屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
$ ~, C/ Q# a, M( j+ m' w% U( O根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
' [( b1 S+ C  F# s: {) }. \& [需要有一定的时间积累。
# P4 T$ T4 R! x4 c6 D' {假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
& e& p3 R% R& ]4 ]% v9 {' T行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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、 电流监测法
4 }4 K6 @0 ~+ Q- `) e! w检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
9 O: M+ N6 Z# A- B* T3 N2、 电压测量法
1 W3 J1 R$ `/ @显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
$ |0 |+ e' k; }5 k9 G/ a假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
: |% L: V! n- R' W3、 波形检测对比法
, O- K% A$ \% n) L1 \行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
0 _+ M4 m( Q: Z0 V极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
$ A/ B& g$ e9 bVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
# {& |1 o5 g  G8 `# P的
的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
& L' |7 p5 Q! }+ K! O速定位故障点，找出故障原因。
" u: K. T4 M) t, h9 _4、 温度测量法
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
, \! }8 x* j+ {" L: c70 度以下，基本都可以使用。注意测
1 Z5 B& r: ?% D  E个小时以上，行管的温度不上升，保持在
3 g1 M; [4 ?4 \( y6 [量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
8 l3 @" h' c! q5 `! v- Z" N( T时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
0 ?7 R/ H& h) ]! c  u行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
& W: z8 J0 R1 }3 o# o* X1 S- U6 M  s行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
1、 开关电源输出电压偏高
5 |! S3 e& R) U' i1 q( I由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
$ a8 E  h9 G. q8 @0 w  H1 S. v2 ]和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
7 |& m7 c. y/ Z7 V% H# D) p范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
( B3 U* s0 C" p5 A9 |% Z# {还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
9 h. n, Y( t/ i- J# q+ _& ^' ]) A常。
4 v2 B/ D7 P  \- t% q; G/ n! c3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
% ^/ T( \0 H. f路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
) m; P& x7 z! m# P; o' O' E, }较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
2 a  Y# r, N7 z; G: P热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
穿。
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9 b: n& n+ R: m. D( A" g、 行频过低
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
4 G0 R; L2 I0 J7 {/ G电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
, C3 w2 g7 {( w& u: w$ u% x2 G5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
( e2 l& N2 w0 G% T管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
4 z6 `, ?5 B5 a' Q- \5 A! D路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
2 z$ L9 l! [9 X8 V& i9 h解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
( I# k! L7 m& Q: G/ A. u2 @变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
7 q; E0 }. _  |  @# Y! d+ Y超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
* v, f. c% L* m6 O6 x. ]+ n造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
8 C3 t5 m, H5 C9 F2 ~4 s$ I值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
3 o& l4 S7 w9 R% g变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
效造成滤波不良。
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% P3 H* u& @/ T( c$ G、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
3 m3 S; U- U5 K" g, S- Y8 @2 X及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
  n. k" W) ~! A3 C, q- x/ H: k( R( g如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
而击穿。
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此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
; Y' d7 j  P3 @8 Q7 c逆程二极管等引脚虚焊
' e  m( r7 ], c3 Y, S虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
/ P( g- P5 [/ Z* i程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
4 \) M4 k* [( D, f12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
* \* @5 p+ f% F% ]或阻尼电阻的行管
* u3 d5 Z/ O$ A$ @; d我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
( i* B3 m  a8 W' [7 y) Y法不当也会瞬间烧行管。
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
9 ^; q/ K4 l6 l高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
* v# p5 K& u( `高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
! P: Y7 H! Q7 u3 X$ W压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
& Q$ j7 R2 r: l& i% v3 C行管负载变化异常造成行管烧毁