屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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" _; Y0 b' [+ W, \$ h' C9 G, `屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
需要有一定的时间积累。
假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
2 u. ]# l+ ?2 d: `9 Y行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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5 ^% |) o& o' u8 ^; {* r2 a、 电流监测法
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
+ q9 E& |8 R/ M2、 电压测量法
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
+ H2 ^2 u6 _. a种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
$ \9 n7 b7 ^5 p, v3 g: G6 |假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
& n$ e# ?0 }) X$ m8 Z4 F0 C9 ]好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
/ @. u" \! x7 I% }9 T, l9 I6 p3、 波形检测对比法
! M2 x: R8 X* H  _- q# ~1 t5 c% Y行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
: t' H* j  Z8 r5 `& x2 \极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
# \3 p* y0 {6 |% D的
2 K' D$ }0 _' K7 _: l的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
: q( I7 h' u5 p' V速定位故障点，找出故障原因。
5 P. n" ~6 d. o/ H+ c4、 温度测量法
9 q6 |5 A5 f; `主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
70 度以下，基本都可以使用。注意测
8 A9 v2 g  l2 `. c! r) ^% M个小时以上，行管的温度不上升，保持在
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
( E) F' P$ Q* v% P3 q+ l时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
: u5 E2 F  N) k对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
! J4 F% D# a) h6 Q8 n( x行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
# b0 x# m9 H' f; h1、 开关电源输出电压偏高
- |1 x1 f% W# c0 F  F5 }1 i% k由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
2 z4 g5 F7 h6 h/ L/ h' ^* L和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
, G: h  x+ Z2 H. b4 P9 |正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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/ d$ @7 F. d+ I: ^4 A" n( v电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
, H- Z- F, w* g) n还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
5 t1 O2 \- ~- Q  Q: T3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
! M, f" o: o- N0 r# e5 ~+ G热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
4 ?! x% H* i4 e% S0 r) d: G3 W  z穿。
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: N) |# b/ r7 `- F+ z、 行频过低
9 c2 {. s/ {# U由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
% Q# H4 L$ m& ]$ Z1 I% `5、 行逆程时间过短
* W8 Q/ X: w: Z" n4 J* m$ V在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
+ X; x! I- Y8 B& U2 _, |管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
: h9 a7 |# F9 }9 i6 e的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
1 ?! t0 Y5 c/ J1 D2 l* F& ~由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
& ~* y( p- h" M+ X解决方法：是将行逆程电容全部换新。
+ ?! r  @3 c/ I0 }6、 行激励不足
假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
7 S3 |: o8 ^6 ]0 R; T过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
3 I; A* t5 H. L. [- ^, s开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
效造成滤波不良。

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、 环境潮湿
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% d/ }8 C6 i8 ?. |% H( T这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
导致损坏行管。
, x' Z: j; w8 R$ N、 行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
, e2 E: B/ R) d% v- s$ g  k程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
6 I8 F6 l2 U, K5 P( ]及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
而击穿。
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此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
7 L' Y. p, F0 M压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
8 B2 @, e& V* `- F7 h; N6 A- O4 c% o& H. e11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
& v, d. F# p- e' o; Q5 l逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
$ G" H  F+ W0 A: t' m, _& n程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
: y% N0 _9 R# |* `; J成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
4 a/ v4 r0 W9 B12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
9 {0 K1 Q4 f7 i5 Z; G- i+ J, q1 F0 e或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
: n7 ?, s' p/ B8 T2 ]" o4 z法不当也会瞬间烧行管。
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" S# v( j- D$ t, z: j、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
# I$ a  W4 f& v高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
1 R: N2 v$ z, B$ c' D" d压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
行管负载变化异常造成行管烧毁
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