测
* ]) H' B7 K7 B个小时以上，行管的温度不上升，保持在
+ [+ `2 G0 s3 ~" j量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
7 R* i4 `) A4 C( u) r2 j时要注意与实际使用环境温度相当。
0 l6 M6 g1 a0 W3 h9 c5、 元件替换排除法 " S7 E4 V& V1 ]
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。 / H7 p. [; A  f% w# Y" |
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
. N8 N$ s. B: N& ~  D的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。7 c! F  ~8 i4 \. P8 [6 W
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：： # C& b' o7 M. ?. F: }# U) [* V' ]$ ~* ?
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：7 K- N' P- K3 B8 ~( {6 p
1、 开关电源输出电压偏高
* _: q  p, P& e! f  c/ y% b6 e. o由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
& b8 f; |0 e2 w5 D7 c* k* j! \8 P& s过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
" M/ G2 s; L$ o8 o和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
' D! p9 D$ W8 Y  V4 c+ u$ @6 l范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
$ `8 ^" `! L4 m5 X2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
4 ~- J; s# s/ s正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升3 Y( c. s% J# {6 C# s, {: O/ S  E. }
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时; h4 |7 }* |/ G1 `7 g4 h% x1 k
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徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK ( s/ ~, |+ Y4 b! {5 |) E4 H1 r
电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。 9 t, R3 U! C9 R/ s/ U5 _, X( g: N
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异7 f& f1 t. B: v7 n; S7 l
常。6 L4 S. C2 ?6 X
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
  ~3 v' F) e4 _1 J行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短2 ]% N( f0 ]! d: I
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比2 j5 E& |9 i5 N7 n' O% O
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散) E# i: q1 M- C, P
热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击: l# v5 [3 U9 c4 ?; z. K# z$ W
穿。
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、 行频过低 ; o$ G5 q# ?0 j" I* H1 w
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
. D& |- X( c1 @周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的2 f9 p4 c$ f" a8 U' f
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
; Q! a2 i$ a: B: E+ u% Z! G偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
% a0 R* z/ M- Q! ]" q; U3 V生，一般不会出现行频过低现象。: l3 P( t# Y8 h4 R( ?
5、 行逆程时间过短
' ^8 ]/ a3 Z9 I  r! f在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
2 i) o8 N- |# g$ Y8 E管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开( l7 f' Y3 z/ }* ~; R: |/ b* }$ m
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
2 o7 B; }5 d: q0 }1 ~* T8 f的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是) d  P! L" ]/ M! Z8 x9 g% B- F
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
$ `+ H& t! l9 i8 [& Z4 w' `. X解决方法：是将行逆程电容全部换新。
) P! F+ |1 O7 S" ^+ s6、 行激励不足
0 r% e* Y" C$ ]0 T4 o( H: x假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
7 X- h1 s+ ?) H6 l变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流$ i( d4 I. @' W2 `8 R
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦7 g: f* ~5 I- K( k, k, Y) P) P
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则" m9 Z% g  O: |$ U4 ~  w% x* t
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
- [  T, K, ~) B- \1 w激励级的波形，可帮助找到故障原因。
8 K' O( e5 h2 D) D, r4 B, s造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻! M7 M5 Z, X4 Q3 k; U" e1 P
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
+ B# }5 r4 ?& \# G1 i) Y变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失1 h4 |9 q1 v4 p) ]! e
效造成滤波不良。 # w0 [! c& r5 p: [

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* w; p5 y3 Q, c; W" W$ M
$ a' A# m$ u5 Y" `( |; K: C* d6 i、 环境潮湿 $ Y! V* M! U) Y, z
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这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，$ j" N2 J+ Z2 B7 v; |3 [0 |, a, }
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
, @6 M4 v$ r9 Y/ B导致损坏行管。
; c$ K, h+ j) c3 y8 f# k6 o4 V、 行偏转线圈开路 ) `: P$ c. a0 y0 b# c4 L
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( m- S. l# G9 L$ _- d* A此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆5 y6 t2 u7 @: g; Y- |
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
" h: ~2 B+ ~0 V" w. `" m及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
% n$ C3 C, c8 [4 h. R! V: v9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。 $ ^) s) f( Z! j2 N. X
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
' |. R6 g) i# e( N" e而击穿。
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2 {0 `3 I& M, S# n徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
* I, \% \  E3 \! y6 x此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高) [' Z. }8 {* J# ?
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
3 }( h3 F; I7 G( s. O' x流击穿。, o/ O, L' Y! B, e! ~8 v0 v  E
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。 7 u0 y9 J( M4 H
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
( K) c0 A. P: L1 h# r5 {: j$ N11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，! r0 Z. J0 A2 ]9 F3 ?
逆程二极管等引脚虚焊 1 A! f- A, W8 z+ [0 l% A
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
$ d: W+ n- w8 f3 H) t  ^, |程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
' a" d4 I  M9 f2 r7 C成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
' j  k3 J3 D- K/ @! f12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管5 a7 |  E' L, k. B" P* T0 m
或阻尼电阻的行管 4 v) b3 Y( x6 \, O3 z+ c& {7 t5 S  |
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方" p( B' t6 X& P, Y- }4 _: p: ]
法不当也会瞬间烧行管。
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
  ?/ p* R! k% p5 t0 a" X高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。! v9 B/ i+ [  e8 j6 a5 s' M1 e
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高. B1 ?5 Y6 N2 L) r  f) ?" l" p9 B
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
. |: K+ I2 x7 |$ |) T行管负载变化异常造成行管烧毁. m, l/ r8 }2 b  O( y




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