|
|
! c% p- |: m7 \& R屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修% j5 P4 x4 F. B' B
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿 % @* _" B( N, b
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1 W ?6 |/ A9 v/ F! w* l2 ?
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
( j: \/ h$ q* a5 K阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
7 ~/ s" ]" s/ D, q需要有一定的时间积累。$ d# j3 ` a d* D
假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然) Y. j/ t; z- _. ?
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
0 v5 ?3 l x4 Y4 T* [: t! |有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。 1 J5 B6 ?& P1 E* x) h% @2 w- G6 [
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：： " B- ~& e& B$ x* l/ q
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
4 B% F. B8 Y. s1 ^9 A( C& v: y6 l1
$ y0 y& S7 h5 T/ H D、 电流监测法 + |) E) [. y: C& \, F
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
1 e* V% K) q- N电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
! p) G2 j% K: A! \1 f: v2、 电压测量法
- l; S1 F% \& m% T% J" }显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
% M; m' S4 H5 [% D* ]; Z种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
4 r6 f8 a$ n0 f: ?5 g+ f% ^# k假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最4 k& Z. U+ e) F' y
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
0 _9 f# I7 @$ Y3、 波形检测对比法 - j9 d" u5 a! [8 W( p/ C- C7 V% u
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
4 P" U0 l& ~+ ~极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点/ i! ^) ]9 n5 q
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
* w3 D8 m, B+ r, y% c的
$ q; v/ |* H9 D" I$ E的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅2 V+ E. C4 }3 Y/ c
速定位故障点，找出故障原因。
7 K6 [4 X5 B3 |2 K2 W X4、 温度测量法 $ T" p1 c- a Z, T; k! s7 K2 B1 a
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
6 z" h' b [6 y70 度以下，基本都可以使用。注意测
- ?) W, W0 V3 j# i4 S8 x/ ~* } L个小时以上，行管的温度不上升，保持在8 ], c$ D& a5 G F
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量 ]' R" h5 _( }4 N ^5 Q; B
时要注意与实际使用环境温度相当。
# Y" r* a7 J- h5、 元件替换排除法
# Y4 o+ V; f5 C对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
+ g6 x6 c& r- V对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）" j. @# L5 ^$ j- J
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。& Y; i) p3 B7 V1 W0 B/ v6 Y
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
5 ?& l4 X/ y) D) V% U行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：2 |% V+ K- U2 U8 ?. z
1、 开关电源输出电压偏高 3 u4 O$ [$ z6 m! P' b6 U
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
$ }- F3 G G" a3 X! G* _* P过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器2 `$ t: P7 [. Q$ C& [9 e) h
和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值* B5 ^2 Q4 k8 v6 e1 m# s
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
: L/ P* w# @, w2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
5 |% Q1 B, G2 R& F" E, X- A正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
! U$ L* f; I8 r: ?- W% L高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
; G( H) C+ j, M& A6 ^1
- R- b, K8 q0 l8 i% l; j) Y j5 P徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK 8 u0 k- K D2 m5 Z9 X- G4 t/ j
电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
* ~, {5 f- L; S6 j5 S$ U, h还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
1 A/ w7 K m8 `* I常。8 _# H0 p( K5 v' L) {) x: Y! p0 V
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路 ) }/ ]) Q, u1 {1 s
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
* m5 y: {) a! c4 Z路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
# i; X6 s! S0 }0 e/ i* b7 y较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散7 u6 u3 B+ c+ i6 [7 s
热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击' p, N" i7 w3 {+ J
穿。
3 Y* m; V* P8 m/ X43 S" C( q+ _4 x' f2 ]# }
、 行频过低
; g& m$ ]# A3 s4 z' z1 k O" _由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
