屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

江西电子维修

4 u- d4 q. O7 K屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
8 ]2 w+ X' ^, p根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
) Y# t8 Y7 \7 F! C% ?- y: t) y需要有一定的时间积累。
, d4 K3 {: p9 G* Y, u2 }假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
7 `+ q1 `" p8 n; c4 K烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
! K1 T# N2 d. }( {! U3 F2 {6 k; c行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
* N; N0 K# C1 h1 s7 `; Y* u行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
7 b( _2 F6 ~+ U1
7 C4 \# {" [. T* f6 E、 电流监测法
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
+ B2 w4 i+ O8 ^( ~4 e9 i2、 电压测量法
# ~1 ]; |  d( C; z# W) j$ U显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
8 j" {  L9 K  p9 o: F( Z假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
0 G1 ?, c& z* X3、 波形检测对比法
, m. v8 X; T# O' ]行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
的
的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
- E& V/ L$ w' N) \0 S% M9 N速定位故障点，找出故障原因。
$ J1 @* Q: X& P  o; k( |1 ?4、 温度测量法
5 f% c2 k- K7 Z$ l, E0 a* ^3 @主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
70 度以下，基本都可以使用。注意测
  M0 E+ ~& R1 ]7 L7 [4 F5 }个小时以上，行管的温度不上升，保持在
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
* `) V0 S* ?  g- q5 ~* }时要注意与实际使用环境温度相当。
' x  n: ]+ q; ~$ G' _5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
$ g* P6 I. E& R2 h3 Q+ g的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
5 b. a& T; J- |! ?7 }6 ?( Z  Q7 u1、 开关电源输出电压偏高
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
. x) E4 A) ?4 d& Q* B  Y( ~和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
0 q4 \; `2 R) q* k2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
3 j, Q3 Y8 I6 |高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
, A' C) p" v# B4 O  z$ D  ^1
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
" G; A4 }8 q/ W& S- l4 N行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
7 m% \, E/ h0 j! n路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
& d/ P  ^; z( Z! ]3 U1 P  T较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
穿。
4
4 E+ P: p/ C- d$ l7 p, A、 行频过低
* R) h# a% M+ O! n" Z由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
5、 行逆程时间过短
* S& f) h; e: Y9 C在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
) m5 x: `2 D* b/ k% F9 P5 ~+ s. |由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
0 o" o5 K; D( U) a; X6 B造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
  \& A  p1 d  z8 j. B. n, n值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
; y4 o1 Q+ N, C" V" V+ u变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
  o" R5 W7 I0 c/ E2 F( ?效造成滤波不良。
( u. |' `0 {4 O$ t- a
" S) S# ~" g! y[NextPage]

、 环境潮湿
7
$ E& M+ m" g! Q& L8 T; s! u6 l8 I' {这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
/ }: \5 x( _) X8 W1 N: X- t4 X导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
+ u  M8 m" h; ]. ^4 l8
此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
4 V( W$ }4 [# T: q( a程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
( I$ e! P: w0 v1 [+ T3 f及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
而击穿。
# T* j! V' V2 Q  N! Z1 o1 }; h2
; M' d2 U+ K3 F% Y5 i( h% W: M; T徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
4 t% y$ c5 w/ |. m! ^流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
: R5 t6 G' b3 x/ `9 \4 O. Q逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
/ |, Z+ L4 T# \( `  Q5 L成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
- P9 t6 H* d+ S# w" m5 z12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
( n: @. A( X1 Y& v或阻尼电阻的行管
( W/ ^  N8 Z/ ?5 P) p7 A+ h我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
) k# d2 ^" w3 V0 H  @13
、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
; q- w& {9 l& b+ R$ R  Z# ]! u( u高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
行管负载变化异常造成行管烧毁