屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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' u8 \( H& }" I. m屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
0 ^/ W0 M+ D( R- V/ n6 S+ G/ K根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
- |  T" |! N( ~+ W( `+ _行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
需要有一定的时间积累。
7 L8 k  W. A7 @7 D假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
8 i; Q, Z7 m) w行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
# f' X# j6 m* S. S4 M- @行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
+ \0 t4 D; `; L- V0 V9 h4 x0 _  K0 Z1
. c) X2 e  J2 m' O3 p2 b、 电流监测法
$ [! R' C$ j5 F) ]2 ]/ p0 o. G检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
2、 电压测量法
- K+ h% y0 r+ D7 A1 o: R; j& i显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
# Y' H) x$ r+ }; b7 j假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
7 V1 e# n6 A: }. N8 j4 D: e3、 波形检测对比法
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
, q; p( c% l- R极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
1 D/ V/ z8 f1 d( M# nVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
的
) V+ V  s" a- B9 P5 }, A% J9 v: T的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
速定位故障点，找出故障原因。
4、 温度测量法
9 d( g$ [' h0 P- b1 k* J2 o主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
70 度以下，基本都可以使用。注意测
2 F2 o1 J, K! ]/ D/ U个小时以上，行管的温度不上升，保持在
# b. I# H) X' n* ]3 l量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
. Y6 E1 o  a9 Z# X3 n9 S时要注意与实际使用环境温度相当。
' G/ `6 L! |7 ~3 b5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
3 V8 v9 B5 H' B' Z9 h3 n5 {# u) q# [对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
4 j1 g. R$ Q5 X; _  C( r6 \+ A行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
" m( g$ [8 G3 U5 R1、 开关电源输出电压偏高
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
7 }! p! S% h9 d+ [3 K过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
8 O6 b2 I2 X) s( _. ^( |- ?和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
3 M/ {* V/ m3 d: q/ X6 c2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
9 p/ i4 N* s" V& B8 t9 ?正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
& y4 @+ X; J' E( l' `高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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. o' N' R0 r5 n% z+ C  t徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
0 d2 e2 d- d5 C$ ?# H9 j$ L还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
5 x  Q9 F0 R# B+ _8 |1 G9 W' ?% T常。
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
* w/ K$ K6 i+ r0 x0 n. o# s/ I较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
* {+ o0 i7 g  Y* K( r热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
+ s& J* I2 \4 q% Q9 i穿。
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、 行频过低
( U/ X: f5 {0 U4 G# y; ^' u" C% x由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
  `0 i  u  m: O- _9 e周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
4 ~3 e/ l  e0 R& [& S$ C0 S. F5、 行逆程时间过短
! N7 j$ h) m! w) w! J& j在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
* M( Z- D5 p0 r2 Q% K" m5 {管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
7 u8 }0 T- J" B, E2 y! y' B" R路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
6 q9 p! z/ L( j8 e" Q7 H# }4 {$ k解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
  S# s" @6 ]; F* \! D, H- g7 w假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
0 S$ o" O3 n$ y变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
- @! Y8 U: ~+ [& l; U0 g过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
. q  w4 p5 C5 r激励级的波形，可帮助找到故障原因。
* v# Z. r2 s3 N0 V% G造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
: e" K, I9 y- T+ {值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
; p1 P6 j6 }, m( X5 E! _效造成滤波不良。

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、 环境潮湿
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/ S1 _9 g- ^; H* Q8 F. c% I0 m2 [这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
3 k" n( j9 t. m8 g5 i  u导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
4 \; O* o' w# V7 w. n1 s2 K及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
$ W: o, X2 N: t如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
而击穿。
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此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
# z& J, @% Z( Q6 Q压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
$ ]* V& n2 z0 U流击穿。
3 z, s6 d3 p6 p. D10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
" {  k% ?* J2 ^& y# Q' r法不当也会瞬间烧行管。
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4 ]% F1 Z( Z1 C$ _/ e、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
* e( G8 s7 ?# M% E( l* N$ x' t高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
行管负载变化异常造成行管烧毁