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; _& m# t* \ x1 M$ M屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修! E9 D4 {( J' @7 w0 z
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
. f, b1 c# d1 Y4 |+ d8 H* z( p根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：; G1 H1 V2 N' ?0 i( I
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE' X- s6 w& r2 E
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
2 }$ B4 f: e5 W! g( L8 o- L需要有一定的时间积累。
) j: M' Q- k! \假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
* y8 U: X6 \0 P: u0 M烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没1 `$ |' _5 o" | L- j- a
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。 . W# p( N# E: r! |8 I- a! H1 U$ F4 _6 O! R
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：： % E* J0 z/ o- l% x. E9 U* B
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：' E' p: F7 _" T- p' E
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% T* G6 X% s9 |% \' M、 电流监测法 ) e' c3 |- S' g% \/ e
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
6 A: Y! U; U# T2 R6 p% V电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。6 m6 Y3 }/ V% @( T7 ]/ L5 w6 c
2、 电压测量法
5 x5 v/ }3 v, _8 L3 F9 h( W显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
h0 s S3 |, M! S1 h种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。 % n/ d% n# I8 W3 y. H0 C0 H; }
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最/ V8 m9 R; J" R! i g
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。 ' {9 _5 m" o: P1 R8 }0 V
3、 波形检测对比法 8 O9 j- A2 s( J" S4 Y) N( |
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
3 l9 [" P2 h" c* c+ p极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
+ S b( m2 m" ~* sVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
8 T" K- ^6 g9 f) T: x' d的
3 ]* }4 k; P+ D( F7 K的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅3 i% R) d b& w' F; n" _; F" n
速定位故障点，找出故障原因。
2 X# `& y$ h) O& w( v0 r4、 温度测量法
' N! g0 G3 P5 a% y8 W' }主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
$ A) l4 B; b8 ]* x7 B70 度以下，基本都可以使用。注意测
# [0 T3 @$ w" L+ Y个小时以上，行管的温度不上升，保持在
" I; ]& \9 C. i7 Q+ ?1 c. C量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量' I4 g1 V" m" s7 q3 z
时要注意与实际使用环境温度相当。
0 t0 L4 z6 C1 t8 @5、 元件替换排除法
G9 j0 n! s* ^5 @) T+ d) D对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
2 X# r' T j* b% L, n. |对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
@; Z! x, ?$ ~# R6 T的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
+ S3 E) G b7 ~+ g. C( z7 c, f行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
, S U& a5 ]$ }3 Z1 [; Z5 Q( `( C行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：' m% w) B: u) O) [% D `& D
1、 开关电源输出电压偏高 3 U, i: i& ~! D8 h5 M
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超& @; C8 y1 S! B! Z, r
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
9 I7 @! y+ `! b4 u和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值( c9 Y* e' \2 ^( d
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
$ Q% T' i) ?3 f7 n9 j/ z [2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高 ; Y+ ^+ N* Q( U
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升1 Y) K5 L! ]+ r' y; k& w
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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2 O! }# D& h7 W3 j徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
( S* n1 K" u+ m6 e+ d电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。 9 B4 r: C1 X) l' y& n4 m
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异5 r' O0 }% o; [$ T3 g, ?
常。
3 p1 Q0 u* e8 F3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
# Y: D& o& P) ^% z/ O- Y, P行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短9 o5 J& g$ [' y! Q
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
5 J. U# R% W: y; {' Y. G较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
/ |/ M6 @: H& }- o热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
9 I/ T& |7 S" L" x G穿。
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、 行频过低
0 z! X% h1 @' e' P! z0 ?由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，5 U" v( n: \" H9 B
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的 q" c, z) W$ M2 l" N* b
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
# E- R" e4 L! I偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产/ k8 k7 X& n4 K9 p: M- I6 ^. N
生，一般不会出现行频过低现象。+ }" d! t- _0 M% E
5、 行逆程时间过短 7 H( |9 {- G* {5 E0 \4 W
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出; R& C6 ?, L* |3 b* g8 p
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开2 Z) T6 a+ K; D; j
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
2 H) j5 y& u O& y7 v* p的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是# I0 _! h/ G- `: ]7 J1 b
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
2 m6 W3 m" h n8 b, h! B$ ]7 h5 c6 ^解决方法：是将行逆程电容全部换新。
' p. y' q9 Q. @% q+ d- |( \6、 行激励不足
$ X$ D; t( X1 h3 R( L8 C, k假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性9 H" x- l/ |8 k( T0 J
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
7 m# o/ }+ l5 `3 b& ~$ G过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦& p6 X: ?) W, t- T8 ]
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
Z( @0 y: a' i0 w开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
/ {2 m5 C* W$ s2 i! O激励级的波形，可帮助找到故障原因。 ; B0 m" W" z3 ]6 u' E
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
/ ~5 p% O/ s/ G T% ^8 ^3 A, w# `' b r值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
# b9 F! x/ \$ K& N变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失- U; P: q1 l& o- S; ~ r t T
效造成滤波不良。
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[NextPage]) L4 n/ X2 p/ A
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、 环境潮湿 6 T* e5 O3 n" A3 s; o5 O
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4 n3 g2 j' d# o这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，: Y r7 U5 H$ y D& [; f
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终: |4 l6 ]# L. S8 }( `. |; f$ o4 J
导致损坏行管。 % K: g; J. _& @: I: O
、 行偏转线圈开路
5 G- Y' l1 |* C3 q7 F$ m$ e6 X+ l8
5 \6 y( m8 x z! s此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
( Z0 F, }) K! m) w: Z) _程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈% A: k% ]+ Q, }, ^' S/ Z! J) N+ J; H
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
" f7 x2 Z# u6 p) u& H9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
/ Z! q( A7 R5 K D V如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流$ z7 e# X( {' Q" w
而击穿。! l4 T( z) |! w
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徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
) E" P( q0 d' _( h& A6 u& ?此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
# E- O1 M! D; \* L" [压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
& @# i+ w+ ?( C9 B0 |5 o流击穿。
: n$ ^+ z. @! U10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
5 @: e$ ~7 H1 `: f受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。 ! R7 [8 i2 d& r" g$ `: I
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，. l# @7 W" O K" i* j
逆程二极管等引脚虚焊 7 D* `' i1 v9 {; p' |2 e
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
2 o0 h" K9 P( c$ Z9 d程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造* o, {% z' ]+ h8 }# x$ t$ p
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
3 i! t1 r" l. m0 H9 v2 [12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管4 T. v( j+ B- ?% m) W* ]
或阻尼电阻的行管 ! g4 [, b0 s% n3 x% y6 d: M/ |
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
. r/ E) { o/ L& ]; u法不当也会瞬间烧行管。 3 c. w8 ?5 {, Y- R8 h# k; ?. c) u: G
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因 % Z9 b$ r7 ^# O m. C
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。' I- m) V; W1 a: U
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高; q- X+ X! B( \3 K
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致* n; x$ n2 i! M8 v& z0 _0 q# u
行管负载变化异常造成行管烧毁* ~$ w3 X) S0 ]' F6 W, ]1 b$ l
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发表于 2011-4-28 15:46:43
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