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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修! w; G, U( h+ N6 v( g% ?
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::1、过压击穿 2、过流击穿
; {& ]9 F: t \1 V; H根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::
; @7 z! T$ @" J" _0 m( L. T行管损坏后,我们在拆下行管,可以使用万用表测量其静态电阻,假如 CE
# S6 b/ y3 U# ^9 ?阻值在数百欧姆,行管一般是在使用过程中,过流后过热慢慢烧毁,在烧毁之前' P# {. y' Y; n) F
需要有一定的时间积累。
- D6 s8 c: o0 g; ~3 d5 s假如 CE阻值在数欧姆,此类情况是行管过压烧毁,多数都是瞬间意外忽然* V! I) r, O' ` P" J" b) I% {
烧毁的,在烧毁之前没有异常征兆,或者是开机即烧行管,或者是使用几天也没( |( A" s3 y7 E$ @1 v3 _
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
4 r( J" Y3 o% ~& r4 I& A+ |行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法:: 6 e+ l1 K% S/ @+ G% e" N5 x
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法::
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、 电流监测法 ; b; I* B: v5 n6 q$ t% O
检测点:在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处,二次供
% T0 y8 J9 e5 J( g: t电调整管滤波电容处,行包低级线圈后。2 |% f( m0 G k) _
2、 电压测量法 / m8 X) Y# T$ Z# |7 W
显示器的行激励供电由于显示器设计不同,有取自 12V, 45V, 80V等几2 Q7 W8 r3 r4 Q6 y- m6 r! H
种,显示器的行管有使用双极型的,也有使用场效应管的。 9 ?! C) k/ C- x7 Q
假如不好找对应型号,可以考虑直接使用 IRF630,在代换行激励管后,最
6 f$ v5 g$ f) E6 o( v好使用示波器测量一下波形,同时长时间监测一下行管的温升。
' N$ f S N- w' `" L3、 波形检测对比法 + |# T: w, |, G! Q% W+ r
行场 IC 的 HOUT 端,行激励管的 C 极,行激励变压器的 34 脚,行管的 B$ C: e( @4 e% A, ]5 I
极,行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的,假如某点
; l4 w' G- X! t m8 w% j( n PVPP 值变低或变高,都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
+ M- S5 f/ k% t的
1 T; l- f& [9 t2 e# O% Y的波形畸变,也会造成行管过流,长时间使用过热烧毁。通过波形检测,可以迅- x1 [5 e- s7 Y" T
速定位故障点,找出故障原因。 . V/ P2 s7 F# K( n; _1 v
4、 温度测量法 6 h& e; R' ?; p- x) x
主要用于更换行管后,对行管的温度进行长时间监控,一般行管连续使用两; Y8 W2 b, X+ e+ i) R$ B
70 度以下,基本都可以使用。注意测
+ z8 ~+ v! _ L) |) n- o个小时以上,行管的温度不上升,保持在: c" E! G- `$ I
量时,要盖上后盖,不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异,要测量/ ] ?+ u: ?4 h' `: I4 H
时要注意与实际使用环境温度相当。
' K! v" n- w8 }' [1 x* }5 u [1 R5、 元件替换排除法 % }& o! S W7 ?* C6 ~- C
对于判定行逆程电容容量减小的故障,可以采用电容并联法。 * I4 j2 [2 n% d q, z8 _
对于行管发热量大的问题,可以选用几个不同的行管(三代,四代,五代)
! S o1 ~$ u% g/ e8 p& q6 @: T的行管进行替换,分别测试行电流大小和发热量,温升最小的选用。# F( R3 C) B. o0 H1 Z" ?' R# @
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类:: $ H8 M/ ^3 g, w
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类::, v1 S( D! ]/ J1 R7 o
1、 开关电源输出电压偏高 0 [7 b" f4 s$ U( }& c: ]$ n
