屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
) |& f7 S1 {/ p* o+ G) O! U行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
/ Z7 Z1 i. ~( k( R! U5 w' d6 m! a需要有一定的时间积累。
假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
+ W3 p  u) ]  h( g烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
, i/ y7 Y+ ~) y: i  R) \7 ^有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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、 电流监测法
- r/ q) _3 W9 ^% }2 |' P检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
. u3 B' L& C+ z! V; s) w电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
4 z* L$ j: v, ?  R2、 电压测量法
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
- |6 }8 e7 V( w( E  w" n- M' U: s好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
8 b& a" h# O1 u! u/ f( a3、 波形检测对比法
6 U: x( ~. s* [6 |1 k9 @1 G. r行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
2 L" P' N& d0 B' [. LVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
的
的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
; A" e% H% g8 U1 [速定位故障点，找出故障原因。
4、 温度测量法
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
70 度以下，基本都可以使用。注意测
) {( L6 ~  r* r) {- h个小时以上，行管的温度不上升，保持在
# o; k- u/ }$ x" A1 `+ J量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
+ Y, X4 }  a% M) f$ `时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
; e4 F9 I) r- o) D% c1、 开关电源输出电压偏高
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
" o/ ?! Q) s0 L7 Q! K- A过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
2 N* I; ^( f* M/ W* u1 `和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
* v6 E( N- \" F" o8 C2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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( [4 M# v! C9 J  E4 M" _4 `/ t% r1 d5 t徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
; w9 S' L" J5 E. b- O电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
8 O+ O6 x% z" ^# h7 E常。
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
' ~& m4 U2 E6 l! F热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
穿。
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、 行频过低
; Z- R7 ~: s6 L: F8 I8 ^. p由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
; Y: K7 y0 p; e) G$ |周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
( `( L, L6 F& |1 A( R* o5 R' b. v管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
9 X; S6 k: p+ Z: D- V的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
& s8 B1 d$ Z$ h  O, D由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
! q6 H" M7 r$ u  k/ c& u解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
  S& J6 |% Y. f3 [* V! z" ~假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
2 Z1 _7 G/ i, |3 K3 W9 N过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
" V, ^: N9 u+ T# F7 i6 h. F超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
! C8 e5 X1 y; H8 V' o7 h激励级的波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
( K+ P) T- A3 @' g5 o3 P值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
( C% B# I" h; k7 e: E变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
. w! T1 E  A: n! o效造成滤波不良。

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、 环境潮湿
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+ X) k- T9 ^& o% v: W这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
5 l6 h3 m; B0 D- ^2 n  `0 B$ g% L0 a" F4 E导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
: C9 k# V5 d4 |4 U: q% G及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
2 g9 j/ ?* h) i( i$ m$ _9 n' A9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
: G: [( o+ }9 |7 a) _而击穿。
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此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
8 F3 X/ P) c/ [1 p( M压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
流击穿。
3 G' e+ r1 W  X, Z5 r0 h  `, L10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
& S+ a  j1 @6 A0 w% I/ `成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
; i, S4 i# |; c( O- Q12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
' ^$ O. x7 E4 G- `& u或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
9 I6 n, O$ S3 U9 ?' j; e. L7 W法不当也会瞬间烧行管。
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
" b# z# N5 A' T+ E9 p8 i5 o! i( u; x  t高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
) O0 v% n1 V5 v# I, ~压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
3 r7 e  Z& z- I, `) |行管负载变化异常造成行管烧毁