屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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: q4 |! j: U! |$ e3 @屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
2 Z, f  t; Q2 Z6 R  U1 }3 L7 A行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
需要有一定的时间积累。
1 }2 h0 @  f, ^: d假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
) |  Q4 u. m2 K. \+ {, s0 O( d有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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、 电流监测法
% t- U6 L; N% F% |% q0 d检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
! O% E- I" v( U' N+ M6 A! b2、 电压测量法
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
& W* o% q8 u2 l4 L假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
+ u% @6 v0 G5 i3、 波形检测对比法
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
% _, |) h$ I4 X7 N* i( ?2 A- l/ V( o极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
- W; Q- k7 X4 J$ r+ \: \VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
3 J- l% Q" X3 A8 @3 @* u1 V的
的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
速定位故障点，找出故障原因。
4、 温度测量法
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
* z) P) n1 `5 H: K70 度以下，基本都可以使用。注意测
! I5 f- V$ G- O9 |; `  R* @个小时以上，行管的温度不上升，保持在
! d: V" k0 D8 J8 @6 K. i9 z量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
: F" a  V# m* z; L& ?时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
, x4 J! p$ `6 m" h# a! S对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
( V# q( Z* j6 S8 y' v的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
  M) H! M! ^3 g& {& k行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
1、 开关电源输出电压偏高
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
7 q+ @+ w% M4 ^$ j: Y* I5 ]和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
* T8 u) F3 g$ H, z7 o8 @高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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: T) p* p, F: U电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
% }! g8 S! ~5 W1 z: r) k6 t行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
* i1 q" ]# }# _' K% n热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
穿。
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、 行频过低
" f1 I+ f& x5 _2 `, K$ q7 g( B, n2 \由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
. f9 J' P% @8 [% M周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
( y* }" f; \/ F# |" z4 F' E" a" g, {电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
5、 行逆程时间过短
' f. @! R" j5 y% r2 b9 E在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
, }' Q% u. b+ q, \管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
4 H# t7 j6 N3 j5 M# M1 p路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
/ A$ ~% r7 M" `/ h: C由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
( F  }" C/ Q9 g解决方法：是将行逆程电容全部换新。
! K3 ]1 o, {" u7 b6、 行激励不足
  d% c( l' i4 i/ [9 X假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
6 x6 U7 l2 w, O7 g& p+ U6 v2 f超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
. [1 [+ n" l, T' \6 y开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
, u$ k& ]% T# V效造成滤波不良。
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、 环境潮湿
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: Y- Q3 `' i% Z- M& P( J2 f$ u这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
' k4 S; r" L, p6 o或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
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/ n# {! f, C" P/ u4 Z/ ^) `. _2 x此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
9 H5 _1 ]) [2 w: I! @% y. R程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
, ?* q/ N4 _2 I2 q5 w. {$ U0 X* k及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
& {, v9 W1 B7 u- F9 ~4 F9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
9 g' [; k  U8 ~' @. ?# C而击穿。
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此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
4 b4 `1 z) w) q' r  X受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
  ?6 U1 x; u: e! T8 v" v( e1 u逆程二极管等引脚虚焊
6 C& k8 \+ P6 y- v8 g  R虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
+ D) B, n9 V+ \( s/ B1 }程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
; m: u3 t; d4 W' A- g/ l12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
$ a4 Z" Z& a, e8 z7 Z2 J2 {$ D压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
行管负载变化异常造成行管烧毁
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