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& `7 m ^) R2 c. w8 @% g, z% T屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
/ q0 k& A. Q6 U5 S- t; c根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::1、过压击穿 2、过流击穿
) O1 x0 V# J( M+ S9 D, o& T2 P根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::/ C3 N P' P: |/ e6 h
行管损坏后,我们在拆下行管,可以使用万用表测量其静态电阻,假如 CE
- ~" i8 C5 L. W) t0 ?/ Y阻值在数百欧姆,行管一般是在使用过程中,过流后过热慢慢烧毁,在烧毁之前& F; \ ^4 [2 q- G
需要有一定的时间积累。) ^: Y3 @8 r6 o; ^6 {. N/ r
假如 CE阻值在数欧姆,此类情况是行管过压烧毁,多数都是瞬间意外忽然
0 E2 T% [' V/ y烧毁的,在烧毁之前没有异常征兆,或者是开机即烧行管,或者是使用几天也没. v- r5 |2 x% j
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。 , ?" S, |; W: K" i
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法::
, n1 f. S, J9 W# X, E, z行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法::
! i( |3 F7 F. b1 I+ A0 {; [1# c t3 r8 p I( C3 i/ r% y3 \
、 电流监测法 + _5 F2 o4 K$ _) f( [1 s
检测点:在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处,二次供
$ P; R! t( }& J+ B. w4 Z电调整管滤波电容处,行包低级线圈后。3 A' S$ _9 _9 {2 X" I$ n% C
2、 电压测量法
$ g/ Y, I$ G7 U6 o+ h显示器的行激励供电由于显示器设计不同,有取自 12V, 45V, 80V等几
, P1 v( t3 y O种,显示器的行管有使用双极型的,也有使用场效应管的。 - U M9 e- ^ I3 F3 Q+ s
假如不好找对应型号,可以考虑直接使用 IRF630,在代换行激励管后,最
/ a' U( w1 V1 z' H& u好使用示波器测量一下波形,同时长时间监测一下行管的温升。
; P& n7 M, V' y/ D3、 波形检测对比法
4 K- U8 O+ a( u$ G, V8 A行场 IC 的 HOUT 端,行激励管的 C 极,行激励变压器的 34 脚,行管的 B
8 s: N1 V$ B* r: Q- @极,行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的,假如某点
- r( X- f: d% qVPP 值变低或变高,都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点! @% e7 w- W$ _" j
的6 \# P: [# O9 h' L6 k! z
的波形畸变,也会造成行管过流,长时间使用过热烧毁。通过波形检测,可以迅4 D: m* ?) P0 y% o& E; [1 I
速定位故障点,找出故障原因。
- B% R( Q2 Y& [' ~4、 温度测量法 8 Z. i, T; E4 t! G# T
主要用于更换行管后,对行管的温度进行长时间监控,一般行管连续使用两
) I B3 Y6 A/ U3 i7 {' s: a70 度以下,基本都可以使用。注意测
: v6 Z2 x5 \' R4 y) ?6 W9 z个小时以上,行管的温度不上升,保持在' r" ^& s% W' K+ I6 H+ @
量时,要盖上后盖,不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异,要测量
; j6 ~0 D% Y) A$ l# ]$ }5 F1 Y时要注意与实际使用环境温度相当。 $ o( W h- I g# S
5、 元件替换排除法 # U$ q4 Q" h; ~# W8 }
对于判定行逆程电容容量减小的故障,可以采用电容并联法。
- [3 Y) R7 q0 ?. ?7 j: E对于行管发热量大的问题,可以选用几个不同的行管(三代,四代,五代)+ A2 E8 G/ C1 Z: ^/ q
的行管进行替换,分别测试行电流大小和发热量,温升最小的选用。& e; u6 b7 M, t7 v! J1 G
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类:: : ^3 i+ R9 c1 p. D
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类::
, N6 o9 ], w6 n" P7 j1、 开关电源输出电压偏高 $ Q! \# D2 @' u0 n( C3 e
由于电源稳压系统出现故障,不能稳压,导致 B 电压上升。假如 B 电压超
