屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

江西电子维修

/ F/ k- n" `- Q屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
& a0 e; E; v0 o% }( l2 Z" a根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
: o4 M/ s% ]* l, @+ x阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
需要有一定的时间积累。
% v5 _' K* Q7 u( F假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
; O/ P3 x  v) |/ Z; p8 d, h) c有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
7 Y2 E, c- d& E$ p1
、 电流监测法
8 Z: T8 ^1 p3 N9 j检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
: _( r$ p( v9 ?5 U: }% Z5 y2、 电压测量法
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
. f; _2 m8 Y( N3 G3 v) O" ^; d6 O假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
3、 波形检测对比法
% ^/ d& m/ V5 O& ?& L9 J+ j行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
6 J; \; q# S% [极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
6 M, W- ^8 u! x7 tVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
8 O9 }/ x' H4 D5 X8 _! b7 z4 J的
的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
速定位故障点，找出故障原因。
$ A7 l+ e, z9 k' l3 M; P# W4、 温度测量法
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
70 度以下，基本都可以使用。注意测
4 o6 ], {, g2 |# E7 B# v9 V4 i个小时以上，行管的温度不上升，保持在
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
6 e; E3 L, z2 l0 k5 V% U4 n6 ^时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
9 Y$ a- N$ w$ Q; h0 o对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
; n; n3 p% U5 X  ^3 w  g. X行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
' U4 A7 O# I) y8 q3 ~+ V$ T, D1、 开关电源输出电压偏高
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
" {6 _+ Q/ s; S1 j! i和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
8 W! o  I' g+ o: u( f7 w范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
9 R, p' x$ y; _* J+ o" v3 L2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
" C% Q+ I+ p* T& t  L2 c& a3 [; @正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
, n' I7 T3 }/ a1
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
9 N! x3 O5 }6 l2 [/ U# [还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
' o% m; |% _% E8 s常。
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
$ }5 P; F# @+ Y; P9 y# Q热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
穿。
, @7 E% j( ]; p# f4
2 ]- B3 A7 L8 O/ ^3 n* a8 k' ~& _、 行频过低
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
$ n# r- ^7 }  ]" f! A电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
+ O- R, v* @) h# ^, v; u7 X9 U6 `8 T生，一般不会出现行频过低现象。
( `9 g2 ]0 B5 i6 _) }5、 行逆程时间过短
& i) o, B8 g; U: }8 {; V在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
+ f" Y8 A5 B; c, E( W管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
0 y# Q# e/ I+ A' H( O路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
* @; H' f  Y# B9 R$ A0 a' [) b解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
9 D' d# z9 [$ ^  Z假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
; n. r7 w" E: m  e开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
' z3 p! F( U$ d# x3 _9 {) n5 d激励级的波形，可帮助找到故障原因。
$ e/ j" }4 _" c8 ^2 Y$ N造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
效造成滤波不良。

[NextPage]

、 环境潮湿
5 V9 O0 J  z' `) \7
这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
! \$ n) S- L, y3 H, v3 a+ F" [' J& C或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
$ z3 P- A+ l- k( K导致损坏行管。
2 H9 i2 j# u: s  i6 v. [! I; ?) b# }、 行偏转线圈开路
3 P+ z9 [' K3 R3 ]9 {3 c8
8 l9 {. F( i4 ~7 V8 r此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
  F- z! Z8 m# R5 G9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
' U- t: f% I3 Q; P$ _$ k如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
2 R/ m8 u0 Q  K) W3 [( ~( [. B/ c而击穿。
: T! T% M4 m- H2
9 h0 q* Q7 e4 d' q% E1 m/ q徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
5 h. \3 O0 `0 J压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
2 m/ Q8 _- b/ |. S% w( q4 i- B3 K" ~流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
& \6 h" D7 w' l- ?受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
4 k- W: }$ {, ]; X! p/ s% s逆程二极管等引脚虚焊
- y  e" e7 V3 ]# D" m4 {- F虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
4 |% q) L8 y9 H6 h2 I7 o6 {  {程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
2 D% A1 a2 p) V+ E2 j成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
6 p% o$ y) [* H/ p* u12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
# M$ ]* Q$ T& i9 H, u, {或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
# w0 _# _: ~0 r3 x& ]& J13
、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
+ p  \& g. X, ^' }  {压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
' A9 W, R8 f! S行管负载变化异常造成行管烧毁