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标题: 屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修 [打印本页]
作者: 江西电子维修    时间: 2011-4-28 15:46
标题: 屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

" e" I+ e- I3 r2 D  c! j4 T" V屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修0 ?" c) k% n7 [; b9 @% Y
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
' Q! ?( ^: d* P- c根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
2 j. ?( A1 {9 R7 N行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
* T* U( L/ u2 y$ N9 c5 z阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前/ z# G! B. a; ^5 ?7 q4 x
需要有一定的时间积累。
7 [* L; E/ T- I! O假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
" R( {2 O7 v+ u9 p* Z, o烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没" i7 K* u- r! t" p# n$ e5 L
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。 ) M( x( g( y7 V0 s. \" a, R
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：： 6 B' f+ F; K% x) p/ O/ q' H- a) k
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
. B1 q* N% X9 W6 `' m+ a' N6 }1
' k8 {" C1 u) [8 \0 i% h! O1 g、 电流监测法 / d' N8 q. ~% k/ b) m! ~! Q1 w
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
0 k2 T7 V8 N4 ?) e! E电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
) O' Q" v6 `$ L8 ~& @! L2、 电压测量法 / l; U# c: a. \6 w3 a
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
! G. z0 E8 ?: u, l种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。 ; q5 L3 B: s: d5 r& b$ d
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最' I8 I0 l" @) K* N- g) H0 P# e
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。   j. j/ A5 T! e5 s" m3 N9 \+ ^
3、 波形检测对比法 & F; ]: `9 k2 q2 I/ g$ F5 q3 t+ F
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
- |, l" V$ L* g& q1 }5 k1 B1 X极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点. x# c& G& D/ S) B) t5 A9 t. W5 f
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点% K8 |: v7 w8 A  W& F& @$ T
的
& `+ O. ]4 H9 _  N/ ~. M4 G的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅9 \- s! C! C4 m8 l7 R2 V3 B: l/ _  f
速定位故障点，找出故障原因。 / W6 `8 C! p5 U1 y. }4 q
4、 温度测量法
+ M. J6 k& M" ]. z  O% ~+ @主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
2 f7 z. f8 S( X1 I% F! }7 E4 C3 s70 度以下，基本都可以使用。注意测
+ f2 ?9 j4 j6 J7 F2 R! G: w个小时以上，行管的温度不上升，保持在  S. f1 i: s2 I; f+ F# g& H. m
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量# v  f; `7 Z# `, W; L' T
时要注意与实际使用环境温度相当。 ; k+ p* {3 d& C2 k& B  l; C: |
5、 元件替换排除法 0 a4 k4 b' q/ F" \* q
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
5 v7 i; M$ \0 v5 }对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
( @( J9 b" C7 m# C1 ?的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。  N: L) z0 A. X# s" @7 Z2 Q( R
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：： ) |' `9 h4 P) }
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：+ \. m. X: A9 Z* q* c( f
1、 开关电源输出电压偏高
! e: Y" ~3 B/ v( W& v* c1 n3 w# _由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
# g* P1 e' X  p. N" ~- _过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
, ^4 o! m" Q! t  \9 {# j& B和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值  ~  P% ?( M  G3 x# P% P- w8 [+ C
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。 3 S( B( K# J8 k% w1 i, }- O
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高 ; o5 c0 s! L0 D) E6 z3 }
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
  p% G) n( Q' }+ B  e2 c% ~3 q高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时2 Q5 x' o, y6 _8 S. k& f
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徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK ' q6 d5 A4 g/ W# z: y0 k: i8 W1 T' r
电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
! ?& E3 Q/ P8 z/ o1 c' S- s* S还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
! E  i( A# _7 s常。& Q- H9 J- x. J% `3 ?2 U5 h, ?2 y
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路 - U; o( B; t0 _  l# t
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
( ]* |' x* ^+ a  y: w; z+ _8 Y1 R+ M路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
2 r$ Q$ C4 _6 I6 l7 L: b较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散: e9 _) B1 K4 A' q) X. m- _
