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标题: 屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修 [打印本页]

作者: 江西电子维修    时间: 2011-4-28 15:46
标题: 屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
2 t+ O4 I; i4 P  {# [; N( {: p根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::1、过压击穿 2、过流击穿
1 N5 E" Z8 L+ h, d  d1 G根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::+ D7 }% Y2 s  |
行管损坏后,我们在拆下行管,可以使用万用表测量其静态电阻,假如 CE& o3 m) ?$ J: [* ]. ?: p/ h
阻值在数百欧姆,行管一般是在使用过程中,过流后过热慢慢烧毁,在烧毁之前
+ k2 V1 b% V" x+ k$ b9 a需要有一定的时间积累。# k3 g; H9 s1 g4 O3 r4 A2 s/ g3 d' w
假如 CE阻值在数欧姆,此类情况是行管过压烧毁,多数都是瞬间意外忽然, l- F% a0 d) U; Y) Q5 L
烧毁的,在烧毁之前没有异常征兆,或者是开机即烧行管,或者是使用几天也没0 m* Y' V2 N7 d0 P5 j
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。 3 f* q0 [9 w" o- S( A, f
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法::
# N! i; z; N  Q) w9 T1 t行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法::
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、 电流监测法
2 O- u; Q+ [5 r) ^' H. I检测点:在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处,二次供
9 S8 X1 ?" Y2 V5 I" E0 Z电调整管滤波电容处,行包低级线圈后。
6 L1 |2 l/ J; \2、 电压测量法 2 b4 ^! N0 [- T; G
显示器的行激励供电由于显示器设计不同,有取自 12V, 45V, 80V等几
, r/ a8 K( M! a1 P( H+ ]种,显示器的行管有使用双极型的,也有使用场效应管的。 ( e  ]& m6 p( a: i/ N( Q) v2 r: F
假如不好找对应型号,可以考虑直接使用 IRF630,在代换行激励管后,最
7 [3 [7 f" a5 z/ @2 k& q好使用示波器测量一下波形,同时长时间监测一下行管的温升。
/ n5 t( u" q0 k( M. x( u" Z  ^3、 波形检测对比法 ; k$ R2 ], A. V; H1 W1 X7 `
行场 IC 的 HOUT 端,行激励管的 C 极,行激励变压器的 34 脚,行管的 B* E0 e6 L% w+ |0 h; L
极,行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的,假如某点# ~+ E- p. d2 W- Z) n( b
VPP 值变低或变高,都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
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的波形畸变,也会造成行管过流,长时间使用过热烧毁。通过波形检测,可以迅! Y" Q# k  }/ b" g
速定位故障点,找出故障原因。
) B. Z" o' v& t  L! q0 u4、 温度测量法 : c! A9 ~' s: n1 `
主要用于更换行管后,对行管的温度进行长时间监控,一般行管连续使用两3 l2 D* o$ I) @  m& S3 ]
70 度以下,基本都可以使用。注意测; z" x5 a0 \9 H2 X2 e( d1 F
个小时以上,行管的温度不上升,保持在5 {) `8 U1 G+ w: A: @
量时,要盖上后盖,不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异,要测量
  u2 _  I+ ?# y- W时要注意与实际使用环境温度相当。
3 K2 d/ Y' P! g( |5、 元件替换排除法 * }- R6 J& b; R$ y0 U* T1 m
对于判定行逆程电容容量减小的故障,可以采用电容并联法。 ) n4 M" J: I% M; J8 L* B' r
对于行管发热量大的问题,可以选用几个不同的行管(三代,四代,五代)
3 w% V; ?* G  ?& z的行管进行替换,分别测试行电流大小和发热量,温升最小的选用。$ U- G4 ~/ r+ p: l6 K8 L- @# ~
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类::   n3 L  F6 b! w" D, i3 {. a4 t
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类::
: W# f0 F. b+ D6 L1、 开关电源输出电压偏高
1 Q( J, A. n( P4 d5 J9 F; l由于电源稳压系统出现故障,不能稳压,导致 B 电压上升。假如 B 电压超
  C; _" N7 o0 M过 10%以上,会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路,误差放大器
) }! w8 O( J- g和脉宽控制电路的元件。另外,若电网电压太高,超过了开关电源答应的稳压值1 q  m6 _$ _. |
范围,也会造成开关电源输出电压偏高。 2 |( h% q" r" ~+ z( P. u
2、 二次供电稳压电路异常,导致二次供电过高
. z. N1 u9 \+ r4 G7 l2 C正常情况下,显示器开机时,由于缓启动电路的存在,B+的电压是慢慢升8 @0 p0 Y! s2 h$ k  I+ ^
高,而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏,就会造成开机时, ~1 {7 I7 S9 v( D- H) M
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9 |, T+ _7 ^1 B2 u1 c徐州市菲克斯科技有限公司 QQ:26433849 TANK ' o' T; `) K8 l2 R; r4 z0 k  K
电压立即跳升,同时电压不稳,轻易造成烧行管。
+ V( E! v: ]/ `. W还有,二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏,也会造民二次供电异
! [9 l$ O6 q; L  }常。
' [( t% R; q# Z& m( ~0 _3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
4 ^* }$ f# R0 x6 f9 E) X行偏转线圈奩行输出变压器发热后,因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短' m+ {: ^7 |) E) s
路,假如保护电路性能不佳,则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比  g3 H+ W) L) T8 E& }' u
较,通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管,此时用手摸散
. w- l$ e5 ~- Y6 S' s9 s- q$ m热片的温度较高,则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路,引起行管过流击
6 I( g( V. a% x6 c4 I/ o" H( _穿。: n6 _4 M+ d( T2 c% z7 m
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、 行频过低
) H! H) J; c4 U2 @: l由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比,即行频越低,( `4 _, q9 Z! [7 F2 Z7 F
