屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
" c- @: p0 ~! Z9 N; N4 ^1 V根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
! `* e+ R6 a  J9 a1 ?行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
) X* N9 P! z& M5 d. _! j2 L, l阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
需要有一定的时间积累。
! O, _! g9 u# u" D3 g假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
- I" [. n% v+ X0 F2 u/ s! y行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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4 F3 I8 t( y$ K& S/ X- A! P、 电流监测法
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
2、 电压测量法
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
: I3 Q4 \) M$ \3 ^种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
! Z3 f) i# E, g% M假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
% @4 s+ L' }6 h$ j7 g6 ?3、 波形检测对比法
4 e/ Y4 D! N. E9 }& _0 Z: b行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
9 M) F( J% C7 C4 {) t0 X极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
5 f/ i% u# g6 VVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
的
  D! z5 S2 m1 a7 I3 ~1 N的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
, d$ t1 e, g3 W1 y/ p/ f" ~速定位故障点，找出故障原因。
5 H0 ^1 V# R' x- H! }4、 温度测量法
2 _0 x4 h0 i1 E主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
+ T; J9 F+ t; j( y' P: s4 R70 度以下，基本都可以使用。注意测
, ?7 Z: u0 O$ ?( D' F0 ]. E5 x1 l个小时以上，行管的温度不上升，保持在
, X7 _8 d, I- z" v) l% w/ U; O量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
0 ?3 ]' p7 v& Y* z% Y( u& n时要注意与实际使用环境温度相当。
& A# r- f! u' ~- p( N5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
; f: W7 P% ~& b/ M5 \2 m( E行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
1、 开关电源输出电压偏高
- C7 l1 P$ P8 b1 \. W% q8 d由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
: i' i( \: \% n7 F! m过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
9 H4 R/ A2 L7 _- P) _和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
. k* y( L3 Y! a4 I( U( _7 j" Z范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
0 ^0 q  }% X9 ?  H常。
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
7 n! N4 C; k3 X, |: ]# O行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
/ D+ H. b) f; m, E- E& w# j路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
1 n3 Q+ z" Q) o( p) Z$ G; L热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
6 I( }  o& e) e9 \7 Q穿。
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* b. `1 L9 C% ?、 行频过低
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
# d$ \/ I& T. H' d' N5 E% y8 n电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
1 P" A3 c  W5 @3 ^+ E偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
) F- m: h* h) f6 N; i; Q- Q7 R/ v. g5、 行逆程时间过短
  _* y+ @7 m1 u在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
* j% n0 D  U0 ~) i4 ^3 E" r管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
* J# {$ i# R" x& ~# b' x1 ~8 X" t路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
: N) p8 ]4 x4 Y& I7 m; y! s( {" J- [的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
* @. V6 D3 x& a4 I: w+ l假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
6 `" r# M2 y0 @# Y; {, _1 z变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
9 f/ w4 @2 l( _- G超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
; w! X: `5 v8 u7 p6 _% c) b开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
0 {/ H& Y  l4 O" G; s( Z. x4 N1 Y- c激励级的波形，可帮助找到故障原因。
( |2 k. z) X# R/ d4 b* C1 h4 s造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
4 E7 T6 g  h; Y+ `3 v0 F/ @4 Z值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
4 f3 O- E( v* `! \变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
效造成滤波不良。
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、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
  y+ i0 S+ Z; n" v5 |或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
. S7 H  e! {3 w* T) Y1 G+ ]导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
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6 |! b1 U! m! w6 l  M) n此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
( T) c6 D' k# O  l! k) g7 l. F% ]程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
# E3 Y' D6 x" k6 }- y9 b; b9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
而击穿。
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此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
$ E6 t* i- l2 h, I. O压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
% x% m4 A) m8 f& U( }流击穿。
! e. ^$ z# K9 g* d' @10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
+ I# u( I6 ~# b逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
# o7 y+ S1 u6 q) @. T" T或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
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- E- t. z4 ]6 g( X2 p. E( A4 O9 V, {% u6 T、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
' F# a0 f0 x' {4 P高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
' ~* E/ g. U% d' W( ~8 B压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
行管负载变化异常造成行管烧毁
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