由于电源稳压系统出现故障,不能稳压,导致 B 电压上升。假如 B 电压超
2 H: g. j9 L/ c, T [4 Q过 10%以上,会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路,误差放大器
A& a# \9 \+ R$ {6 r9 o和脉宽控制电路的元件。另外,若电网电压太高,超过了开关电源答应的稳压值
3 h* _$ ^5 M0 K1 J5 s9 H6 O范围,也会造成开关电源输出电压偏高。
" X4 q' n) o8 Y' Z2 [2、 二次供电稳压电路异常,导致二次供电过高 , p4 d& A* ^, |4 N5 S' s. e
正常情况下,显示器开机时,由于缓启动电路的存在,B+的电压是慢慢升# D6 C9 X3 g& r7 @0 @3 Z
高,而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏,就会造成开机时: R, h$ o5 G- v& W, S
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( f9 ]" _ E( Z/ F- L; A电压立即跳升,同时电压不稳,轻易造成烧行管。 4 H) D7 m! N2 t; L% x
还有,二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏,也会造民二次供电异
U u% l2 ?# U( W- z- T ]常。
1 E8 J* C! E- m3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路 ! J7 T( O3 ]! H1 `2 \+ M
行偏转线圈奩行输出变压器发热后,因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
) l- G& ]% F" Z3 V+ h% F6 F3 ^路,假如保护电路性能不佳,则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比( j5 {: ^/ @% C+ G0 V
较,通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管,此时用手摸散
) v& `: \ }: W2 r+ @热片的温度较高,则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路,引起行管过流击
" K* O2 Z, W+ y1 y! q% R/ x. `' X2 ?穿。
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、 行频过低
7 \: O: v- B1 ^* d4 h" T- x" u; X8 O由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比,即行频越低,
8 v7 n- o, T9 _ }% C7 t周期越长,行正程时间相应变长,结果使行偏转电流上升,当超过行管所承受的
1 `6 h" \* c3 B$ r4 `电流最大值时,使用行管烧坏。因此,在调整行频时,应避免使用行频长期处于
% ]2 ~8 `$ Z2 m5 m/ f偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后,根据显示模式自动切换产
1 W% F* ]: Q/ {; V& ?, B生,一般不会出现行频过低现象。
6 m, @; X( u' E# |5、 行逆程时间过短 * R, {: T) u6 P8 ]$ i
在行逆程期间,会产生很高的反峰脉冲电压,这就要求行逆程电容,行输出
. q& D, `, B. r, v! }3 @管,阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小,失效或开, L. o' ~- m5 W0 l. O
路时,反峰脉冲电压上升,一旦超过行管的耐压值,就会出现行管换一只烧一只) V" _' c& Z% q7 k8 C, R5 k
的结果。此时,迅速用手摸行管的散热片,若温度与未开机前差不多,则说明是
, X6 ]* ?0 N1 i! R% w& I u由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
9 }3 U: d. h/ u解决方法:是将行逆程电容全部换新。 3 ^% T/ w* _( h2 K$ J6 |$ f
6、 行激励不足 5 g6 }4 C+ {" f) V3 t2 S
假如行激励不足,行管不能迅速饱和,导致行管内阻变大,使用行扫描线性) a' N! l' B0 V& s+ @; l. V
变差;假如行激励不足,行管不能迅速地截止,使用行管长时间地处于有电流流* F' H7 T+ d1 j9 t8 E8 `& ^9 D
过的不正常工作状态,将造成行输出电路的功耗增加,引起行输出管发烫。一旦
( R/ v, q) B! {6 [" [2 K超过行管功耗的极限值,则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢,有的则# x# g7 }- j T; F- R6 [$ Q
开机就烧行管;有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长,不防用示波器观察. D; `2 W6 k4 u; N4 O3 Z8 K
