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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修& E% D0 n; P9 L3 ]2 ?, Y
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿 4 Y0 q7 Y `; b8 a9 S' b6 S- D8 r
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
- D6 a8 J/ k3 t/ k行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE# d% p; |4 D0 n( P
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前( u, n# n% ]8 ~. h; e, @4 A
需要有一定的时间积累。
4 z' a5 [- e, X/ B0 ^% w假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
) o% b. s( s* r8 d) C, l, Q* o烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没7 W- x: W( k: V/ A6 }3 g
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。 3 g1 S* ]4 ]1 F; }, w k: b
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
) J% T6 n: E' N行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：& k6 z! k. ?' o# T( R+ y) \; H
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" ?) n! k7 v2 \, u# `" d( e、 电流监测法
4 _% `" \, _8 R" P) m& ?检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
4 G! V9 E1 b' R电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
4 G/ ]8 D" w/ L2、 电压测量法
9 y: d% l7 C7 V( S# Y显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几+ y5 x, M: p+ i/ {; Q2 D: {
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。 & \* Q; r/ e4 `, p, n
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
) Y- c% a: u* [1 |$ R$ f/ c; _好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。 + \" n- S; m$ @* H$ x8 Y( p
3、 波形检测对比法
8 E8 X* I, }& z& ~0 }! j" n0 D0 N行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B( o4 a# e; _: f6 E6 B0 U. D! e
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点, B5 O7 h9 T+ T
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
" ^* S! A/ k& a& {# C, w2 L的1 ]: L+ O& z0 n
的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅; G: N* T4 ?' L6 \/ T+ x
速定位故障点，找出故障原因。 7 h7 l9 s# R0 q* ?" z( j
4、 温度测量法 ' x0 T( a6 N, I
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
# w- W& ^0 E z- {) u* R2 F70 度以下，基本都可以使用。注意测
( [; C9 `# n4 y5 l2 [个小时以上，行管的温度不上升，保持在
8 N' ~1 W! m+ R' E量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量3 t& R( X% r- ]. V! @' g% s* r
时要注意与实际使用环境温度相当。 7 V2 m9 v# @% {# y. G }
5、 元件替换排除法 0 Y7 } j& B3 b$ Y% u
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。 4 C0 Q4 q7 {" _% c- M3 n
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）% ^- X! {" n, t0 j/ V8 @( Z
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
# q9 S; ~0 k4 S4 W+ p行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
0 ?5 E( C: J( k4 C+ d行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：0 E" _# A7 }; n7 S/ f
1、 开关电源输出电压偏高 " {; D! D) m9 ~5 j4 }2 ^+ Q
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超- K7 C. s+ m/ b* t# a3 s; Y
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
6 x1 u3 O0 o1 k/ W7 ?$ U( ] W和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
) H- h( o- U9 B4 ?5 c范围，也会造成开关电源输出电压偏高。 7 Z) F$ Y, V' @1 g0 t
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
0 r) n2 O' C7 } t% H5 k6 M5 f正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升2 _, C0 v# L+ [0 f0 }
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时' R$ ]) w" d' q+ _0 }" j
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5 E& `( E$ ^8 v4 `! f, c% k5 q徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK * w& h, o4 Q& ~! ], Z
电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。 2 @7 J# q. f9 L! z- i
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
# y$ W$ l, w' j) |9 X常。- @) [8 c+ O+ d% c
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路 $ ^. h# K; p) ]2 J' z. ^
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短$ R4 x( S7 P* Z& p9 I. `8 {
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
+ @$ ]2 O& }3 c. j0 y( q4 m/ Y较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散! ~( p. `6 x3 P! ?. \6 ~' `: m
热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击/ }$ i9 G5 K6 t& n- X
穿。% X; `! C3 i$ k3 o2 X# t
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# e7 ~1 B# h6 Q ^# C, j- r、 行频过低
2 K8 W% h% X1 e$ V由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，5 {' v. x9 H& V. v+ p
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的- v1 k/ i& A& s! F
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
8 d% i$ H- s8 v! L; Y$ ~$ n8 Y) C偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
5 @) N5 T. k& U7 F' e' {" |生，一般不会出现行频过低现象。
7 f' G5 a) b0 z0 @3 t: N5、 行逆程时间过短 * p1 d. ^+ U# T \5 d
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
5 B8 o2 C$ B; X9 |6 O' K& ^3 O管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开7 k# z( ]3 ]9 n/ f
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
* E% [0 i9 u6 P$ M的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是4 T3 ?+ ]* d) i* ]
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。 # c1 d% Y# @- V0 c
解决方法：是将行逆程电容全部换新。 8 I: C$ b( L$ Y6 ^
6、 行激励不足 2 d& T2 H. y, `$ W7 b" W/ [
假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性( X3 X2 X- Z/ j5 |6 {9 `
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
1 Z" w5 u$ u! T" }! c1 M过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
2 a0 C. q7 K+ o5 H超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
. Y# ~4 m# L* |6 o5 K开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察 i6 |, P% a9 C6 {, J) _' P
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
6 J: X8 I$ q8 x造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
" q Q4 @6 S7 K+ V% n$ W值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
0 [9 l3 m( |2 y变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失: H4 X" S9 e# T7 q0 t b1 \
效造成滤波不良。 ; p" W9 G! p6 l# `! J
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、 环境潮湿
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! V$ F, Z# D; p+ m2 Q这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，( h- ?2 v7 \, J. Q, A0 L7 n) O
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
3 \% `- o+ H* N3 G导致损坏行管。 " Z7 {1 N2 n+ B
、 行偏转线圈开路 3 {$ l7 p2 A2 ?- c) ~% C4 S: R
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/ p& Y" w7 y% l3 s: o此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆7 L. {( ?7 b: q( F% w4 l/ j
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
: x3 \( U) g& n4 o; g及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。 # q$ g# Z& u% l$ G) L# v& {
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
' h+ [" Y# n; A U, D% L如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
) ]# l9 u9 K+ q0 l% ]而击穿。
W1 L0 f* }. h: Q0 [2 1 A7 v8 g1 N0 `+ ]5 @1 v \
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK / x) N% T2 a' a
此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高+ Q" u* ^& }' d$ y% A" N& p
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过6 ?% W. A* c- F' s0 t/ N
流击穿。$ s" H2 P% P" z, U4 X d+ [2 O
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
j, Z. i; h1 P8 |7 D受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。 $ V- B$ A% f6 P- e8 P/ v
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管， j' ^; I3 {! A
逆程二极管等引脚虚焊 ' |$ R7 ~* I1 ], }) _: ^) }) K
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆( H! h- r! C7 D" P: \
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
, u7 E& @8 b5 l! Y9 r' ]% \成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。 4 Y6 J8 k. L+ Z
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
" _( Z3 ?6 y+ D' m或阻尼电阻的行管
4 A2 G3 G( o% o& \) ?3 a( d我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
" q( A* P) x3 Z+ p法不当也会瞬间烧行管。 , u7 Q, D7 h) U& ?6 p+ e$ Q
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" g" r" `- X* F6 ^; C/ M、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
, X& p. w, }; u( n5 c* i y9 v高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。4 B" [( ^5 X% m; a9 n1 A: A
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高" ]. B% s; V" ^, E: ^6 K4 _2 n
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
; F: b: ?& T, v9 [, x u行管负载变化异常造成行管烧毁
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发表于 2011-4-28 15:46:43
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