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: l' z) j# @- A0 [$ L Z& u/ U屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
, N3 }8 P0 \% S1 t根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
! C8 O) W7 C+ ~1 ~- k+ G' w5 T根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
4 Z4 E! G/ r' s/ Y3 K$ Y行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE" B! J# l$ d+ ^& e( [8 \
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前0 \0 v6 N5 H! \7 A* P1 `* r$ G- E
需要有一定的时间积累。
! K/ `1 \# e* L8 M假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
" C: D' ~. ]( O/ A9 ?$ D$ S烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没5 ^; [4 c( l m. G5 f) B
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
+ ^$ z5 {1 M# [5 l1 \* X: f行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：： . o1 h6 t3 k% O7 H% |- r
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
, U+ R- y/ m5 h; G p- u1
; T0 P1 u! E! c! I4 j、 电流监测法 # C, u- n: h9 z) d# L: W
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供6 U$ ?$ W% I/ H5 P" }( N2 x) Q7 Z9 ?% u
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。! L( \& n/ U3 L% Z2 `# y* X# V. m
2、 电压测量法
' H9 S2 Z; g3 a! r显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
- s7 |$ r7 _1 l8 L9 m种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。 ! C( }' N: a. }: k; U
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
- N0 H4 s- x5 |/ e6 g8 W好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。 ! G, A t9 ~5 d5 L5 U3 J2 g! M
3、 波形检测对比法 ; F. l7 k D" V0 ~1 t/ H
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
/ p# q- R* p+ v$ ?- ~* h极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点; Q% e2 `+ z7 v; X, `2 i o( K
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
+ r7 Y. w& s" q7 [0 I' G的
7 l f% L J; W. a# h* `" ]- \的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅' P+ |& V+ ^' L5 l' N
速定位故障点，找出故障原因。
1 ?* X9 f0 T% f; _4、 温度测量法
! ?+ x5 k" D. e* E+ T/ ]# I" @主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两. g" }% K' r: }. U2 Q
70 度以下，基本都可以使用。注意测. C2 V3 d& p- Y9 p" C' y% @
个小时以上，行管的温度不上升，保持在
$ c9 v) O; J A8 r: D1 m量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
; N) }$ c, N) q! t* H时要注意与实际使用环境温度相当。 * _- `; A4 w% ?5 w
5、 元件替换排除法 2 T" Y6 T7 Y6 R- M- s# Q- R# ?
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。 9 j5 \& {4 J/ Y* k" Q, t7 a
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
& c; u' a( R# T的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。) c/ F+ ?# r+ h, O
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
8 F" m7 J5 g p5 e3 t行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
0 v: `0 V" Y& @1、 开关电源输出电压偏高 8 g+ ^& u6 J: ^( z
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
# a+ f1 g; G7 C/ V/ s2 S过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器. u3 i; H7 r/ e
和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值! d0 t* K1 ~! i# v& ~/ x
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。 ) n- K5 S# R# R
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
1 d( _6 p6 K, R9 m3 x `- `正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升2 v6 J; V9 W; V: v$ ^+ u# r8 O/ n
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时7 o, Y: @; q5 r
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徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK 8 w+ v5 Z! r; K; ?7 @3 A6 B
电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
- V: L# o* E ?# x& p. h还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异/ F+ G$ K# D8 H* q
常。6 B! U& \( Y+ i4 W0 S, h Q
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路 X! \) c1 v `/ U
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
6 ~# p( @: n# e) N* K( M路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
$ [ x4 Y# u' S% S2 V. `- z较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散2 Z z6 _/ G+ Q( g2 Y# e% P
热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击# d- \/ E: B# i7 S8 O
穿。4 N; @' S- F8 q6 @4 h/ Z
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、 行频过低
3 z" u7 C& K' q由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
/ J- Y) I7 n" k& g+ Z& A: d周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的3 K+ c* e2 ?$ z. C/ g; W
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
l0 C0 R5 {! O- o1 t* `9 {2 {偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
5 u/ `! q- `- O: _. o生，一般不会出现行频过低现象。 E! g% ^4 b* ~5 C$ P1 E) j8 }' G6 t
5、 行逆程时间过短 , c" d; t: u3 y- K M4 n! ~2 ?$ O9 `9 }
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出8 y* V( K7 @, c" o$ y9 K
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
' c! R% B# |' |/ ]路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只) E2 M2 G. l% B: Y3 G
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是4 H$ k4 F' o) T8 }, V- X3 E
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。 ! t. a2 g! a$ G% _( d l
解决方法：是将行逆程电容全部换新。 6 N' P, l' I! D! n [
6、 行激励不足
, }/ i$ B9 U: i/ y" ~5 M假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
2 p# \! _5 T1 v9 D变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流1 ^0 c( M% P( F) `, x
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
* T2 T% ]( d0 Z超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
" w( ^( B% s- j0 E3 f8 @开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
" Y9 |. L+ o. m N8 `: G2 d2 X3 | G8 u激励级的波形，可帮助找到故障原因。 . y6 L% s0 a% W& O( J- s- d
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
9 ~. _0 A3 y0 M9 G) A值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容+ l$ C. m9 M4 y( }. T+ G! a8 H) |
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
( c' A( d$ o% w' R+ E& F效造成滤波不良。
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7 w* B+ E0 a) n[NextPage]4 S0 K) _1 M D M: F3 c1 D9 R
* ` m/ P m9 k' @+ V# P, @* Z、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
6 D# W/ j7 d' _/ J) ~或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终8 D8 q! |, w& n3 b, j
导致损坏行管。 ' m% e8 [ D2 a1 v9 N5 |6 M" ?; x
、 行偏转线圈开路 7 ^. `* |' x. ~" `+ L2 t; q
8
( I- D3 X' U/ i此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
$ _* e& z; W5 C1 |8 J程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
: U9 S9 J! h8 _7 W及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
) z$ g! w3 w9 ^; {7 B6 B9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
9 e2 n0 Z$ W, k7 I! C如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
! n e0 E8 C- n而击穿。, J* W* ]4 D& _* @" i* N/ C6 _
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% B$ e! F5 ^4 e$ t! E) t2 i此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
8 P. w5 S( \+ M% f; [5 ^压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过5 C* t0 T- m) _' A0 c+ G% X
流击穿。
0 L7 K7 c1 x a9 {10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
9 N3 r1 H* Q1 H: L受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
2 X/ X# T8 ]0 e7 ]* t/ K$ P11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，* ]5 \, ~" k. Q
逆程二极管等引脚虚焊
0 F/ s' _3 P+ M& D$ n; D. E虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆+ r! s$ N0 Q" X0 _) J
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造0 _3 `& ]8 v* _: R9 R/ O) }) J; {
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
5 a) C3 R d# T: k7 f8 h12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管2 l/ g9 u) D6 P$ p3 `7 V. V7 j
或阻尼电阻的行管
# ~1 j( B: _, {. q; A我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
2 ~5 K' ^# H; l# w! d% @法不当也会瞬间烧行管。
5 Y$ g" t0 l, C; e: K4 a/ r13
2 Y. t$ ~# _" @% R、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因 " x' I& n6 M. E1 c! }
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
: _% n# D. @, T高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高) R. Z; M0 u6 F e7 n) Z
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
$ k- \; h( @) F" K1 Z. ]行管负载变化异常造成行管烧毁
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发表于 2011-4-28 15:46:43
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