屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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5 P' G  s5 J7 Y" \) W: ?屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
* [" M' y; R6 t+ |+ E行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
1 M! i, d  ^' o7 B% i; ?+ X' W需要有一定的时间积累。
8 ]3 a4 g7 q  I" t3 m! {* ~假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
1 {! w* p6 ?7 Q5 ^$ @行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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& \# R0 n  p/ w+ W' B. G$ [# Y、 电流监测法
+ r, b- O' q6 X2 ~" u$ y0 K0 ?$ i检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
) ^* f* ]$ X6 @! j5 Q% _2、 电压测量法
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
# y& b, B2 G6 S% M: J" @( Q! K1 X假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
0 ~/ A) w% C  ]% r7 I6 G$ y$ R3、 波形检测对比法
4 V7 ^6 |; e1 F; @- j% V; r: p' f行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
( w0 p3 c# `  T* A- `- T  @2 kVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
( R" w# z. }+ k1 R的
的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
速定位故障点，找出故障原因。
4、 温度测量法
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
  [' e0 K. I/ A/ c3 r# P70 度以下，基本都可以使用。注意测
个小时以上，行管的温度不上升，保持在
2 K! N2 V( w: s5 a% `3 M量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
2 B6 q' V% n+ k8 n. p  `1、 开关电源输出电压偏高
" W* ^: ]; u) c' q6 O由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
/ H7 p# k- z6 _4 T' ?/ _过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
' }% `( @, B9 Y$ q5 K9 v& |! }范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
! {$ V9 k$ g9 G2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
5 t8 U1 Y3 J4 _# ^6 N% k正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
5 w0 z% K2 z; C- t$ D还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
; I/ K& R2 x4 p" P0 O/ v3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
! a8 P, A4 ~5 m$ b' t" ]行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
3 G5 \" E( h! u2 ], l  [较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
% ?$ O0 `% w4 V$ I: Z* X, U" U热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
穿。
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. x5 D9 \0 e. T5 M+ `、 行频过低
5 J! g2 w' W  B6 F) d# D由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
9 T! i0 \9 T; G! k* z周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
& |% b2 `$ I5 d$ X" b& h4 a4 K偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
5 h( o6 ?0 K1 ^* ~2 \' a$ T# q2 J5、 行逆程时间过短
( S% W# k6 d2 W3 |6 D0 s: C/ Y' D# `: \在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
8 x" V1 ^6 ?6 ?4 V$ N9 y; u" l  f3 ?路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
/ K4 x1 \4 @, A" h由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
解决方法：是将行逆程电容全部换新。
% |3 y$ _- z2 i0 }' D, z6、 行激励不足
4 T2 U; d; U" r% H3 }* x* r' @假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
) Y% ~4 m. O, a, X" {激励级的波形，可帮助找到故障原因。
8 C; \2 D  T3 g造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
1 I& Q! v! Y: g: C2 @6 N效造成滤波不良。

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" H$ s7 B; s' e! ]- F$ T、 环境潮湿
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# M* w9 X" E+ ~/ X1 G4 T- P  n这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
导致损坏行管。
' c/ `$ w, x/ {" L2 N、 行偏转线圈开路
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: ~3 r: M0 x2 }/ G4 A此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
而击穿。
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0 l* r5 l$ {) A此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
4 |/ E! E5 d: A, [( h! k$ M& I" l0 ~逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
9 t  D* P/ j  U$ j程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
4 A- h" w& E5 t成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
4 p  V4 e- ^+ ^! S4 q1 P12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
" n2 ?# n* Z# |8 N3 W* U6 a; i" [# m高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
2 @* y1 j8 A* V' @5 q9 ]5 ?压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
/ I7 W5 `2 [- F) A0 d0 z行管负载变化异常造成行管烧毁