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( T, c m& I( y/ V; Y6 i屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修+ ^1 t6 X) s; u2 P, L* s7 r- O% x
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::1、过压击穿 2、过流击穿
. R+ [! d" i; g根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::% _7 v0 e a) m6 Q2 M. n6 a6 j
行管损坏后,我们在拆下行管,可以使用万用表测量其静态电阻,假如 CE7 j& b) O1 A5 j" v$ U7 M) T, C. c
阻值在数百欧姆,行管一般是在使用过程中,过流后过热慢慢烧毁,在烧毁之前
- Y. y2 w& M' g需要有一定的时间积累。
6 Y' i! ]$ s5 k% [ r假如 CE阻值在数欧姆,此类情况是行管过压烧毁,多数都是瞬间意外忽然
8 Z7 D7 {* z% c: u5 d% [烧毁的,在烧毁之前没有异常征兆,或者是开机即烧行管,或者是使用几天也没/ S/ ~6 c& Z" I! E
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
- Z) z% M, r o+ Y8 w6 v行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法::
[1 Z) I# P9 |3 a. N行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法::
5 _% d" v, m# Q1 a0 C0 N/ J14 f) O# z/ @1 T( [% m4 E
、 电流监测法
" ?& K [3 q# _/ O' w) }& l检测点:在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处,二次供
% b* k! T& L; d# S8 E电调整管滤波电容处,行包低级线圈后。
$ f+ B# ^5 k9 t _: o2、 电压测量法 " W3 ^1 ]- m+ w3 i" s; |
显示器的行激励供电由于显示器设计不同,有取自 12V, 45V, 80V等几
: ~% g- i/ g, z. d) r" C种,显示器的行管有使用双极型的,也有使用场效应管的。 2 ]. m! K- Z6 D" ~0 `) b
假如不好找对应型号,可以考虑直接使用 IRF630,在代换行激励管后,最
; e5 O# Y t- ]好使用示波器测量一下波形,同时长时间监测一下行管的温升。 ; j" E# e+ }* Z
3、 波形检测对比法
' p& M+ y( G/ F; E! |1 T C行场 IC 的 HOUT 端,行激励管的 C 极,行激励变压器的 34 脚,行管的 B
% y3 S& Z6 G& f5 A1 @0 p# A1 l4 q极,行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的,假如某点
7 y. t" i; U4 k( s2 K- xVPP 值变低或变高,都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点4 X( O+ U3 R: Y a
的
5 r, @" _& g( w/ f的波形畸变,也会造成行管过流,长时间使用过热烧毁。通过波形检测,可以迅7 c8 m' w& l# }# N0 T
速定位故障点,找出故障原因。
* X5 n2 u+ T8 D0 ^4、 温度测量法 9 j7 @% @2 ^# C" f( M
主要用于更换行管后,对行管的温度进行长时间监控,一般行管连续使用两
1 x: ~4 s5 M% q* n" f& S3 @70 度以下,基本都可以使用。注意测3 r' l6 D; W3 p; y. w
个小时以上,行管的温度不上升,保持在
2 S' f( B: ?" J7 K量时,要盖上后盖,不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异,要测量9 B3 C0 w* J1 a- k9 r% S
时要注意与实际使用环境温度相当。
: c0 \$ z, K6 R$ e: Z5 \2 [6 ]! j( H5、 元件替换排除法 ' V- M2 w& b) s! r
对于判定行逆程电容容量减小的故障,可以采用电容并联法。
s2 O/ @) i' g& b7 ?- v7 D0 V对于行管发热量大的问题,可以选用几个不同的行管(三代,四代,五代)
( Y0 i7 v" K8 X, {% m- ~0 S" J的行管进行替换,分别测试行电流大小和发热量,温升最小的选用。$ ?$ Y; B$ C+ m/ |6 u
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类::
7 d% g5 ]! u1 d h; R! V行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类::( ?5 {) b7 ?7 c' {6 b
1、 开关电源输出电压偏高
