屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

江西电子维修

5 g4 a& A: S' L) x: N0 E0 U1 `. C屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
& J: M) G5 Y3 V' X8 C# r+ y行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
* h& c1 D& a) @7 I0 G阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
8 i' H( b9 x: @, v) n需要有一定的时间积累。
假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
$ c/ A+ U, k) w# s5 i' b: {行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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4 m( }5 m( x$ z, z5 P、 电流监测法
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
2、 电压测量法
: F4 f% c) z! I2 e显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
) L3 h  g: ^5 p0 `4 L0 |( p* ^5 e种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
( k& ^) J1 M  y6 `' `7 e假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
6 E: U# g+ \' i3、 波形检测对比法
2 f) N- q# Z* q/ A行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
" Q! m5 Y& ~0 P) K# N' qVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
9 P0 k0 s( K* A& Y: H的
的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
速定位故障点，找出故障原因。
/ m" y  r& A* a/ W# \* l4、 温度测量法
9 Q0 ^9 c" F1 b+ f主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
, M7 l0 t3 T2 @- a70 度以下，基本都可以使用。注意测
个小时以上，行管的温度不上升，保持在
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
, v/ d7 ]* l1 u/ Q/ S/ c: M. B: L4 ~的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
: w# J! N- X6 R行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
3 O3 S( U+ y  d; D行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
& y& c' C. X3 h* X4 V9 {6 x! k1、 开关电源输出电压偏高
. `' E1 C- }* I0 ]# V由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
7 {1 G4 K2 j' P过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
6 f( T2 u8 H2 ~$ l2 l7 d和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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9 F& }7 l. a1 e3 w1 J0 x! P5 ]$ w徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
/ N5 W1 z* N, |& q* e电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
2 g1 A5 x( B- E, D. J# o! i0 w常。
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
& a, y" A& s) O* A行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
9 u( G9 G9 y* \  Y热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
7 S& O& h3 e2 l穿。
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、 行频过低
% ^1 d7 t5 G/ W2 J' d9 x$ \, G由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
  n% ^% F. G% O- @" M" X- q9 \电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
4 p1 v6 [9 \$ h偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
5、 行逆程时间过短
- C' N# X" B4 N% @# v在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
3 s2 b0 T3 q: y9 U/ o管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
+ P. g$ S8 K; G/ r$ o  N路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
" F& H# w% e) u的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
7 v# x1 }, z, t3 I由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
3 l3 x. @0 t: s3 o2 j假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
0 F4 ^8 P- Y# f+ q- j! G激励级的波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
. M* F. y3 |9 |' A值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
" z7 b. G: h- x/ [) h变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
, \0 [0 N0 {5 z7 B+ ^: h1 J效造成滤波不良。
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& z/ [- \, u# P) K8 Y! \. V、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
( m* D1 {' E2 u# H8 h% e# @& g或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
9 T+ g% U9 k* Y: M- o6 [2 j导致损坏行管。
5 Y/ F1 O( X7 a' @、 行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
) Y8 E4 Q3 z# r2 J程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
+ H* z% l- m1 R/ p) w& Z及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
( o9 s8 H6 t3 p5 r$ ?" w. x7 U如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
而击穿。
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5 ?9 {5 v* W$ g# c6 F9 Z) Q( N1 r% n徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
& e& N5 B' m, L  P& Z此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
+ c  d( w" K& ]" E. o压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
9 M- \$ L+ }& q+ A; p$ q逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
3 T3 S9 l2 z/ L/ L6 M+ @8 Z程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
: ~, n4 X( m1 [12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
+ n' h: y: L6 `8 F2 x或阻尼电阻的行管
' K" A7 R% x1 l* t- O) @9 Q7 r- p- G; o0 {我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
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9 K2 m- V. m5 x, u" q' y、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
3 }+ J- F" B: m( f" _4 v高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
7 r$ B/ ], d/ b: y. u- F* X压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
( C" b3 h' i5 h( r- h8 ]行管负载变化异常造成行管烧毁