屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
+ J0 {5 F* C5 x根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
6 J* I3 o1 Q  n1 f需要有一定的时间积累。
' P  @& R/ n& n5 \  e1 s2 P假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
( E( m0 H& |7 `3 w1 w' m行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
) ~, n+ ^) f7 b# L: g" V行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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、 电流监测法
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
5 B( f7 _9 E# C" g: x7 {1 z- T- L电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
2、 电压测量法
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
& E6 r: a6 z" y5 D6 P5 `" v假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
2 D" m5 O5 j2 s' C$ ~! o3、 波形检测对比法
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
, X0 G! @0 V( O! ^. D4 ]; ^VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
5 ]( I. @: ?; ]( d% j的
$ V% j) b  v* C# N* {) @" K的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
# [5 z0 G, {: W3 t, F速定位故障点，找出故障原因。
) f! A' `4 M+ Y$ K4、 温度测量法
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
8 \' D9 J. ?5 H1 v' E( J% T8 K$ M70 度以下，基本都可以使用。注意测
个小时以上，行管的温度不上升，保持在
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
) y: X* `' g# j6 W2 S对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
1 R2 o6 v& H7 l& g! i, f行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
1、 开关电源输出电压偏高
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
* E3 A+ j4 v" }% x$ d5 I过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
) a0 `/ ^1 z# ?' p- v和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
! R8 `. F  [" q2 p6 s8 J( m( w范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
; u  E8 }% r" G5 K2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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' ~8 Q- g/ F9 G( l5 g% a电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
6 i4 z- S0 _4 I; T5 y4 D还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
  A6 e2 a. V: X- C, {- [* Z3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
, a1 b2 C' x! c2 J8 Z# ?2 x- p行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
* Q6 x+ \7 H8 s. U/ Q2 u0 v5 I6 ^路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
. u- F$ M2 T! f! e) T穿。
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0 w) Z  i; a9 S0 `# X6 P、 行频过低
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
) X2 c) t, E5 y: _* {; ?周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
8 C. A0 W. b3 ~! b" _生，一般不会出现行频过低现象。
5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
) n2 _% K% {, P, ~! K: m管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
$ M1 b& _% `, o( w) N路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
# g7 o/ `& L2 u/ f由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
9 |7 ?: e& X7 i, d6 e  W解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
. [" N* \- u' g4 Z4 c$ Y/ K过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
, u" N( O/ T# q" t8 W超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
# I- f# g$ H( X# B- ?' O* F' }激励级的波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
效造成滤波不良。
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4 _* }7 C# E' N# ?7 @- J7 S[NextPage]
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、 环境潮湿
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- D' }8 ]' i/ \( Q- K: p这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
+ }" h$ w* |* O4 J; F  }或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
导致损坏行管。
4 |. o9 v( u. b) X5 @& T、 行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
! u; i" I0 Q# [* m3 m如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
# p/ c) {3 b1 P! g( p' p' n而击穿。
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3 z; \: n5 v) [, O此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
% U0 U' G' G9 f8 V0 E# M& ^; ~  k压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
& a/ }4 s' ?1 K# ]+ c/ h6 b流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
1 E. m5 R* X* c2 h11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
) h4 y$ A, c% t) {( C( ^: \! ]成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
) h' f0 q$ e4 l+ @7 J4 i12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
  O, ]1 z/ `) b0 P或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
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/ K3 i5 G7 N1 e# g- O  q. S. x、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
6 d# j! v) o" I# ?6 z3 `5 q% q压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
0 d3 d# f+ W  _% N, I, @行管负载变化异常造成行管烧毁
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