2 [6 v3 o. F) z过 10%以上,会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路,误差放大器& r. Q, ]" M# N4 J+ F2 _) _
和脉宽控制电路的元件。另外,若电网电压太高,超过了开关电源答应的稳压值
& P, V z F0 p& P范围,也会造成开关电源输出电压偏高。
0 ~9 Z6 E+ p. f1 b2 z T9 h9 h4 P2、 二次供电稳压电路异常,导致二次供电过高 / t3 l+ l2 u, | w: i# ]3 k- j
正常情况下,显示器开机时,由于缓启动电路的存在,B+的电压是慢慢升
/ ?+ X& `- z9 ?- S" H8 ]0 l2 V! \' ^8 D高,而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏,就会造成开机时# y+ {4 L1 A, C. b: ?# P7 m
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2 F% u& P* ?7 Z3 l徐州市菲克斯科技有限公司 QQ:26433849 TANK ' ?' N0 h- R4 O! Z. |5 z
电压立即跳升,同时电压不稳,轻易造成烧行管。 & m, e. R9 H7 ~2 C+ `( ]2 J0 @
还有,二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏,也会造民二次供电异
) L6 T5 z! _6 z. c5 B常。
- U: T% l* F/ L9 t9 j" m1 Z3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
* c* @+ N+ v) j' P! }行偏转线圈奩行输出变压器发热后,因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短4 b8 T I" S/ N/ A& s
路,假如保护电路性能不佳,则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比/ s6 S: n* |% I/ _- l* h: Y
较,通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管,此时用手摸散
$ |( z* U$ Z8 i9 @ r7 z6 c热片的温度较高,则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路,引起行管过流击
8 H% Q0 m* w3 C/ A0 } `穿。
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/ Y5 L( e' |8 b$ x0 k1 G、 行频过低
: n9 f1 M% l. s由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比,即行频越低,
& N2 @. Y3 B/ m周期越长,行正程时间相应变长,结果使行偏转电流上升,当超过行管所承受的
: Y; ]4 ^! y; k9 A( ]; G电流最大值时,使用行管烧坏。因此,在调整行频时,应避免使用行频长期处于" r5 F+ d5 X; z6 t/ d$ A
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后,根据显示模式自动切换产4 R7 F9 m9 D) `0 C7 e
生,一般不会出现行频过低现象。
7 s& W5 M& n0 y4 M# p+ \% c5、 行逆程时间过短
) ^# q! ^# G2 i0 l1 p在行逆程期间,会产生很高的反峰脉冲电压,这就要求行逆程电容,行输出% |$ I' m. r# L, l/ Y* T
管,阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小,失效或开
2 b9 w2 R% M/ o' S+ X' T路时,反峰脉冲电压上升,一旦超过行管的耐压值,就会出现行管换一只烧一只
8 t5 e$ F; \: V. f8 X的结果。此时,迅速用手摸行管的散热片,若温度与未开机前差不多,则说明是. A" S. x/ I" @6 }: w$ d
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
! U" x! P# T R; y解决方法:是将行逆程电容全部换新。 ) _3 p0 g( c/ s9 z4 m: i
6、 行激励不足
: x( {6 |, j2 Q" ~3 o假如行激励不足,行管不能迅速饱和,导致行管内阻变大,使用行扫描线性" E& ?. r+ V5 x/ K/ Q+ e7 d
变差;假如行激励不足,行管不能迅速地截止,使用行管长时间地处于有电流流( ^; T* _, `: S9 j H8 F
过的不正常工作状态,将造成行输出电路的功耗增加,引起行输出管发烫。一旦
% k5 S& k$ a! f' }超过行管功耗的极限值,则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢,有的则7 @0 @' z( Y' ^
开机就烧行管;有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长,不防用示波器观察, J4 C8 Y) q( ]& i3 L- i
