屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
! n! Y" _& Z; |) H根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
需要有一定的时间积累。
1 d/ n% f8 I- z: p假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
! \2 v2 v, e+ ^% `' W" z- z& C  p烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
  p3 O% r. n: ~. u! e1 v* H行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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! ?8 o4 _+ v! E) O; z5 y# G0 _、 电流监测法
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
/ O0 v9 S8 I- }6 x2 l电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
2、 电压测量法
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
! g% E- ?. P- a5 `0 ?种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
3、 波形检测对比法
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
+ \3 p( o3 o* ]. k' F8 ?/ aVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
的
  G9 O: ?. X. U0 x; M的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
速定位故障点，找出故障原因。
3 ]* {, C5 i2 Z' i8 y3 J8 U7 p5 z4、 温度测量法
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
70 度以下，基本都可以使用。注意测
个小时以上，行管的温度不上升，保持在
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
时要注意与实际使用环境温度相当。
3 i! D  Z: j  n: x: @+ u5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
  g$ U$ @0 c+ h- ]  @9 @: M的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
; T& P8 z# x; w0 m. f行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
) l% y. }4 j& X0 u$ n3 r1、 开关电源输出电压偏高
4 i4 _8 t; m7 b- S4 |由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
9 U" \$ s$ `8 ^/ [- r  s范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
- j" c5 B2 J. m: r4 N0 ?2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
& L. ?/ b: K) }% c  E! W. v6 I正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
1 I+ [0 v% I) I. @% v0 U高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
! s( O! W7 r( ]0 O还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
1 {' P8 {) e! Q: I& ]7 [& z3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
- e; I( d" I# n: w" V/ Y路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
6 ]! {- T! d$ A7 R% Q热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
穿。
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* H% S9 Z1 F0 I. w+ ~、 行频过低
- ?- h9 h3 X0 r  V由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
8 j0 t) N, Z7 K: j# M% I/ ]管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
/ c# \  p  ?  c! C2 T4 d. z7 _  C路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
& ?% F, `* K/ _$ }  {/ D超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
0 n# i  F: A& Z8 b9 B% ~( x2 x开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
, w2 x9 @8 b$ {3 s; ?" G& O: y激励级的波形，可帮助找到故障原因。
) T8 P! Q0 |& o, K) {. X5 R$ o造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
! J9 \. e7 U  f1 {$ X& ~% n9 O变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
1 R4 G- z! r& }' e2 o效造成滤波不良。
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  w# t7 c% n% R' k、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
/ m$ _: ]# D8 r导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
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9 C- O8 e& ]% t# R8 F: W) G此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
" a/ T3 @. V' d; D程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
, Q* A9 N. C3 R. ?5 ]/ @及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
& m4 k$ h" C2 P( @" d/ z# J如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
$ v& K; N2 T" c' C9 B而击穿。
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此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
+ G* {8 c# d' w+ z2 s9 a压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
流击穿。
6 O. d8 B( ~  {" {- `  W& K# B5 @10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
. W( s9 }& o3 y3 j11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
逆程二极管等引脚虚焊
9 y; ^' s9 o7 L  f2 i$ f, o虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
% W0 L! ~9 ?6 A% R2 I! A12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
% v9 f6 @8 x- c6 n+ {& h4 o! @; O或阻尼电阻的行管
0 C8 H3 d( M% O- r. m2 n我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
. r: k, N8 W) N$ ]8 f法不当也会瞬间烧行管。
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
4 r0 A5 A( V( w, n3 l8 ^- Z高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
  m; y1 `6 _* X* R  Y压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
行管负载变化异常造成行管烧毁