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# n, m, W, J" ~, o* @屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修# @- T9 B4 D$ v6 V5 j
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::1、过压击穿 2、过流击穿
! @4 Z* {& H) N) W( k5 G( Q根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::
5 ~' K! F- o$ A行管损坏后,我们在拆下行管,可以使用万用表测量其静态电阻,假如 CE: |- W6 U" }# F2 H
阻值在数百欧姆,行管一般是在使用过程中,过流后过热慢慢烧毁,在烧毁之前6 M) D0 ~6 r& ^7 z
需要有一定的时间积累。) V! E% }: Q+ F$ O
假如 CE阻值在数欧姆,此类情况是行管过压烧毁,多数都是瞬间意外忽然
3 j' y. ]) ]( ~( j- \; q烧毁的,在烧毁之前没有异常征兆,或者是开机即烧行管,或者是使用几天也没1 w7 x1 q: v9 A: U( o
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
; \4 h- J4 O% c& a3 ?" a/ }& M行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法::
5 W P: V$ ^) n) B4 j1 C9 Z+ O- c" l行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法::
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、 电流监测法
8 W9 D0 x0 h: y% W检测点:在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处,二次供
3 \/ J. ?$ p4 j3 e6 T/ C# ?电调整管滤波电容处,行包低级线圈后。% c3 a, }' {" v1 R0 W
2、 电压测量法
( I# L* r6 F6 W( l$ ]$ Z) Y3 M& H显示器的行激励供电由于显示器设计不同,有取自 12V, 45V, 80V等几$ D9 z' f& j y$ j: D6 C; Y
种,显示器的行管有使用双极型的,也有使用场效应管的。
" [* O* r* z" Q- @假如不好找对应型号,可以考虑直接使用 IRF630,在代换行激励管后,最! P1 M, }5 h, l7 j2 C
好使用示波器测量一下波形,同时长时间监测一下行管的温升。
1 k; S" m- Q5 E5 i& k6 p8 r6 i3、 波形检测对比法 & W: P& V, K2 k4 L2 p
行场 IC 的 HOUT 端,行激励管的 C 极,行激励变压器的 34 脚,行管的 B
$ n! N' K% l5 L( j极,行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的,假如某点- u% O# j6 l* |
VPP 值变低或变高,都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
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的波形畸变,也会造成行管过流,长时间使用过热烧毁。通过波形检测,可以迅7 V. j% \0 F8 }' r4 ^
速定位故障点,找出故障原因。 . ^ i( a/ G3 `6 i" c' s
4、 温度测量法
}5 c4 ?; ?* a. d& }主要用于更换行管后,对行管的温度进行长时间监控,一般行管连续使用两0 l4 E* T/ G5 s' z8 T5 k
70 度以下,基本都可以使用。注意测
* e/ A# U& F$ w; g1 J个小时以上,行管的温度不上升,保持在
4 o$ s. J# ^. J( p* U量时,要盖上后盖,不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异,要测量6 k: X' M( V& V B. B, t g! r
时要注意与实际使用环境温度相当。
: G9 n. v5 j3 b' U9 v5、 元件替换排除法 & O! q ?2 Q4 N: s. t1 U
对于判定行逆程电容容量减小的故障,可以采用电容并联法。
1 ~2 p$ c# [+ k. u7 B5 H9 a对于行管发热量大的问题,可以选用几个不同的行管(三代,四代,五代)
* s* F% f; D+ H* p, V* F的行管进行替换,分别测试行电流大小和发热量,温升最小的选用。
- t1 o- Z% I1 L行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类:: . F( V( z2 G+ ?, q
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类::
5 T. l' W. j" H& [2 d1、 开关电源输出电压偏高
4 w) S8 T6 ]$ x7 T9 T6 `# W由于电源稳压系统出现故障,不能稳压,导致 B 电压上升。假如 B 电压超
