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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修) E* s1 z" U2 u8 R! g6 y
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
% I& @: [# M- n/ x2 g) z根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：% y1 j; t" f+ }& X/ Y
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE' }: `, O$ Q) F" Y
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
{! I7 B! ~& V. _1 u: j需要有一定的时间积累。5 J& a) V8 E9 w) ^$ E G# `
假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然) Q) I4 T. ^) t
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没% |( H8 N2 \ [- T* L# A% R, z1 Y3 R
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
; n/ `5 N4 Q* ^7 S行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：： : @0 Y& e+ i+ S
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：' Z8 U1 F8 Y, o4 R
1& C2 {* H; g: Y5 J \/ u
、 电流监测法 $ i9 {& i* l% t/ C- ]& V) R
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
& `# f1 Q) `/ ^! H9 L0 h' o电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。0 ?9 C/ ?- e3 x
2、 电压测量法 2 t b9 j/ s% k. |- P1 b5 ^- n1 _
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
* }6 x& j, m# `( u种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。 - R, a2 T- y6 B$ T/ ~
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最1 K( U- \6 B/ n' u
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。 P7 Y9 Y$ N9 Z( ^- \0 q+ W4 d
3、 波形检测对比法 + n) L Q& p5 |9 [
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
/ d3 p5 w+ K1 B8 Q极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
: R# g6 V A O3 sVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
9 x) h1 q% C- Q4 v的, |6 T7 L1 K0 D; h
的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅" ?8 y7 r, r! p8 `( S1 Q
速定位故障点，找出故障原因。
" ?/ S7 V! d8 v2 w) U4、 温度测量法 , n* B% h3 v6 _! F6 O5 r0 e
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两; U- n7 i* E3 u$ o
70 度以下，基本都可以使用。注意测
' F" V( {1 Q; O' ]8 r+ b个小时以上，行管的温度不上升，保持在
! E- O# W: }( q量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量: G5 }8 e% |. I5 A) j$ P. M
时要注意与实际使用环境温度相当。 2 b' z; ~2 v. \0 R& C( y- M! F4 J
5、 元件替换排除法 % M4 Z+ X& x. \) ~ g0 k2 e5 e+ D# Q
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
) j/ g T& k6 T4 c7 Y7 Q9 ~对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
8 z9 r7 T4 h* m的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
3 w) N/ l- n/ b; a6 x行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：： 9 F- z0 e( _5 z: h
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
& V' e1 w/ T+ h. Z$ u1、 开关电源输出电压偏高
, u5 p3 n" h7 V2 M0 p% g由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
) r3 Q9 Q j5 ]. m5 ~" D( {1 C过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
" o" b6 {; l! w0 g, h; x4 B) J' u6 ]% s和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值' A' {; M/ c" W6 Z$ q
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
. e6 X7 N Y" H2 H" \1 ~2 \) O2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
. Y) z" u# p/ q; U; R, Y! r正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
8 F2 d2 W' o7 Y: e# O高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时. a% N7 I) M7 M3 I
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4 P# d% \6 Q" T6 @' j6 F2 E( Y7 Z电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
7 ?6 D6 |9 c4 q: r6 o, L还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
7 R& u. C# L# I% c常。9 r( v4 J6 |5 C- n- j$ d
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路 / i6 r: z1 q, e6 E) B0 j; ?' Y
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短9 p2 C5 u3 o" V- q5 i G$ ^4 k m
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
/ G: | E3 v) S# B# w4 X5 P! B较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
& f' R |# R; q7 m ]热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
1 X" u' {7 E# J7 v" W$ {& i4 x# V穿。9 l* ?5 a4 e" J, ~ x, \/ l
4) t. Y. \6 q3 V9 h: S( W+ u; }
、 行频过低 8 z8 k% [# p7 Z3 ~& B4 D7 G
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，( m6 D5 K/ C( t9 K! \
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的5 X1 y4 p& R2 F) B0 d1 X5 s% [
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
$ {# u7 D- d# ^偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
$ Z) w" }/ J0 z& J生，一般不会出现行频过低现象。
+ R5 `* a* F) b5 r o# m5、 行逆程时间过短 ' F+ ]( X6 u% _; z
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出* ~$ ?9 g; K6 J: ^( v
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开( l% v) Y6 s' r, p. U3 y; |; B
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
" R9 [0 C) @- V, i) K5 _4 Q0 Y: v的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是+ V' I' |! Y, g' Z. b
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
: q: _$ z- }1 r' o" ]解决方法：是将行逆程电容全部换新。
& O' Q1 N, r/ s( w6、 行激励不足 : p- M* t' v s' k* E4 ~5 X
假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
* ]+ o6 K9 C- x" _/ p& K变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流3 m( @. G" @# v4 X5 ?$ N
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
4 \" S m* D8 u: K( i超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
: A6 w$ Y$ {+ R6 E! c开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察% H+ w6 C4 ?3 o) N
激励级的波形，可帮助找到故障原因。 8 q# L) {2 z6 B) l/ P2 D
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
7 ~! i' \. R* W7 u值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容/ u2 R4 ?4 m, j) u6 M% }
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失" v: E# i% f& ^* w+ J, g$ n( M0 E1 a
效造成滤波不良。 + ~, v/ {# ^& E! o9 W% D! B( r
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、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，8 b0 n+ D8 L. e' _ P
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终2 S: X: d2 H, a
导致损坏行管。
5 O' I( ?- Z1 z' k, W5 e、 行偏转线圈开路 & Z( @: b, J0 j2 S) G6 k# }; W/ w; Y
8( @% K$ U) |3 {, `; r( `
此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆% G: F+ a6 g* W
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
9 h5 u6 B+ z" f! p7 m8 x/ @及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
$ l7 ~; y1 @9 a" r& |" u1 k9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
( Q) I) J- A P, y& S9 T如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流, v" y6 @+ s& `, S
而击穿。
# f% J1 Z3 y2 V- N, j* `# K6 M2 # `. ]6 F! v/ j0 \: j) v. E6 v
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK ; ~0 y- Q- J* v4 L& z8 C) T' s5 q
此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高$ B e. c2 \% w* z
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过$ W( D' P( r5 f
流击穿。
# l* n& |" q6 ?+ Q& m10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
* W: A. E$ K7 }$ {* z, l受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
! u6 n) T. X# ^4 B1 A11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，% V2 |; C9 A' Z; z/ t6 W, X
逆程二极管等引脚虚焊
1 ^+ M' N+ r; F0 [虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆+ o+ h; V; O9 k" A1 I- L
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造) t6 l5 M% t" `
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
$ L+ `, R* A/ [12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管3 z/ P; @5 K9 J5 e7 x# ^
或阻尼电阻的行管
* p: _ G% x: k R5 g/ W" p7 |, P$ R我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方3 ]! G5 F; Y0 E* d7 E
法不当也会瞬间烧行管。
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因 3 I' G( H1 {7 i
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
* E+ p& l" I& i' ~& }/ D: j7 c高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
9 s/ k+ M7 O9 E" z- f! |1 w压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致& \4 M4 [! T, p$ j
行管负载变化异常造成行管烧毁- y H2 u& P6 V9 c# x
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发表于 2011-4-28 15:46:43
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