屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
2 t. {- `* B8 ]+ }2 [3 G- g5 N& ]根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
2 X  n( o' d3 w& L  _3 j% o行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
* Y/ S  h  Y7 }7 p5 g( u阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
需要有一定的时间积累。
1 Y3 M4 B; D' o# K2 s; F. K假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
$ Z+ [$ c% c& E3 b2 A烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
; G- X2 Q" o8 a, g+ l有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
: `7 I4 w% q! I0 L' Q( y3 ]) Z$ b; f行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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5 x% _- [- ~9 c、 电流监测法
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
5 n5 h* C/ y; v  G2、 电压测量法
' d$ p+ l/ m6 Q9 A1 i显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
3 M: T2 }, S( s! V/ d好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
3、 波形检测对比法
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
% p; B9 L/ S0 F+ e2 u5 x6 P- X的
的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
/ [, h3 Q' v$ U/ @; w  r! |速定位故障点，找出故障原因。
4、 温度测量法
" J: @7 e' `3 i3 `$ D" Q主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
1 F, t& r0 d& ~7 I1 @70 度以下，基本都可以使用。注意测
个小时以上，行管的温度不上升，保持在
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
时要注意与实际使用环境温度相当。
7 y3 F" }0 a5 j3 m0 {! v5、 元件替换排除法
7 j6 F6 m9 h2 m- q. z对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
% f7 c5 @% c+ o8 l! Z) B. s对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
1、 开关电源输出电压偏高
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
/ d3 m4 o9 @) q& w# A: X! \6 w和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
' l% o- k0 m/ q2 O' Q! f: [范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
1 F4 L) ?2 E( `8 w2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
: g0 m; U. |) r: w, I正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
' j5 g. u# i5 L  k: ~5 j高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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+ G4 \; @3 k1 u/ H. `/ k电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
" K( s$ A. s& ^3 L' g/ q- f% {还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
/ l. F  C7 H8 M6 x0 S' S: d常。
6 \( c) ^6 l. Q4 p8 f3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
9 `( d8 B2 G; X4 k" G路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
$ g  P7 ^% J9 [4 C- O2 t热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
穿。
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! V% g$ t" u) l8 ~、 行频过低
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
! I* p" @0 G; |4 {2 I0 j生，一般不会出现行频过低现象。
5、 行逆程时间过短
; N: V, k9 j* g' |& k' X( x* U! O+ T在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
) o; R( p% r% x的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
6 e# k4 Z& c; u由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
% d7 s. @" V) L) R, G9 c, t解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
9 D; h, j7 i3 z0 r& A; }: n假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
: r3 o5 n$ K$ ]8 O7 W: W' @5 w7 w5 X过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
) A) _: O% j  k! k超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
* N9 v- F+ Y3 ]( e开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
8 f$ Z0 R: z/ A' ?9 K激励级的波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
5 z. L& l# ]' K: B( ?值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
, l  t2 Q- v1 k& s1 m" u8 f效造成滤波不良。

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1 W0 c' C+ m9 m) }$ A1 X、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
导致损坏行管。
3 G% s( x# v2 ~6 F9 Z/ _、 行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
8 ]. e3 ?/ Q8 a2 y/ _. E% O程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
. C0 n  p/ w3 D" S2 P2 b  M6 A9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
) o7 ]5 j) k: v' k而击穿。
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此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
" ~+ n1 U0 I1 y1 [, L: [7 @+ O( T8 R压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
$ E# P! l/ a; N9 v- O4 k: a流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
9 B1 G. O' g0 |! m3 u受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
. Z. C  |6 ?& d5 s5 r11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
6 a8 J3 A  r# a- {0 p逆程二极管等引脚虚焊
7 Z7 W2 Y7 {( O3 B8 q虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
2 ^6 A* M3 C4 e! B- ?5 o3 K  L成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
/ X, y: @- B; D4 s$ O9 U3 T或阻尼电阻的行管
$ j% ^" D2 p8 z3 h我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
4 T, E( G+ M" f4 C8 b8 R, @压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
行管负载变化异常造成行管烧毁
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