; b( ]' ^3 ]/ \+ a9 {过 10%以上,会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路,误差放大器% N/ k' P; z. o ^6 ]
和脉宽控制电路的元件。另外,若电网电压太高,超过了开关电源答应的稳压值
( ?8 O e! j* ^, c) V& j范围,也会造成开关电源输出电压偏高。 1 H" Q# |: t. P7 i3 q7 Z
2、 二次供电稳压电路异常,导致二次供电过高 8 d( @4 j" @/ G2 n
正常情况下,显示器开机时,由于缓启动电路的存在,B+的电压是慢慢升
. Z7 n8 B: o& B2 T' G( S( z; E( G1 t! `高,而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏,就会造成开机时, ]- j; `8 r1 _: l/ p
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徐州市菲克斯科技有限公司 QQ:26433849 TANK 1 _1 d; z( v; K& X/ ~# N8 P
电压立即跳升,同时电压不稳,轻易造成烧行管。 4 w5 o8 \* ?! r7 u
还有,二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏,也会造民二次供电异) S' E* X% T# \8 K+ I: O# w
常。$ g# ?/ e5 ], ?6 `: F$ ~
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路 % P f- {, {; c+ L- `
行偏转线圈奩行输出变压器发热后,因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短8 [5 T" f' D0 k& @( q5 B
路,假如保护电路性能不佳,则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
$ E0 {$ E* L5 E2 B1 U1 U较,通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管,此时用手摸散; o9 H, o. [9 f! k0 X# Y# P
热片的温度较高,则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路,引起行管过流击4 c+ {6 N$ b0 g2 M
穿。
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0 L7 f8 z& G& l+ t1 ]# i、 行频过低
6 k- L7 {; l9 R8 E; P' H由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比,即行频越低,
0 K4 h7 d, K' F( I7 W周期越长,行正程时间相应变长,结果使行偏转电流上升,当超过行管所承受的
/ s3 p6 m) n1 A/ X. r( X电流最大值时,使用行管烧坏。因此,在调整行频时,应避免使用行频长期处于
7 W6 ~! Q! `% s" q; K: [偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后,根据显示模式自动切换产- }9 p. D5 h) u. N, K- T0 ~
生,一般不会出现行频过低现象。 d1 n& ^2 b2 k& `
5、 行逆程时间过短 4 w( u+ U0 d C8 l) D& m7 m# e
在行逆程期间,会产生很高的反峰脉冲电压,这就要求行逆程电容,行输出
. [$ I: r& W U# _/ v管,阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小,失效或开$ |3 s: {' |1 c/ A5 T; }& J' w. H$ C
路时,反峰脉冲电压上升,一旦超过行管的耐压值,就会出现行管换一只烧一只1 }3 e9 v8 _( B5 y, _2 Q! Q
的结果。此时,迅速用手摸行管的散热片,若温度与未开机前差不多,则说明是
9 \; V! K) V& |由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
- O$ c: }, N" s8 g* n4 u4 F解决方法:是将行逆程电容全部换新。
5 a+ a" u; {3 L6、 行激励不足 Y- a/ j* l; \
假如行激励不足,行管不能迅速饱和,导致行管内阻变大,使用行扫描线性8 V) X6 v- A1 A
变差;假如行激励不足,行管不能迅速地截止,使用行管长时间地处于有电流流
, d' [; {6 z$ Q8 p( y9 `: U6 L过的不正常工作状态,将造成行输出电路的功耗增加,引起行输出管发烫。一旦
. }7 v+ z. t' }超过行管功耗的极限值,则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢,有的则; O% j' b) Y# T: Y8 v0 O
开机就烧行管;有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长,不防用示波器观察6 |; X+ u. J2 S4 n
激励级的波形,可帮助找到故障原因。
% a: C7 @+ {; t; i2 C2 {/ F" K造成行激励不足的原因有:行激励管性能不良;行激励变压器的供电电阻阻& F+ |. ]! k/ f2 F d2 }