激励级的波形,可帮助找到故障原因。
$ g/ u' J( Y+ o' G4 @造成行激励不足的原因有:行激励管性能不良;行激励变压器的供电电阻阻
- @' r$ v% A4 k. b8 [; S3 s值增大;行激励变压器的周围元件有虚焊;行激励变压器低级烧组上的滤波电容' _7 Y+ Y* Q+ Y
变质;行振荡电路的晶振不良;集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失0 O) ^6 r, |* i* P- N; X
效造成滤波不良。
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[NextPage]
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、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电,或者因散热不良(如将彩电置于柜内,
" ?& x0 o% M+ O, i9 \或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧),行管过热,使其耐压降低,最终
* G0 A# N( M, U2 U6 M. Z, ^: ~导致损坏行管。
+ z- s) @2 ^9 A3 h& J、 行偏转线圈开路
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' P7 w5 ]! X) J4 h0 |) L+ k此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间,使用行管在逆* B3 G. }3 S: a; a5 z
程时间内也短暂导通,导致行管损坏。因此,维修时要特别小心,在行偏转线圈7 |( d$ @% B# f) x7 Q$ N+ t2 y
及其回路开路的情况下,假如长时间通电检修,是极危险的。 # p# D0 L" I5 h; f4 a7 m
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化,损坏短路等问题。
# g& w, j& P2 i/ x' ^4 r- A如 S 校正电容短路,枕校电路元件短路,使行电流大增,造成行管因过流0 ^+ |: j8 e* H! N% W: ~
而击穿。/ |4 K5 t5 R; A) C3 J0 v) Y
2 2 d+ k5 k2 k7 E2 {+ p5 [8 C. U0 A
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+ r% G% k( u/ x" e7 x a此外,阻尼二极管开路,自举升压电容短路,高压电泄露(如高压打火,高6 K1 R, i$ z: ~; s8 W
压线穿孔),行管质量差,显像管内部跳火,AFC 电路故障等,也会造成行管过3 K: @* N( `) R1 F- V: [
流击穿。0 T! k1 _0 | U0 U E
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容,取样电压滤波电容失容。 1 `- e' b- h* o5 Y$ ?
受四周大功率元件高温烘烤后,电容失容,导致行管击穿。 - E4 h5 ]$ ]. D) Y" [0 I& z# G/ |
11、 行包(FBT 回扫变压器)或行中心调整线圈,枕校变压器,行管,2 f9 r5 ~/ Y1 `. m2 H
逆程二极管等引脚虚焊 ]( f! |4 H. v, |
虚焊是显示器元件损坏大敌,开关电源变压器,电源管,行管,行包,逆+ ~" a5 ]4 {( ~1 `6 M6 I* M
程二极管,逆程电容,行中心调整线圈都工作在大电流,高电压环境,虚焊会造+ E5 X W+ P$ C" c
成瞬间的接通与截止,尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
: P: Y" F3 @& a* s* s12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大,或使用了内置阻尼二极管
# t6 z" b0 g( N% n$ f: B或阻尼电阻的行管
) p7 H) ^ x; w2 K我们在测量行扫描电路的、关键点电压时,也要注意测量方法,假如测量方
7 }0 A. {- M: q3 U3 R! o法不当也会瞬间烧行管。 ! b3 b+ }- L z, ?& ]- J8 Y
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( x0 v" Y( t; Y/ v% j、 高压打火,也是造成行管损坏的一种原因 5 ?1 @; u1 I! M* m
高压包在使用三到五年后,由于绝缘介质的老化,轻易出现高压打火现象。2 S8 P! T& ^, z( {) g$ g# m
高压打火可能发生在高压包内部,也可能发生在高压包对接地装置,也可能是高$ D2 r. O) J% t6 ]: N
压嘴周围打火,或高压线穿孔,高压打火出现会造成高压不稳,瞬间的放电导致* g* _6 F6 F9 c S! R4 [7 u% V
行管负载变化异常造成行管烧毁- h3 p0 G# j. [- k
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