" v$ R6 t- q; I7 {( a: m由于电源稳压系统出现故障,不能稳压,导致 B 电压上升。假如 B 电压超1 I/ R0 T4 O! T q5 U0 p
过 10%以上,会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路,误差放大器( ^9 V, P. J: v8 R: v. q# a
和脉宽控制电路的元件。另外,若电网电压太高,超过了开关电源答应的稳压值1 c1 Z, |8 a5 m. L8 C! @: D
范围,也会造成开关电源输出电压偏高。
' @; R" g8 j- o ~) ^6 J/ V& q: w2、 二次供电稳压电路异常,导致二次供电过高
9 A8 Z4 t, ~/ l4 `0 s6 L正常情况下,显示器开机时,由于缓启动电路的存在,B+的电压是慢慢升
) `6 h: S! T, E& Q! M8 d* p* O( O高,而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏,就会造成开机时. Q8 j! F; G4 D( z
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3 z! K* J( y& |电压立即跳升,同时电压不稳,轻易造成烧行管。 Z+ t5 m" _1 q: R$ L0 ~, J
还有,二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏,也会造民二次供电异
* _& v/ K8 _9 T常。, c$ Y/ V1 P/ v. [
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路 * y$ _' m/ S' ?( U: t; k/ A
行偏转线圈奩行输出变压器发热后,因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短. r) v) o6 _* _$ v2 A
路,假如保护电路性能不佳,则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
& s7 J! Y4 Z# d$ u, M较,通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管,此时用手摸散
6 F# c8 Y" C, M0 O& ?! t) ?热片的温度较高,则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路,引起行管过流击
+ s$ ~" E- N/ Y) i- P穿。 q- S3 n r6 {
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) F3 i, P3 n0 \; b+ t5 m、 行频过低 $ \! d7 K2 @. x" ~4 _1 P) I
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比,即行频越低,
9 q# u+ x+ o0 P) y( R. z周期越长,行正程时间相应变长,结果使行偏转电流上升,当超过行管所承受的
. I4 K: b0 L- g2 I6 n# k9 m电流最大值时,使用行管烧坏。因此,在调整行频时,应避免使用行频长期处于
- {2 S5 a e' U5 j# Z2 ?4 l, P5 \偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后,根据显示模式自动切换产5 c' k" H) I: ~& m& W, S, I/ N1 M( x
生,一般不会出现行频过低现象。
! e: E+ t) U. Y- \" M0 x5、 行逆程时间过短
2 o" D1 a. |8 |+ M: F. E6 a在行逆程期间,会产生很高的反峰脉冲电压,这就要求行逆程电容,行输出
& b+ Y$ z8 q! P+ `" X5 L% q管,阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小,失效或开8 o% P4 P/ c+ @6 L7 l2 q2 R
路时,反峰脉冲电压上升,一旦超过行管的耐压值,就会出现行管换一只烧一只; E' h+ Y ~* ~- F
的结果。此时,迅速用手摸行管的散热片,若温度与未开机前差不多,则说明是
% J4 J2 R4 F% {5 O5 a由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
% ^! N8 u: N" r$ ?4 A解决方法:是将行逆程电容全部换新。
6 m z ?- z) P5 _7 l J6 Q. v6、 行激励不足 2 _) H, a6 o& n3 \
假如行激励不足,行管不能迅速饱和,导致行管内阻变大,使用行扫描线性' f9 R, y" m5 |8 b/ v$ ~4 P
变差;假如行激励不足,行管不能迅速地截止,使用行管长时间地处于有电流流( H! y" P, K+ ]# g/ _6 p9 N
过的不正常工作状态,将造成行输出电路的功耗增加,引起行输出管发烫。一旦- Q" ]6 ?# [ I b6 `; b
超过行管功耗的极限值,则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢,有的则! O! y6 v0 @: e3 S2 u$ U
开机就烧行管;有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长,不防用示波器观察- o5 P+ W& ]1 X+ Q$ I0 C/ L
