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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
- R$ p- P1 d+ O9 A2 L根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::1、过压击穿 2、过流击穿 ' z: _5 j0 ?0 w. T1 h9 Z
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::6 o: \3 Q8 d! z' j; K
行管损坏后,我们在拆下行管,可以使用万用表测量其静态电阻,假如 CE1 N! x! ]0 h0 s' k2 p
阻值在数百欧姆,行管一般是在使用过程中,过流后过热慢慢烧毁,在烧毁之前& g! H( }9 ], O' T
需要有一定的时间积累。% C, M% L- a! S4 D! {1 E* }
假如 CE阻值在数欧姆,此类情况是行管过压烧毁,多数都是瞬间意外忽然8 @3 l5 ~* m6 l; z# U" ?) D
烧毁的,在烧毁之前没有异常征兆,或者是开机即烧行管,或者是使用几天也没* E, @+ L D# R, w, Y q
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
" I' f; b+ t! w- q+ N/ w行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法::
" R$ F; n/ y5 t; `- h/ e9 P" Y行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法::3 Z# {8 y" i! E: g- I( @( L
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9 d8 S# x! M! k7 }$ m、 电流监测法 * L* I0 ?! u" U L
检测点:在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处,二次供
( a9 k9 w$ S& O% U! g; i1 r3 D电调整管滤波电容处,行包低级线圈后。+ J, o, R: e4 }* g% x3 s
2、 电压测量法 3 y+ ^$ F/ w6 w/ V7 H/ e
显示器的行激励供电由于显示器设计不同,有取自 12V, 45V, 80V等几
0 `( W! m5 @! d( W o( W种,显示器的行管有使用双极型的,也有使用场效应管的。
, w C0 ~" F9 z0 j% b假如不好找对应型号,可以考虑直接使用 IRF630,在代换行激励管后,最
% r- j/ q2 P1 ^好使用示波器测量一下波形,同时长时间监测一下行管的温升。 g: L! k0 o" Y$ L
3、 波形检测对比法
% C$ Q% G) b0 b& ?# `. S行场 IC 的 HOUT 端,行激励管的 C 极,行激励变压器的 34 脚,行管的 B* ?+ U- }- c( g5 \& s$ y+ d. g
极,行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的,假如某点- V" Q- m1 v$ W4 c2 f! k& d8 }4 T
VPP 值变低或变高,都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
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的波形畸变,也会造成行管过流,长时间使用过热烧毁。通过波形检测,可以迅
1 h/ P, y# h! s1 N2 E# ~# G速定位故障点,找出故障原因。
9 Z/ n% P+ a( n: H5 ~ t4、 温度测量法 % R2 ]7 |' H- k2 ^7 f' b
主要用于更换行管后,对行管的温度进行长时间监控,一般行管连续使用两6 w2 G% Z+ L; l. d& y
70 度以下,基本都可以使用。注意测' Y: n7 E1 H3 K) d+ N+ q
个小时以上,行管的温度不上升,保持在! e. x# v& D* D& L7 K) k
量时,要盖上后盖,不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异,要测量# f$ W0 W- v8 N6 t9 l% o' ?* B
时要注意与实际使用环境温度相当。 ( T" S% f; _- G" T! j: ]
5、 元件替换排除法 7 @! A' T. [4 U$ R
对于判定行逆程电容容量减小的故障,可以采用电容并联法。 % [ z: [. P y+ \! a+ s
对于行管发热量大的问题,可以选用几个不同的行管(三代,四代,五代)3 Q8 ^, ~9 ^; n8 Z0 I& L+ Q7 p) U
的行管进行替换,分别测试行电流大小和发热量,温升最小的选用。
+ p; c) l* w5 Q# l行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类:: 1 }) R- E7 T, B, A. L4 d