值增大;行激励变压器的周围元件有虚焊;行激励变压器低级烧组上的滤波电容
, w& A! B$ J! E% n+ S N+ J3 ?变质;行振荡电路的晶振不良;集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失1 L: \" V5 L" w! S s0 ]
效造成滤波不良。 1 K2 `5 b* a5 I+ z
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[NextPage]
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、 环境潮湿 - |8 ~! u8 v( x) s+ O2 ^# R
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这使用行输出变压器周围元件漏电,或者因散热不良(如将彩电置于柜内,
! r8 H0 f p4 |9 R8 ?或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧),行管过热,使其耐压降低,最终
- W# D% e- W6 A1 I/ k导致损坏行管。
( ~6 |0 O% C3 L" k( }$ x5 ~、 行偏转线圈开路 8 l5 v7 ?1 K, c: }/ j S
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# v) B7 q- m1 m( @8 L" R此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间,使用行管在逆5 M9 Y: U T5 o6 y
程时间内也短暂导通,导致行管损坏。因此,维修时要特别小心,在行偏转线圈
9 H. V6 J# O9 q( u5 ^及其回路开路的情况下,假如长时间通电检修,是极危险的。 . q' N" E- C$ d# S* b5 r+ b. y. s
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化,损坏短路等问题。 , q2 f4 \8 \2 j
如 S 校正电容短路,枕校电路元件短路,使行电流大增,造成行管因过流* ~; C% x' I5 x9 t- J: Q% C i% N: w0 H2 j
而击穿。& @6 @5 `% T; U
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/ f& M' r' H! z1 {3 F! K徐州市菲克斯科技有限公司 QQ:26433849 TANK 9 Z, t; w% Z. c5 u7 Q6 t6 u, ?
此外,阻尼二极管开路,自举升压电容短路,高压电泄露(如高压打火,高
- k# e) z; Y0 G8 n压线穿孔),行管质量差,显像管内部跳火,AFC 电路故障等,也会造成行管过
2 P6 F0 n6 x8 E7 G6 M! E+ E% p0 E; E流击穿。7 T3 y6 X8 m" L1 ] c
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容,取样电压滤波电容失容。 " \* v U8 u: o+ T% ~3 t
受四周大功率元件高温烘烤后,电容失容,导致行管击穿。
2 I' e2 K1 {& W' P& T5 V p4 q11、 行包(FBT 回扫变压器)或行中心调整线圈,枕校变压器,行管,. F7 t# m8 }6 z1 Y1 s# p0 Y8 n, O
逆程二极管等引脚虚焊
1 K/ N' F! h1 l' k" {! y虚焊是显示器元件损坏大敌,开关电源变压器,电源管,行管,行包,逆
+ K- b& |! g" b程二极管,逆程电容,行中心调整线圈都工作在大电流,高电压环境,虚焊会造
7 n1 ?/ R Z* Q2 p6 ^- \成瞬间的接通与截止,尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。 1 m% S. E7 [7 I" z1 e5 V
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大,或使用了内置阻尼二极管6 g; ]0 x/ V# d- `; K; o# v
或阻尼电阻的行管 / O9 s. T7 k/ ^* P1 L" n. q, [! u
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时,也要注意测量方法,假如测量方3 R* D3 I% n5 e* H( B
法不当也会瞬间烧行管。
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、 高压打火,也是造成行管损坏的一种原因 % M! B* | l5 {" E+ d
高压包在使用三到五年后,由于绝缘介质的老化,轻易出现高压打火现象。
2 p0 R5 w' m6 Q$ O高压打火可能发生在高压包内部,也可能发生在高压包对接地装置,也可能是高) w J9 A. _* r8 L0 X) |" g
压嘴周围打火,或高压线穿孔,高压打火出现会造成高压不稳,瞬间的放电导致
) ^6 N$ j7 s' S4 H7 N# P行管负载变化异常造成行管烧毁6 n) x1 g0 d$ Y/ D4 n. ^2 l3 ]8 b8 e
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