屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
3 r8 k, U. Y/ F6 x& T! y5 B' b" T$ U  o根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
1 i1 D. }3 R% E. X0 i* b行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
8 z" S0 f8 N6 s- w- M) k8 q阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
: J% t' @* F0 y4 L; B需要有一定的时间积累。
假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
/ w- C8 z6 S! B  E, C# o) h; s8 n烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
8 |$ F8 i: D. @" s有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
3 ^6 I+ V8 d0 M行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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$ Z! m% q5 h! c$ W. M# ^+ L、 电流监测法
" O) j5 O$ ^, ]9 c" K检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
& Q; ^3 I' p! o8 Q电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
" e' V6 u% P. ]% S3 k0 b2、 电压测量法
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
+ F( S3 C* _7 n! D( I假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
2 S! e, O/ b+ \. S* `2 d' k9 n) T好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
3 N1 O5 M( M, y7 i3、 波形检测对比法
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
* D5 P! a- Z# p9 {" h6 ?极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
# N2 w( j6 u/ ?# X' j, t, Y4 fVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
  `4 q; j/ z/ q& r* W1 K的
; v8 Q5 |* l) ?7 b6 v7 U( }, b的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
+ i) o( f3 A* D4 z) A; p* x4 l: S% f# W速定位故障点，找出故障原因。
4、 温度测量法
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
8 C. W4 \( l7 }  W' M# M70 度以下，基本都可以使用。注意测
- Z9 C' M5 Q; Z个小时以上，行管的温度不上升，保持在
7 V# _, C9 r8 }量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
% |; v1 y6 {% t. _时要注意与实际使用环境温度相当。
. A5 c3 d$ X) s( i3 W9 W% h& [! [5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
9 N, H, M7 |( R: E/ c, M1 o的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
- Y3 H* f4 v7 _: w/ W行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
& p( z5 M! Q8 f' k- y6 X行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
5 {1 \, Q. Q4 i1、 开关电源输出电压偏高
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
: A, }2 B/ k% o. P和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
8 a- G' D  Z3 T. o- q& k6 F; D正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
$ e% p, |5 c8 r电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
5 m( E: \, c& O( m; ^7 Q& Z还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
: U) a  k, ?# Q% [- v( _0 L1 y较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
, M- ]8 p6 e) B+ F' a热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
9 S/ A$ @0 \+ ~* X7 C$ b穿。
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、 行频过低
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
$ ?0 {7 O- O* ~偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
# x& x9 q2 D7 ^! h+ I5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
- v1 j/ o4 H* a/ G. q! L的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
: V! B1 m4 Q, h2 W6 Q8 n- K* z由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
5 H/ i# O3 L! I0 f/ f7 O解决方法：是将行逆程电容全部换新。
; J7 d! ?+ R4 o9 ]0 _% ?) X6、 行激励不足
假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
# w: K1 v! [! N% Q8 [开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
* D; x. r4 K: N激励级的波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
效造成滤波不良。
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、 环境潮湿
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. o, S; Y" A7 L9 Y3 T( j这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
! ]: j4 R4 ]: x* V或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
2 _4 G/ @3 x5 d导致损坏行管。
- d1 o+ l$ J+ l" o. F0 ~、 行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
而击穿。
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( e. p: r: M, H; J) n" _徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
6 K, {, J, F; L7 g此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
* Y! \: b7 h. g5 S  M: T) u流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
7 L- f# m' W. |+ C) k11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
' q7 L( f4 ^# S, Y逆程二极管等引脚虚焊
+ S6 s- g1 C- y, s- I虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
& y! O8 Y/ H2 c! u7 D3 D6 d+ m) h/ ^7 }- C12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
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0 g3 O, O2 E% w: u  i、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
/ K6 z0 W: r& ^4 I* X9 z行管负载变化异常造成行管烧毁