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类::5 m6 l3 L& b; s3 ?- A
1、 开关电源输出电压偏高
+ F2 T! i; i; \, r/ N0 H) X由于电源稳压系统出现故障,不能稳压,导致 B 电压上升。假如 B 电压超
% e3 W' k- H }6 G. N8 |3 u* g过 10%以上,会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路,误差放大器( O# q Q+ m8 R; m8 @" y
和脉宽控制电路的元件。另外,若电网电压太高,超过了开关电源答应的稳压值, C7 Z* ?- U( [ m% X: R$ X
范围,也会造成开关电源输出电压偏高。
- y" W5 L9 h+ h) s2、 二次供电稳压电路异常,导致二次供电过高
, ~$ N. U3 |& f3 A$ `1 k3 V) d正常情况下,显示器开机时,由于缓启动电路的存在,B+的电压是慢慢升2 A9 K0 ?4 b7 U+ ?: H" B' M
高,而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏,就会造成开机时
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2 ~8 h/ L( }8 B) ?徐州市菲克斯科技有限公司 QQ:26433849 TANK
0 v0 D. z1 t7 u8 B电压立即跳升,同时电压不稳,轻易造成烧行管。
% @! q" H% S; J2 F" S9 h/ ?还有,二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏,也会造民二次供电异
1 l. W3 M/ x# Y- [- _: c* x% n常。0 j" D5 C$ H# @* G+ H# H [. O
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路 9 Y; b, A2 L1 W5 |" Y0 \& _
行偏转线圈奩行输出变压器发热后,因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短$ o) m& h! s7 | k5 @ ?$ T
路,假如保护电路性能不佳,则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
8 e+ @) T1 [5 R8 x1 Q. i i2 m较,通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管,此时用手摸散
& y' L# n' f+ _4 W7 c. X2 c& E热片的温度较高,则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路,引起行管过流击- Q0 r# N2 X' T
穿。+ s2 J" W* }1 l+ t
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) g3 G8 c5 z& ?4 h$ W2 g, T、 行频过低 % J: B6 c7 R; |9 R
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比,即行频越低,
8 ^1 m% d2 ]- l周期越长,行正程时间相应变长,结果使行偏转电流上升,当超过行管所承受的: q; H$ Q5 ^' r
电流最大值时,使用行管烧坏。因此,在调整行频时,应避免使用行频长期处于2 P: \. v2 Y- @; n
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后,根据显示模式自动切换产
6 ?/ [9 B: p0 }, K9 C/ f* K, \6 n" W, }生,一般不会出现行频过低现象。3 k8 w' T. U, K- a- f9 Z) `8 j
5、 行逆程时间过短
* Y' t+ Y$ Z, f; g- d在行逆程期间,会产生很高的反峰脉冲电压,这就要求行逆程电容,行输出8 Y1 O. W" L' f! v
管,阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小,失效或开6 }$ ] t# J0 x9 h+ @: e6 d; z
路时,反峰脉冲电压上升,一旦超过行管的耐压值,就会出现行管换一只烧一只( @, D2 F: z/ C
的结果。此时,迅速用手摸行管的散热片,若温度与未开机前差不多,则说明是
8 G7 s6 _' B4 C& N p2 Q由于逆程电容开路而引起的过压击穿。 $ D) y' [& @; H" _
解决方法:是将行逆程电容全部换新。
) n+ d) \* R7 o/ F" J1 f, Z t$ S6、 行激励不足 ; w1 s4 T; h1 x6 K4 B
假如行激励不足,行管不能迅速饱和,导致行管内阻变大,使用行扫描线性5 b3 m0 F( ~! B1 L+ r
变差;假如行激励不足,行管不能迅速地截止,使用行管长时间地处于有电流流
$ Z1 u# @" _$ ]( P8 A/ P* z& }/ j- S过的不正常工作状态,将造成行输出电路的功耗增加,引起行输出管发烫。一旦
