屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

江西电子维修

$ G+ z6 _$ j$ V7 z( q屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
; _3 U6 x8 l; t/ t" I根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
9 M. K- K8 W1 n, e, m" |3 g! }- E/ ]( |需要有一定的时间积累。
假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
4 r0 F" K8 {$ L烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
) a) B' t0 o' T+ n0 o有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
) O8 J# X4 R' M8 M: G: U行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
' s8 \9 U% {$ E+ w* K2 F9 R  j! O+ D行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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8 k. {3 `& l8 N8 P、 电流监测法
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
, m: v& Y2 u2 h5 v% Y: V2、 电压测量法
* n; I. \1 ]( z& n4 n显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
3 W( v$ @' X) H; z$ |5 z, N8 p假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
3、 波形检测对比法
/ x& x! k. c3 |4 }$ z' \行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
1 T9 j& ]& N: R, n- f; l/ s8 |极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
7 q3 M$ a: G' D6 ~+ P' t2 XVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
的
的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
, K/ o! y; }! M! l2 ^  e' ~& ^速定位故障点，找出故障原因。
4、 温度测量法
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
70 度以下，基本都可以使用。注意测
, \5 A+ j: X$ k个小时以上，行管的温度不上升，保持在
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
& ~, W7 [% G" z时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
6 W( J, t2 |7 e3 a对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
' T" z3 \3 q# l# z! l  l行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
; B* k' m" D/ x4 `7 T" C& i( r/ _  c行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
# b0 b( w- R* F) c& m1、 开关电源输出电压偏高
* t$ S3 c+ x' j1 T: o由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
9 P7 x  L/ j% A6 z过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
) E8 ~# W$ |, `- o8 U: W( _0 D高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
" Z% s! w3 h( l+ h+ \. j' @电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
8 X( R0 j( i5 M4 L' }3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
- j3 o0 a6 K$ E) t行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
穿。
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9 w' d: w7 f0 H, O, Y* q7 k、 行频过低
# @' v$ h' x2 f3 A; a( C由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
4 m4 s" S* O5 {  Z电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
  X3 W2 I5 o6 D& t$ X4 A$ O6 d偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
& b. V8 ?! r! r) q3 t4 H5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
( C7 \( l; B# C% Y# C4 |管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
) M0 i; `' ]4 N* V. @1 I# h# g5 y的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
% r$ h8 M, v: _由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
: p4 h) F7 S& N. l解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
/ c) H+ j0 Z! Q; Q( \* w) v假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
$ U. |, i( I6 O* H  A3 K变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
) `, L# x" A$ R, _+ S# C+ v过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
/ Q2 r6 ~" ^5 U( }超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
( N! {0 \6 l6 M开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
2 ^4 X  Y# ~3 D: U激励级的波形，可帮助找到故障原因。
4 q0 w; v( P% ^* X, o造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
: ~9 p- _' r2 _; j值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
. v/ k2 O% M. |/ [0 k; J变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
效造成滤波不良。
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' ?9 ^; y8 M) o& \2 }3 j, r) d5 O[NextPage]
7 @1 n0 N  b' |% m3 d4 `6 i& R& }
# i5 Y7 S5 m0 e# b' P0 x2 ^+ M、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
6 V1 C% M* p* O0 b或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
- e$ p$ ^. U; O导致损坏行管。
% w1 q" q8 p0 B0 Q) B、 行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
9 W9 V# W+ P4 u6 a2 Y程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
3 w5 ~7 l; G( U1 A如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
! I3 u. t* z5 ~* E: ^2 C8 i5 Z而击穿。
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: H; J  H  z( b徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
* u' X6 \+ c: _; }5 K此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
流击穿。
: R, A/ Y- O; F" [( v10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
# o9 F& y  U; x) E% Z受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
逆程二极管等引脚虚焊
8 N6 k" B4 Z' n. s2 j% [虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
2 a( p" \: i' G) Q7 f成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
- q/ T( K1 ?$ a9 z' P7 F12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
" T: |+ c; P% C+ Q  R, m或阻尼电阻的行管
; V0 q' U% O% y我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
7 ^2 `) o, S! w4 J  @法不当也会瞬间烧行管。
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
行管负载变化异常造成行管烧毁
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