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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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发表于 2011-4-28 15:46:43 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

/ l" \, `4 g  d7 w屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
* [9 v, p7 u  M, j' O根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::1、过压击穿 2、过流击穿
8 [/ r& w+ ^/ ]; v8 l根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::
" I1 w% R# u1 h% q! N% ]* s' I: \. T行管损坏后,我们在拆下行管,可以使用万用表测量其静态电阻,假如 CE! v+ B/ J5 F, S4 v
阻值在数百欧姆,行管一般是在使用过程中,过流后过热慢慢烧毁,在烧毁之前
' j3 q' J' ^% z需要有一定的时间积累。2 |7 r4 e! R9 r6 P
假如 CE阻值在数欧姆,此类情况是行管过压烧毁,多数都是瞬间意外忽然
4 b8 U. p9 w* m6 t烧毁的,在烧毁之前没有异常征兆,或者是开机即烧行管,或者是使用几天也没7 G/ w: B# h( g& k7 j, Q
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。 1 E8 D% e, f6 X, J7 S6 Z* ~
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法:: 7 f) G" U: Y5 {  c
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法::
# s1 g) V  ]. P( e1- c+ f- M9 `/ C+ _* r9 j9 _/ g/ a& d6 W
、 电流监测法
# Q2 z: P0 c) N" |- M+ h检测点:在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处,二次供
* k' Z! Z- o' b2 r; c# N# T电调整管滤波电容处,行包低级线圈后。# v  h4 }, K8 \$ X3 k  b
2、 电压测量法
& \5 V. c4 \) s/ L: N显示器的行激励供电由于显示器设计不同,有取自 12V, 45V, 80V等几
; n* G. F1 a/ B, i6 O& Z种,显示器的行管有使用双极型的,也有使用场效应管的。 8 u+ J  y! P) V/ p
假如不好找对应型号,可以考虑直接使用 IRF630,在代换行激励管后,最
" U! o( e7 F( P/ K1 Z好使用示波器测量一下波形,同时长时间监测一下行管的温升。 2 x0 n' Z1 x8 [+ ?" A8 |; Z, \
3、 波形检测对比法
# ~1 B4 @2 k8 a0 u行场 IC 的 HOUT 端,行激励管的 C 极,行激励变压器的 34 脚,行管的 B
" L% E1 [" C6 Z7 k; S! B极,行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的,假如某点0 g; u5 h" d/ M, {1 f" y- u6 z
VPP 值变低或变高,都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点" I9 j+ I% d3 K
2 O- v- w  h0 `# J
的波形畸变,也会造成行管过流,长时间使用过热烧毁。通过波形检测,可以迅
1 `3 o$ l: ^, U4 n2 O: ?速定位故障点,找出故障原因。 ( s- E  Z' X5 M, h1 x, u" y/ H
4、 温度测量法
1 ]5 l0 F( n( B6 n+ D% X) d主要用于更换行管后,对行管的温度进行长时间监控,一般行管连续使用两, k+ }7 m8 f' i4 D  ~) P3 F) x* h
70 度以下,基本都可以使用。注意测; l! W$ ?! v3 G' }  _4 e7 m9 D
个小时以上,行管的温度不上升,保持在; @, ~3 S1 Y3 [, C( {4 z+ X( U$ T+ E
量时,要盖上后盖,不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异,要测量
  G8 _6 p2 @( e% N1 e! y时要注意与实际使用环境温度相当。
. B% l6 Z( A# L9 ?. j7 c5、 元件替换排除法 $ j' J0 k+ b9 Y, k  M3 ^
对于判定行逆程电容容量减小的故障,可以采用电容并联法。
. O: L. w( r! e7 e* U对于行管发热量大的问题,可以选用几个不同的行管(三代,四代,五代)4 L8 b6 S: j- S8 |) o9 A+ q3 w
的行管进行替换,分别测试行电流大小和发热量,温升最小的选用。  O$ s3 y# y0 w2 V$ t8 ~
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类:: , I9 C  c' h7 l
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类::9 W: B$ A5 L7 @+ M9 e" u0 G
1、 开关电源输出电压偏高 & {" M% U" R( Z
由于电源稳压系统出现故障,不能稳压,导致 B 电压上升。假如 B 电压超
, A& C( R/ d5 J* C过 10%以上,会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路,误差放大器
, `3 i% V; N! Y" O) n9 u和脉宽控制电路的元件。另外,若电网电压太高,超过了开关电源答应的稳压值
6 ?! G# O/ E& E& L) l范围,也会造成开关电源输出电压偏高。
# N5 O% t2 e3 t* g" K$ X4 r3 w: v6 t2 w+ L2、 二次供电稳压电路异常,导致二次供电过高 - r8 E# x. w7 a! z
正常情况下,显示器开机时,由于缓启动电路的存在,B+的电压是慢慢升+ G! E, L! K  k6 l' {7 X7 M
高,而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏,就会造成开机时9 G3 M/ a% e. J7 `
1 ! }6 Z% h  J% L" b# q
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ:26433849 TANK * Y8 p1 F/ Y* ^
电压立即跳升,同时电压不稳,轻易造成烧行管。 " f& L2 _6 K& i/ p0 f& S9 O! ?