激励级的波形,可帮助找到故障原因。
9 T1 ?8 W- i* b: \9 z. n9 X5 z造成行激励不足的原因有:行激励管性能不良;行激励变压器的供电电阻阻
" d5 H) x5 A7 X& K! z值增大;行激励变压器的周围元件有虚焊;行激励变压器低级烧组上的滤波电容/ Y |% ^2 s! d b/ r
变质;行振荡电路的晶振不良;集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
( V3 ^# }4 i" M# \效造成滤波不良。 3 \ C" k4 O! R; k8 {8 s: r4 C
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[NextPage]
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、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电,或者因散热不良(如将彩电置于柜内,
2 [9 y3 G% e0 ~7 m或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧),行管过热,使其耐压降低,最终
5 r/ o3 O5 b& y" J7 ]1 q" `0 g( m6 C导致损坏行管。
( q% N$ K4 ?$ J8 m5 G5 d、 行偏转线圈开路 # ]2 ^% a! o; Q" S9 f# M; w9 i
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1 {. F- b |5 R" [3 j9 i此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间,使用行管在逆
7 D- X$ t8 W& V程时间内也短暂导通,导致行管损坏。因此,维修时要特别小心,在行偏转线圈
3 `/ \) V( S: }5 L& O3 k2 E及其回路开路的情况下,假如长时间通电检修,是极危险的。
% p ]/ Z1 N7 N" c: J6 C9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化,损坏短路等问题。 5 W; Y% J% {0 Q0 j
如 S 校正电容短路,枕校电路元件短路,使行电流大增,造成行管因过流 ^ t% @7 ~; M4 m* a; O0 I
而击穿。) N) |: {/ C" o# h" j
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0 T, |+ O# { Z2 ~( Z) P! e% @0 R# H' @此外,阻尼二极管开路,自举升压电容短路,高压电泄露(如高压打火,高; {: C% C/ s8 m8 w
压线穿孔),行管质量差,显像管内部跳火,AFC 电路故障等,也会造成行管过
* k0 `7 A a, ^* {流击穿。
0 o4 C: W" a( a/ q4 e5 w5 y( o10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容,取样电压滤波电容失容。
6 i5 Z" ^5 K* p6 ~) v& R受四周大功率元件高温烘烤后,电容失容,导致行管击穿。
! b0 B8 j3 h$ R3 l" [( u11、 行包(FBT 回扫变压器)或行中心调整线圈,枕校变压器,行管,, X/ k: o1 R/ Y7 `6 g
逆程二极管等引脚虚焊 # S- e0 s. x7 b( I8 P2 F
虚焊是显示器元件损坏大敌,开关电源变压器,电源管,行管,行包,逆" h3 L4 t, ^2 ~+ Q( S
程二极管,逆程电容,行中心调整线圈都工作在大电流,高电压环境,虚焊会造
& x4 e9 l g4 P0 G5 H" T' B( N成瞬间的接通与截止,尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
. F/ L/ Y% h# m1 K4 M7 u12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大,或使用了内置阻尼二极管" z5 B" r% ]) P9 D
或阻尼电阻的行管
4 E& |6 i: w* ~, v& U& {我们在测量行扫描电路的、关键点电压时,也要注意测量方法,假如测量方
: a. e4 c0 y+ [法不当也会瞬间烧行管。 ' O6 b9 I! D7 h8 E# ]
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、 高压打火,也是造成行管损坏的一种原因
/ ]8 I1 a! A K3 x高压包在使用三到五年后,由于绝缘介质的老化,轻易出现高压打火现象。
% ?! e7 M5 r+ }: ^. v* E: v' i6 F高压打火可能发生在高压包内部,也可能发生在高压包对接地装置,也可能是高
! Z+ t4 ^( A, g* h3 \压嘴周围打火,或高压线穿孔,高压打火出现会造成高压不稳,瞬间的放电导致/ l5 a! S& m6 k4 n0 D: E5 ]% S
行管负载变化异常造成行管烧毁
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