屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

江西电子维修

屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
# c4 H6 p% f1 ^) m/ M根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
! N7 @! C4 N9 a0 Z/ f4 g需要有一定的时间积累。
假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
1 h% @. p& |' i烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
% s$ h: r* F/ B! s8 e1 P( q  Q有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
& q+ z7 \! d- X' ]% _/ e* ]1
、 电流监测法
* n( B5 w& D+ z! P5 S9 g6 x* ]" Y3 C检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
2、 电压测量法
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
, @; C" W7 Y* y  e% c& ?0 [种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
# ]1 Z8 @9 t0 _8 G假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
8 I; s% V' K- b8 E0 F好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
3、 波形检测对比法
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
的
$ e" P) W4 H9 q# e  V的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
8 I8 k, s7 J! x( v( d) \速定位故障点，找出故障原因。
4、 温度测量法
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
, k: [8 i: ~* [70 度以下，基本都可以使用。注意测
个小时以上，行管的温度不上升，保持在
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
时要注意与实际使用环境温度相当。
6 }( u' M- H& C" L5、 元件替换排除法
( L. v  V% b# T+ |+ ?对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
2 ^. k5 O6 J2 g& [* n对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
. d4 R( p+ v- h! o2 |, N的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
! w1 j' J  i# c# k7 H( Y6 U行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
1 {. D1 \$ r8 u9 F* p行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
1、 开关电源输出电压偏高
' c) Z; W/ B. }由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
8 r" R0 ?3 I; v8 b, i9 P过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
4 B& s5 G  o: \1 t* k和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
1 \7 l" |. a3 u范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
/ Z8 [9 h! A! H! Y6 p. g; {( S高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
0 C# [( O% E' \1
/ {& X" |: r5 @/ N* ~徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
9 R# G+ D- w: j# ^0 Q& r5 l电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
7 _. C$ E' z; a, X% T6 @; j$ `: ^常。
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
* p0 X& d6 v. Z路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
' q& k2 t0 C* s' P较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
穿。
0 F3 B2 ^# S/ h0 V5 X8 a4
8 l) N/ _8 [$ Q. l2 }2 J  K2 t4 o、 行频过低
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
: A% h3 R: O, u9 J% s5 C4 o* J( @周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
+ A6 `- i: ^& c$ P4 H3 X1 o3 o电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
# s! G( }. |8 K2 s6 w; v; O3 p. g偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
. I* i$ k& z) B6 b9 O; [# t5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
8 H5 T  {. Q5 g管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
7 R" h" G# a& _7 I; ^由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
解决方法：是将行逆程电容全部换新。
2 V( }2 x1 c8 A6、 行激励不足
5 Q6 Z6 J  T8 g2 h9 g: m( I假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
) Z2 k1 k. M$ j! O超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
. Q: f% h( j) B& q: P激励级的波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
8 n* N& B5 s* t6 k值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
2 w) V$ |" l1 Z效造成滤波不良。
+ k* m2 o" s- {" Y7 s
' w( z. P1 Z9 g[NextPage]

$ Y; v  h3 ], \+ K4 ^& F、 环境潮湿
: T/ Z: U5 ]& l. J7
这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
) C) {% K* h! X, _导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
* A2 |1 H& {; w) B6 x8
/ _0 V, s% T9 F- r5 P此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
0 J0 j% g) n1 G: o4 ?  U4 L4 t9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
) q( `: u6 R- v" R; u如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
而击穿。
6 i9 G! _4 @& R. h1 S. A6 R0 q! j2
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
2 h6 R* W" ~! [- R" K压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
流击穿。
) h! d3 w( {4 z# `2 @10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
/ i9 i0 V# i* a" B0 Y/ s/ ?受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
- V: h! L& D% }4 w3 [11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
$ p5 |) q1 j8 U$ H9 E* s) d逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
7 I5 e4 j( \* h4 s程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
$ U- L1 Z' R2 |) j2 I$ Q, M2 h12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
或阻尼电阻的行管
7 J! C4 W9 G+ i# f1 g+ ?我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
13
8 H" D' |; s! s' b; E- N3 x" o( _4 ]、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
; R: d+ d; W, R" J! S. ?高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
$ X8 h  F* H) P" X4 d% q压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
行管负载变化异常造成行管烧毁
6 N; ]( s7 b/ D6 ]. p