还有,二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏,也会造民二次供电异
' _+ Z. Z; [+ z8 C. c4 f9 @常。
* B6 A( j7 }; A) t3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路 5 M9 Q9 \0 V5 |. G% }$ e1 H
行偏转线圈奩行输出变压器发热后,因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短1 [+ ^- f4 p  Y- p4 ^! \+ x
路,假如保护电路性能不佳,则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
0 j' E" y/ |9 l" [5 Z0 E" Z较,通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管,此时用手摸散5 \4 M7 F( W- T( x& H/ F( T
热片的温度较高,则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路,引起行管过流击
5 T4 v0 P3 @. I$ U& K# B# R" N穿。, u  ^# ]+ z+ x5 A. q: Z3 ~1 G( Q' M
4$ {5 n. ^: ^# d, }) w
、 行频过低
- _  T5 ]+ G& e/ W6 I) d" U由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比,即行频越低,; D8 R/ U5 h3 T; w4 L! Y. r
周期越长,行正程时间相应变长,结果使行偏转电流上升,当超过行管所承受的  C0 ^* D% c! T- C, s3 u. h$ e
电流最大值时,使用行管烧坏。因此,在调整行频时,应避免使用行频长期处于
- T7 F0 k8 \4 y6 o2 S& ^: d. E偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后,根据显示模式自动切换产
) ?4 T( ~$ d5 B: l" f生,一般不会出现行频过低现象。
! w7 E# l# ]1 l7 t1 o5、 行逆程时间过短 ! K- W( y1 z% o9 w9 z* U
在行逆程期间,会产生很高的反峰脉冲电压,这就要求行逆程电容,行输出6 G4 U2 I5 ?9 c' ^5 r
管,阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小,失效或开, T2 ?' K+ x2 n  T
路时,反峰脉冲电压上升,一旦超过行管的耐压值,就会出现行管换一只烧一只( F4 X1 f/ ^+ L' P% X
的结果。此时,迅速用手摸行管的散热片,若温度与未开机前差不多,则说明是
0 c# c2 }7 z" \5 s由于逆程电容开路而引起的过压击穿。 0 R* T$ t* x4 F8 i7 [/ H# `/ N) V/ c
解决方法:是将行逆程电容全部换新。 , v/ f; ^% w1 _$ q, S4 p2 J
6、 行激励不足
& l/ n: j" S7 `- ?/ r假如行激励不足,行管不能迅速饱和,导致行管内阻变大,使用行扫描线性* x+ H1 O: s; v  @( E2 Z: [
变差;假如行激励不足,行管不能迅速地截止,使用行管长时间地处于有电流流
  i- S6 i1 j" r9 P4 W过的不正常工作状态,将造成行输出电路的功耗增加,引起行输出管发烫。一旦1 H1 }1 v8 [0 n# k' V# X( q  P2 e
超过行管功耗的极限值,则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢,有的则
6 t$ f+ U% _4 t2 T6 C- e+ J; e开机就烧行管;有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长,不防用示波器观察# A) i5 v6 d3 S* K. X# Z( _4 G
激励级的波形,可帮助找到故障原因。 ) p$ R2 a) Y, ~& Z* @  a% G
造成行激励不足的原因有:行激励管性能不良;行激励变压器的供电电阻阻" X: x( Z) D% n
值增大;行激励变压器的周围元件有虚焊;行激励变压器低级烧组上的滤波电容6 Q$ C) g5 [: o; G1 U9 a& f
变质;行振荡电路的晶振不良;集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