激励级的波形,可帮助找到故障原因。 2 S* V+ p' v- r& s) a' o7 E a
造成行激励不足的原因有:行激励管性能不良;行激励变压器的供电电阻阻
: q+ |5 e" u, p0 c: L5 ?值增大;行激励变压器的周围元件有虚焊;行激励变压器低级烧组上的滤波电容
- n# O7 ?5 p* @. o9 ~变质;行振荡电路的晶振不良;集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失3 b5 _, A# @3 K' C. u
效造成滤波不良。 * o. l4 W' u# i( p5 U& N
. H8 E7 B, r: y0 g: L[NextPage]
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、 环境潮湿 3 c5 a j% M# k0 o: l) h4 M
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9 S% J C# n7 N# w这使用行输出变压器周围元件漏电,或者因散热不良(如将彩电置于柜内,
/ [" O. g1 s) g# J7 H6 a4 A9 F或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧),行管过热,使其耐压降低,最终, w& u0 D6 b- r- N' a) n
导致损坏行管。 & s8 Q5 q' d1 C* P g6 P( Z" H
、 行偏转线圈开路 3 `+ v3 [0 N- [) t* P# l
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间,使用行管在逆* y! f/ c! L: L# y8 |3 u
程时间内也短暂导通,导致行管损坏。因此,维修时要特别小心,在行偏转线圈0 j2 Q8 K( d! }3 m# F1 o4 m/ c
及其回路开路的情况下,假如长时间通电检修,是极危险的。 ; K4 q5 w- I/ G+ h1 ~: u
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化,损坏短路等问题。 / T0 E3 \4 Y/ s- U, }# I
如 S 校正电容短路,枕校电路元件短路,使行电流大增,造成行管因过流
, D. f5 [4 x: I. r, g5 |而击穿。
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& z0 g, S' k6 V4 z: {徐州市菲克斯科技有限公司 QQ:26433849 TANK 7 \9 Y% ]# U5 @1 h3 C
此外,阻尼二极管开路,自举升压电容短路,高压电泄露(如高压打火,高! i, V. e* I5 e) B
压线穿孔),行管质量差,显像管内部跳火,AFC 电路故障等,也会造成行管过
* p6 t+ [" q2 S; H0 W流击穿。0 m! H* O1 r( \8 A
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容,取样电压滤波电容失容。
2 }, `/ o8 v& p# S9 \$ a$ i& W/ T I受四周大功率元件高温烘烤后,电容失容,导致行管击穿。 6 L+ [" x3 m8 Y" {) b
11、 行包(FBT 回扫变压器)或行中心调整线圈,枕校变压器,行管,! S, h( M! D$ Z9 {1 h
逆程二极管等引脚虚焊
+ T5 B7 g3 r0 g) [虚焊是显示器元件损坏大敌,开关电源变压器,电源管,行管,行包,逆
& l- b* p0 O, i# E$ ]程二极管,逆程电容,行中心调整线圈都工作在大电流,高电压环境,虚焊会造3 d2 I( O3 x0 v* J+ k! ^/ g9 \0 X
成瞬间的接通与截止,尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。 ; `9 b$ I! E" Y+ P* s( @5 b% s
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大,或使用了内置阻尼二极管6 g7 d" n( g) G
或阻尼电阻的行管 8 A6 m# F" B' a( J
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时,也要注意测量方法,假如测量方
* g$ t% X% K2 T3 |, U法不当也会瞬间烧行管。
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、 高压打火,也是造成行管损坏的一种原因 * B3 e# j B8 O) C# p) S3 W
高压包在使用三到五年后,由于绝缘介质的老化,轻易出现高压打火现象。; E! y6 q7 d0 v' T: F0 z/ A
高压打火可能发生在高压包内部,也可能发生在高压包对接地装置,也可能是高
* O# Y I4 y( B0 a8 m% B. c压嘴周围打火,或高压线穿孔,高压打火出现会造成高压不稳,瞬间的放电导致
. P9 ^: j, n# _4 z行管负载变化异常造成行管烧毁
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