周期越长,行正程时间相应变长,结果使行偏转电流上升,当超过行管所承受的7 Y9 U. P* L4 ?" Q  l9 {, c
电流最大值时,使用行管烧坏。因此,在调整行频时,应避免使用行频长期处于
4 L& I$ p1 ~* a5 s! c+ @( T9 w% ?偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后,根据显示模式自动切换产
+ c3 G5 H; [$ Q# b" a生,一般不会出现行频过低现象。( Q; \; }  E& p: S4 ~' p
5、 行逆程时间过短
0 }4 }8 ?) e6 C在行逆程期间,会产生很高的反峰脉冲电压,这就要求行逆程电容,行输出2 @# q  k% R1 |
管,阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小,失效或开
% \5 r( I% v: B4 q" O路时,反峰脉冲电压上升,一旦超过行管的耐压值,就会出现行管换一只烧一只
. k* E: q# @7 B2 E" x的结果。此时,迅速用手摸行管的散热片,若温度与未开机前差不多,则说明是
9 Z  }4 V) @% j2 O2 R9 L由于逆程电容开路而引起的过压击穿。 1 s- G% z) ]8 l" T9 A# g' W: t
解决方法:是将行逆程电容全部换新。
0 U2 T- @" z- P# E4 @4 _& x6、 行激励不足 ! p! G* f+ Y7 P5 P4 V1 Q+ ?
假如行激励不足,行管不能迅速饱和,导致行管内阻变大,使用行扫描线性
$ o9 x( L# E& w  L, n变差;假如行激励不足,行管不能迅速地截止,使用行管长时间地处于有电流流
- f* d( F. L  {. P- c' [$ O* `3 e, r过的不正常工作状态,将造成行输出电路的功耗增加,引起行输出管发烫。一旦
) P7 t+ w8 i0 u8 B0 J超过行管功耗的极限值,则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢,有的则
$ z# m3 x( z/ _; S8 ~& w开机就烧行管;有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长,不防用示波器观察
  g* t2 j; X9 Y激励级的波形,可帮助找到故障原因。 4 ]  W$ m$ a( |/ @
造成行激励不足的原因有:行激励管性能不良;行激励变压器的供电电阻阻! `+ l! k- e- H" d, |
值增大;行激励变压器的周围元件有虚焊;行激励变压器低级烧组上的滤波电容
+ [6 I7 |2 D5 }* z' B3 C" R% @变质;行振荡电路的晶振不良;集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失/ `& f* j; \! z5 b1 ^4 Z4 t) C
效造成滤波不良。
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4 d8 r% M$ [6 |, ^[NextPage]
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、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电,或者因散热不良(如将彩电置于柜内,0 V/ {5 @5 K! ^6 j& x. s
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧),行管过热,使其耐压降低,最终6 \1 q5 ?+ N$ E: J9 e1 W. m
导致损坏行管。 2 {9 i% _/ n! ^/ D: U
、 行偏转线圈开路 & \8 M9 N4 S2 j; R