7 {4 {5 u4 F  z% g; y% f效造成滤波不良。 # d4 B0 u, B. p+ o0 \, x
/ o7 f5 g' M: I' x2 A" D
[NextPage]- e; C6 C: D$ s3 i

( Y1 d8 U4 w6 Z/ C! M5 ?! |+ R) f、 环境潮湿 " j" U( z+ c2 _) Z+ s( H
7* C! [+ O% F# u+ v4 j
这使用行输出变压器周围元件漏电,或者因散热不良(如将彩电置于柜内,. f4 Y* K4 E$ P/ O8 C' S# e! x
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧),行管过热,使其耐压降低,最终
8 J9 t& x: n+ S5 K7 d  J& F导致损坏行管。 . j, G3 R0 O$ X9 e
、 行偏转线圈开路 * h( C, i  V, m" H, e, V' f" w
8
" L8 T$ U7 h  F2 B1 A! c此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间,使用行管在逆
6 V0 r% I- H( g: d5 Y. E. b程时间内也短暂导通,导致行管损坏。因此,维修时要特别小心,在行偏转线圈
/ O9 \$ S, R9 L, w及其回路开路的情况下,假如长时间通电检修,是极危险的。 4 c3 t" K' c3 b$ k! k
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化,损坏短路等问题。
5 _1 q. d' b& l4 a/ w/ h! e! m如 S 校正电容短路,枕校电路元件短路,使行电流大增,造成行管因过流
* Y! e0 y3 f# b) @而击穿。
% O! Z( X9 s! c+ P( K) Z2
: v: p  s# H7 n; M- t徐州市菲克斯科技有限公司 QQ:26433849 TANK 9 e* G3 w) F; Z* ~) X
此外,阻尼二极管开路,自举升压电容短路,高压电泄露(如高压打火,高
5 |, {; h4 r5 ]$ i4 p/ c6 ~9 J8 {2 M4 O$ X压线穿孔),行管质量差,显像管内部跳火,AFC 电路故障等,也会造成行管过* E/ M2 c+ B  w* S
流击穿。4 l, K7 G4 E' a5 v, H7 c' c
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容,取样电压滤波电容失容。 4 A" [7 I3 S& d/ y8 z0 @
受四周大功率元件高温烘烤后,电容失容,导致行管击穿。 6 q2 G8 n; f' A7 W( A
11、 行包(FBT 回扫变压器)或行中心调整线圈,枕校变压器,行管,
# S) i# G# c7 L$ G逆程二极管等引脚虚焊
1 z* K6 T% C; L, J8 e虚焊是显示器元件损坏大敌,开关电源变压器,电源管,行管,行包,逆* }. m( V- ^3 X* E# }: W
程二极管,逆程电容,行中心调整线圈都工作在大电流,高电压环境,虚焊会造
3 K" w$ C# H9 Z7 W% f$ e9 ^/ U成瞬间的接通与截止,尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。 / h# L2 B* E" E' q1 k* @
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大,或使用了内置阻尼二极管
: B: r! P/ b1 u1 Y或阻尼电阻的行管
) Z. S9 b5 o( |3 ~4 T9 }) W我们在测量行扫描电路的、关键点电压时,也要注意测量方法,假如测量方
8 P5 [, D/ F' {0 z3 g+ u法不当也会瞬间烧行管。 * n2 P. y4 P% H5 {
13
/ ~$ x  ^0 Q8 j$ k) L、 高压打火,也是造成行管损坏的一种原因   L" R' C7 r+ u) n
高压包在使用三到五年后,由于绝缘介质的老化,轻易出现高压打火现象。8 |8 D/ P8 D7 `5 Q& }
高压打火可能发生在高压包内部,也可能发生在高压包对接地装置,也可能是高: B% K$ p6 b% N6 P- [. R
压嘴周围打火,或高压线穿孔,高压打火出现会造成高压不稳,瞬间的放电导致# E- H5 S) }* {' d# w4 i
行管负载变化异常造成行管烧毁* @+ l7 J3 g$ V1 y% B5 p# H5 N* f
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