屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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0 P. Y: d* x/ E. `屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
- Z  Q- k+ J1 n' T& D  z根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
& E1 A5 t6 c  V! x, \6 B: a. q阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
2 B2 K* E) K) E  U- D+ u6 x  b需要有一定的时间积累。
: Q7 V# z! W/ m) H8 L9 E假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
" C, L; ~! K& M6 b5 o3 F行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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、 电流监测法
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
& e* L6 z0 x% `6 X% p7 b. B$ [电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
2、 电压测量法
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
: q. G/ f* Y- \0 r' o& J种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
3、 波形检测对比法
4 x7 Y& [) R' r行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
的
3 c: w$ ~! o0 _# V的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
2 W% ~$ m- W& v" x8 n6 d速定位故障点，找出故障原因。
4、 温度测量法
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
70 度以下，基本都可以使用。注意测
% F0 _6 E( a, {& k4 `0 _+ e个小时以上，行管的温度不上升，保持在
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
- _+ q/ P$ K; D, `8 o时要注意与实际使用环境温度相当。
9 O# ?& e8 d5 g- e- x5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
% b( f8 v1 D4 I, b8 ~$ @; t5 J对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
( D$ G0 U5 p; M" U2 n行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
7 S8 e5 m( {  R  T" I- i4 n行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
1、 开关电源输出电压偏高
( D7 `" e# _8 o6 B' i, _由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
6 Y; t! J( d# w和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
3 G& n6 `. E5 U) W& t2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
$ w, R2 ^  G1 t% O/ z7 ?高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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7 {. c( K4 C& [& j8 A电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
7 u# s5 f* O! Z8 D  U3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
! N; Y. G( M$ ^7 t* R1 k7 D路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
& V0 _* ^1 e3 Y! k热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
2 E5 ^# l4 t  U, E& ~$ ^# q; t穿。
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、 行频过低
. F8 f% ^' _' O9 X由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
0 X, J+ @6 l* o+ i$ ?周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
' B& X2 F- Y: B$ ~3 C* h电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
7 ]: Y6 G  N7 y( V" F偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
9 K% a4 S7 ?) R生，一般不会出现行频过低现象。
5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
: \, {! @  B2 m9 \4 O: C管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
# P. u) D% w/ \. J& Q) z6 _) W) x由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
' a" F4 H4 ?, n4 P" [解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
' n2 d) ?2 i5 O! M+ j, L1 p& e0 w变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
, M( f8 @, o: o) L: y1 g* E过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
: I3 ^- y) I8 U' h& N& I0 }' v超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
: x2 X# e% B# ^1 W; x9 u开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
, l( o( D' A7 V8 t# u变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
效造成滤波不良。

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8 H& G  n" @7 `、 环境潮湿
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! @" T; o  X6 n( c- w7 b! Q; x1 S这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
6 p6 ?& l" R$ n# U导致损坏行管。
4 M, {8 h" j( v6 r; t* ?、 行偏转线圈开路
9 f3 l' n" Y+ V2 A: {7 z8
4 B2 q, G- }) y1 e此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
* |9 v/ d) j) r  G! \- k程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
, o, A7 ]1 r4 ]: u及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
而击穿。
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0 C* ^8 z# m- G+ ]* p- h/ p4 g徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
" u& O0 c- _; N流击穿。
; Q3 O% w7 W+ u6 d* R4 Q8 k10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
6 k2 B/ }( ~# p6 X( F, r4 a( W受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
逆程二极管等引脚虚焊
5 w. H; i* H/ f  }% T6 @- v3 Q虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
* I5 q8 a6 k6 r' _4 W8 ~程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
9 j. g* F8 @: s& _9 ]" o成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
( s! `0 j" x% n( t12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
" s: L1 ]5 c' N0 Q或阻尼电阻的行管
- U* U0 Z6 B& d- d我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
& \2 R3 A0 n: y% m法不当也会瞬间烧行管。
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0 K0 i2 d5 {/ n1 o; F$ r- d% ]、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
: h8 j. p" m4 `. n; y; p% H: x高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
# [7 o0 V9 ~% u( G' R8 B9 V7 _高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
9 s- @* n2 O) }1 g- P# ?压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
行管负载变化异常造成行管烧毁
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