( n! A8 h5 O7 a$ G7 U: r% m/ y周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的5 Z" W+ I9 e+ d. o Y! C
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
; d! g1 t: `6 d% b* I: Y偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产% J; p1 t1 F( g1 O1 @8 O6 i9 q
生，一般不会出现行频过低现象。7 L. o# K3 O$ x# c/ t5 o3 M
5、 行逆程时间过短 3 O+ I$ L% z% `# k% ~
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出% T/ I' j; O" Q- J6 w" e
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开0 _! d4 L. b+ T4 i% X/ m
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
" V' W* j! a8 @" U的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
/ R# e+ h. P b& B由于逆程电容开路而引起的过压击穿。 & `& D$ \1 g2 f* Y
解决方法：是将行逆程电容全部换新。
- O$ l& B1 h+ ^- ]2 ?+ v6、 行激励不足 ) X" t9 z3 \1 q' q
假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
1 L% o3 r0 w6 @4 L" [# m, e5 H变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流3 @1 z/ P7 O& Z& X7 D
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
: w: @) S r K超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
- W5 b& T |, T开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察: _, A- J# ?: q
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
! K' f; ?; p$ a# g. k' ]' K造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
2 v2 v$ {& ]' Q; T值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
" i0 Z6 _: x2 D6 R; @0 E, Q变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失% b6 c y2 |7 ]; G6 J
效造成滤波不良。 ' h/ a/ ^' j: E5 S& C
: Z3 D4 }6 L, |7 N% G9 x' v[NextPage] }' ~1 |7 H, @0 H0 q4 B- F
% _4 t/ z+ ^7 w6 v1 ~- c1 c$ S
、 环境潮湿 ( T4 k3 R% U% V2 E5 B3 O
7
3 U" \' X9 z8 Q1 @5 l这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，" j2 t) ^! e* \$ o
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终6 ?8 ~: B! \; c" p
导致损坏行管。 4 @+ H! A: r6 {; A6 }
、 行偏转线圈开路
* I5 s0 F' R% c" z8 ]8 n8 u( a8+ @4 }; P$ ^! Q4 J" ?
此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆- ]( w. Q4 q. \
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈0 O& X3 O: e& v. y9 ]) D
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
6 i! z) y' _) I9 x1 o9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
' {0 a" `2 j4 F3 c5 x+ Y- N如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流# [1 S0 t% @* ]
而击穿。
9 i, ~" x, N+ D3 j2
! J; e/ c( s2 w0 f# N( H徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
$ m: [4 w" C3 G' x( S1 z& {此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
# C. n" j8 U6 `9 a9 f I( l4 f+ q压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
8 Z- Q, C2 w6 n流击穿。4 z7 Q& ^ T u l) g) Q
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。 5 q* Y; M+ C8 e
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
- I; V& L' u1 O& C& N11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，5 p" o! M& |6 |7 H7 o( E; h2 d
逆程二极管等引脚虚焊
5 g* Q$ |9 M, c虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆! T* |% s+ W7 c6 o( M% b
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
: {+ z* a5 j; ^& L成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。 - f; q4 Y% L! W8 [ v
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
' f3 v; x' r0 q" T8 N& H& Q* Z: w% h或阻尼电阻的行管 6 }# s/ p. H6 I7 l; E7 p
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
' m/ }, o8 L1 D! h4 G) Y$ n( u' v/ [法不当也会瞬间烧行管。 . M; o) e0 G# d+ h; b/ L4 W2 E' U
13
- ?5 @8 r% k/ R3 q/ x6 k、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
) A; |5 ~5 P- ?4 e高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。8 Z! n* B+ c. C3 L
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高+ c: m5 R* B8 ?# ^% `
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致! M6 W8 u9 h& z! s; R( V# ^) v
行管负载变化异常造成行管烧毁
. q9 B: P& K! m$ c |
|
/1 
|手机版|粤ICP备13038386号|粤ICP备13038386号|美丽的网站-英华家电维修论坛
( 粤ICP备13038386号 )
站长邮箱 505966338@qq.com
发表于 2011-4-28 15:46:43
QQ好友和群
QQ空间
腾讯微博
腾讯朋友
微信
收藏
分享
支持
反对