热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
' ?/ C" }/ k( Z& t  L8 v6 D& n" T穿。
4 F* S7 R+ L3 q5 p4
$ j3 q5 C% O. I- k( J、 行频过低
4 `5 c8 I# l. a- z6 U- \由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
* b, s" D" B1 S4 h6 j4 B5 O周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的0 \! B; @, c6 p+ b4 G' M, {7 w
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
2 H: ?$ O/ B4 n* v偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产4 `) I, C6 X$ a9 V
生，一般不会出现行频过低现象。! [' @8 x4 k0 |/ N
5、 行逆程时间过短
) F1 h/ Y) [( \在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出6 J' H0 M7 H0 \8 \8 p# I
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开3 e7 |8 ~' E+ U5 Q7 m* F
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
( Q, |& o" {* P- C5 K- b5 I的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
4 {1 P. Q, N: I3 e由于逆程电容开路而引起的过压击穿。 # r+ [6 `* @- U; H( G9 m
解决方法：是将行逆程电容全部换新。 + t0 X: S2 `2 D
6、 行激励不足
$ k, |$ F; S9 [假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性2 E% D) `' {2 y; A" [0 [" B: B) I
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流: K; n2 Q7 o' l1 u% e4 \: L' H& F
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
+ d) d# f  u7 }3 s+ P- B9 X. l超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则- ^+ U* c" O( x2 M4 Q# ]# l
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
( a7 o1 j8 u3 Q! P激励级的波形，可帮助找到故障原因。
' r5 m: t0 c( n  r% e+ i! o  J造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻8 h$ ^6 }* w3 I- W# O
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
- n3 q; S: V' K, p变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
7 g, I% R# e6 v% L0 ?4 c8 G$ ]效造成滤波不良。
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[NextPage]
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( b% u. E+ S/ [# @0 |7 r、 环境潮湿 , d. ^! L# a9 [/ S; ]/ z
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( X+ {% k- Q2 v7 z这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，' H  H& P/ m/ n1 @7 {
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终6 Y5 ~8 P- ]* d4 w
导致损坏行管。
5 O9 ?( C; O6 z+ X0 K) e, L6 H2 m、 行偏转线圈开路 1 @0 F4 _9 k+ C4 v6 b- r0 R. {3 }7 P2 A
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆4 i: W, O- l+ K5 B  G  z6 U9 @
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈* k$ a$ t( E% V" X) I2 K# }' E0 u: a( }
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
5 ~% K9 X0 \4 [( [, l2 l9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。 4 i3 S& j( M( s3 ?$ A6 t* M5 f% N
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
0 y! P% n  |3 e6 k而击穿。
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' `- U3 M0 H7 v徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
" w# @, T% e" V* e此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
* z% K0 X" ]% E+ E( }( _压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
. Z/ \4 U/ @8 u; I, B4 h流击穿。
( G$ S! `/ u5 y10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。 9 X! ^/ R3 ?+ z5 ?4 c3 |
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
  O3 z2 x; j8 e; s, E11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
2 M+ G+ e4 M; I9 b6 n9 V逆程二极管等引脚虚焊 2 e: l  |, x- m) m2 d
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
+ w: f; _% a) B8 I3 z( U程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造' c7 _4 i( q2 k# L: O  F1 g' p( Z
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。 3 {( Q$ o: |5 L# t- k
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管2 L) I: P* T( x/ X/ a* q6 Z! l* Y
或阻尼电阻的行管
" I8 R8 c8 S  L" O" g: _我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
+ G2 _* B2 T% e$ P法不当也会瞬间烧行管。
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  y- E9 e9 `3 c: m" ~1 P2 n6 ^、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
) T+ y4 a  t) l. D1 H/ p1 R高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。8 j, W6 A( l& L0 J' z
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高, o9 b2 m8 B7 s9 U2 c7 c$ j
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
" |. C& L$ O2 y行管负载变化异常造成行管烧毁
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