6 i) R4 G8 m4 {2 }超过行管功耗的极限值,则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢,有的则: c$ n% i5 D4 e' w" L, R
开机就烧行管;有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长,不防用示波器观察- S; X/ r( L9 c% ^9 B7 D
激励级的波形,可帮助找到故障原因。
* a( N# _: A( o1 z造成行激励不足的原因有:行激励管性能不良;行激励变压器的供电电阻阻0 G! d' X& v& D5 L- Q8 D2 J) U" A
值增大;行激励变压器的周围元件有虚焊;行激励变压器低级烧组上的滤波电容# C: X f0 N/ ~; u" i
变质;行振荡电路的晶振不良;集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
9 z! p) _: \9 O" N3 @效造成滤波不良。 ! ]6 [7 o! U0 l) U
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、 环境潮湿
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7 D% ] j) w" K: @# v7 z这使用行输出变压器周围元件漏电,或者因散热不良(如将彩电置于柜内,% R, n2 Q, F4 U9 b
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧),行管过热,使其耐压降低,最终8 e6 ~6 @6 @. M; Z. O+ _
导致损坏行管。
( a" W# _6 @( h6 z6 ^( q( ^2 N# T) B、 行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间,使用行管在逆
$ a! R0 l( ~% Y+ A1 C P8 b程时间内也短暂导通,导致行管损坏。因此,维修时要特别小心,在行偏转线圈
# _. Y9 M3 F% }及其回路开路的情况下,假如长时间通电检修,是极危险的。
6 b1 d( z$ i) Z/ F9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化,损坏短路等问题。
' g( ^( w( b8 v% f如 S 校正电容短路,枕校电路元件短路,使行电流大增,造成行管因过流
& `) `' t4 L4 T4 d3 i1 i% ?而击穿。
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此外,阻尼二极管开路,自举升压电容短路,高压电泄露(如高压打火,高! k, u: R( \2 u+ v1 p
压线穿孔),行管质量差,显像管内部跳火,AFC 电路故障等,也会造成行管过
/ q( f/ r& k- S' I9 J& \流击穿。/ X+ w% B1 Y: n: e, R0 c" [7 w, f% P
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容,取样电压滤波电容失容。
4 A, H6 {( k! e e: ^受四周大功率元件高温烘烤后,电容失容,导致行管击穿。
; I" U1 ]! [1 t11、 行包(FBT 回扫变压器)或行中心调整线圈,枕校变压器,行管,
- O g( N: u. N# X: L5 ?逆程二极管等引脚虚焊
4 G; @+ y+ A% S8 w m虚焊是显示器元件损坏大敌,开关电源变压器,电源管,行管,行包,逆
- V% k3 n2 h9 U& x. R; `程二极管,逆程电容,行中心调整线圈都工作在大电流,高电压环境,虚焊会造% V" q' u5 D( t: C L$ \0 U
成瞬间的接通与截止,尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
3 b* H- g6 e/ N: o- |2 g4 n12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大,或使用了内置阻尼二极管& T. Y6 `! b* Y& K- o `
或阻尼电阻的行管
' E6 O- l, {4 D3 E+ V$ j我们在测量行扫描电路的、关键点电压时,也要注意测量方法,假如测量方
5 ]& b5 v8 y: m5 e0 @法不当也会瞬间烧行管。 2 p& \4 h1 {3 d
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0 X i% x# C: C2 b- W- |6 R、 高压打火,也是造成行管损坏的一种原因 , P! N9 g d6 p2 P7 J0 Q
高压包在使用三到五年后,由于绝缘介质的老化,轻易出现高压打火现象。! M ?5 f) G9 i2 U7 v, I* _9 \
高压打火可能发生在高压包内部,也可能发生在高压包对接地装置,也可能是高7 B4 l. w) D) C, @) o4 F
压嘴周围打火,或高压线穿孔,高压打火出现会造成高压不稳,瞬间的放电导致
9 o# L0 H$ `0 p* i5 | P( R行管负载变化异常造成行管烧毁8 K6 ^- {+ s# n+ `9 {
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