屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
' q; R; T8 v. ^4 Y: Y0 u根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
* V" d# ^" O  F) [需要有一定的时间积累。
% l0 |1 c% C# s- b2 z* N假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
% Z  m- x- H8 d5 n& I1 z3 @行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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8 |1 r" ~! B" P2 e; _/ o. q、 电流监测法
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
: c/ A" J, o2 x电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
' J+ \; ]% \1 d$ \2、 电压测量法
" r# G) t& ]5 A; T显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
; [9 Z3 O" o# q. E# Y假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
( E7 ^7 V1 ]/ f2 y+ G3、 波形检测对比法
6 W' o% S9 k# M% N) a行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
& _1 z+ K: p/ l; q1 A极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
的
的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
$ ^: `: ~' m# \+ w' r/ K$ v速定位故障点，找出故障原因。
4、 温度测量法
1 H" M( s' V% T+ N主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
2 ~3 X' N! w, F* r/ D7 G, ]4 }4 r" Y70 度以下，基本都可以使用。注意测
个小时以上，行管的温度不上升，保持在
: B, L6 T7 x) U6 ]量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
9 X6 k) {- C  l  h对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
! M0 O& R" q7 }. e( a: d行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
2 k& G5 H! s2 R1 o, O6 R% H行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
1、 开关电源输出电压偏高
9 a+ j  j4 v  K, l' l由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
. l# _  t* t4 Q5 b. {9 O过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
$ G1 V8 _  l! l1 F范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
! C8 v& ?. g; y* k2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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0 ~: v5 ]  N# N1 {$ N! ~4 E9 A8 Y徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
2 A/ k$ q+ H: W4 v还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
& h8 |4 E( h- J+ p% m' l) d& ^' v9 g常。
: Y6 [7 u( Q: p& j0 M5 q$ F% D3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
9 B' V, z3 N; V' ^5 \6 F" p& o路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
, c0 V7 H6 F- ~2 b) H较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
" v, I! b% w9 \  L& ^2 x穿。
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1 G2 B2 w+ C/ h- u" P、 行频过低
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
2 k/ O" i) x6 Z$ _; @周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
- Z) K/ w4 y! Y% _5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
2 c6 j! e7 \1 b$ P. @. s1 o的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
4 F: F! I' ~4 r解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
& e) N! S7 F6 d- d9 {- T变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
: o+ c  U$ s2 C+ y0 k: u% L过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
" v) y/ ?6 ]2 h# y" e4 [7 M超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
% r$ e# l" `$ v/ t值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
, k8 q/ m2 W! p( j# l变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
: F3 a( R3 _. `效造成滤波不良。
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、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
7 j- V! B: u( k+ ~% ~, m. b  `1 q程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
而击穿。
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此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
2 `# k# S* x9 _, l! \5 @压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
流击穿。
, E# m& E& h1 ]; U10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
# J$ C( s  ?+ ~! d5 k8 V% m" Z' l逆程二极管等引脚虚焊
8 Y0 a/ ^7 y( W+ N虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
9 K( Y; V+ h# n& ~: B. I3 O" Z程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
: G9 w! j5 h1 f" L4 G1 H  V; L9 g; V' M12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
# c; o: g0 w+ r/ n6 g或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
5 ~% q& @) r; H9 \0 v1 ~压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
2 O6 H. H( K$ u: _, k  \6 q行管负载变化异常造成行管烧毁
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