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间,使用行管在逆$ c) ?  |, e  q9 L! C" g
程时间内也短暂导通,导致行管损坏。因此,维修时要特别小心,在行偏转线圈
; X* e7 v" ~4 H: a- B& p及其回路开路的情况下,假如长时间通电检修,是极危险的。
6 u; u* t, ]1 Q9 ]6 i0 A; Z) \  e8 Q9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化,损坏短路等问题。 6 v" J& a- ~; x5 [- J+ `
如 S 校正电容短路,枕校电路元件短路,使行电流大增,造成行管因过流
/ e! r5 y1 ]: }而击穿。
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徐州市菲克斯科技有限公司 QQ:26433849 TANK
% O. }& R. J2 q& u( F9 v! u此外,阻尼二极管开路,自举升压电容短路,高压电泄露(如高压打火,高: n2 l3 l  p* q! I+ f6 @1 l
压线穿孔),行管质量差,显像管内部跳火,AFC 电路故障等,也会造成行管过' ^& q9 D( \4 y1 y" v. I: Q" O$ {- j  ?
流击穿。$ M+ Q1 \) L) j. i5 y2 l9 L
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容,取样电压滤波电容失容。
3 l( K1 v) e! T1 M受四周大功率元件高温烘烤后,电容失容,导致行管击穿。
6 _+ J& ^/ V/ \  I9 J+ Z9 V11、 行包(FBT 回扫变压器)或行中心调整线圈,枕校变压器,行管,
. |9 v5 \+ G! ~) F9 v( q逆程二极管等引脚虚焊
% ^& G8 z+ v2 q( A虚焊是显示器元件损坏大敌,开关电源变压器,电源管,行管,行包,逆
8 `  ~/ q. H8 O" l) Q8 }7 ^4 M程二极管,逆程电容,行中心调整线圈都工作在大电流,高电压环境,虚焊会造
; N6 c/ r" n! H# \" w8 u7 K9 Y成瞬间的接通与截止,尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。 % s* Q6 I4 ?' e
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大,或使用了内置阻尼二极管
- g: Y( M+ ~* o或阻尼电阻的行管 7 X: |7 M. {0 ?- q
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时,也要注意测量方法,假如测量方" Y8 k3 i% Q0 d+ D
法不当也会瞬间烧行管。 * v/ _* B7 B# E( [
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/ V. ?  B; r& J、 高压打火,也是造成行管损坏的一种原因
" x; M% o. Q3 U1 W高压包在使用三到五年后,由于绝缘介质的老化,轻易出现高压打火现象。) Z9 c2 H" P. _+ w. j2 ~$ e
高压打火可能发生在高压包内部,也可能发生在高压包对接地装置,也可能是高7 N) ?" a% b* N( \  X; A
压嘴周围打火,或高压线穿孔,高压打火出现会造成高压不稳,瞬间的放电导致
! ^6 Q0 {5 z2 F3 Y" n行管负载变化异常造成行管烧毁1 T8 A" _+ r7 D7 E0 Y' U+ X, f





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