|
|
. _( p* o! r' u! o* }4 z屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
1 p" s8 e# a" O1 y/ Z' R; @; y根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿 6 Z, C$ s- x( S% a
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
9 v* O7 T! V% p3 U行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE1 G9 f" ?' _5 o3 O' N0 ^
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前* J$ ?, F0 `8 W. ?6 _
需要有一定的时间积累。: Y5 x. O6 O: a6 }9 n. M0 A3 P A
假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
V" ]: R+ [' M烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
* m) X" Z# Z! ~8 X/ b有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
! x/ Z$ M5 J5 \$ A行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：： % P5 d) a! q$ J5 O0 b& K+ x5 k" t
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：+ w. Q5 E5 k* n$ y# k5 T
1
+ C) i1 c) r u+ e、 电流监测法 , G/ q3 S' U6 y) X& i2 q7 A) V
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
+ t, e0 T1 P6 g& b4 E电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。2 z1 J# U3 o2 H4 [' r9 \0 ~' o
2、 电压测量法 / v5 O- [4 o: \
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
$ Z5 i# s$ T" W3 v7 P种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
& z0 c7 j: v1 f0 M假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最4 W/ K4 {/ l9 r7 K% q2 D
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。 4 H( e/ D/ z. O& ^" y7 U/ y# P
3、 波形检测对比法
. N; W; j1 Y+ g% G5 u& G行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
0 }0 _, w1 g9 r# H极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点8 m' Z& `5 [, F% s7 V! S6 D
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
6 V; Z4 e7 y6 L" C0 S的
! S" |' }; k* F: t的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅+ X' g T: ~: _, B
速定位故障点，找出故障原因。
6 t" ~6 }4 Y, t( G: E4、 温度测量法
5 y" d& s) H Z" `2 @2 {0 Q2 B9 {主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两1 g3 M3 s% D) s9 v9 K
70 度以下，基本都可以使用。注意测
2 t$ Y4 r4 j5 H% j1 {$ C个小时以上，行管的温度不上升，保持在4 b' Q7 e: j% w" \
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
( K0 l9 O% e% w7 g; X: a7 n时要注意与实际使用环境温度相当。 + K6 t Y2 W2 g" a" F
5、 元件替换排除法
t3 s8 U8 k& E! f! z7 W对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。 2 [1 H& H/ D& |8 H" h6 b* \
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）9 b: `, y, R/ f2 L/ z& o
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。) m: k3 c4 @4 E6 F7 V N
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
1 ~" v1 Z0 j3 q1 _行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
( p2 g: K7 |2 ]. z- F+ X4 w/ T+ Q1、 开关电源输出电压偏高 8 S# B& V5 U6 Q/ N
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超% }& F- Z4 K7 A# P, |9 s: d
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
/ x6 B$ f! Y8 L: o# Y! F. ~/ {和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值% h0 k" E" n% l) L7 D
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。 6 U3 Y: M. w/ c0 Q1 d
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高 / j% O5 a* h4 @. r# P2 E
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升3 B/ B6 K3 L# d( V* \* X" `
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时) O7 R) |" ~4 |
1 + F3 X. C/ x2 P1 O5 S
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK 1 L) h% @6 x; b/ n& \) ~& h
电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
) G% |: c% e, ~1 I; ?8 _1 L1 P还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异2 M; u) N% @& H
常。
: J. G( K0 ^% \% A& J! p3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路 & m' y: Z0 c5 _% V( b
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短7 n4 W: k. Q( p2 P
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
" |- K" }! L; v- [$ B Y: V7 _较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
7 x5 W5 e w# z: w* J( I* w: s; E4 k% |热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
* {/ M7 I0 Z H8 i/ ?4 d1 c穿。
8 X# l$ j0 d6 n1 f4
2 N0 |4 d6 S# c/ a7 q、 行频过低 . ~0 H' o7 C' e- c" |, ]
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
6 N- O6 v* T! @$ T8 {. ]周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
5 J. w3 G# p4 D' b* F电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
& U( q3 o" C: l3 b; M1 L+ X8 k9 V偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产1 |* z: J0 ?+ U+ M5 _, Z
生，一般不会出现行频过低现象。
' i2 H' o% m7 s# m4 F1 F5、 行逆程时间过短 . x1 I6 ^8 R) \7 m/ i+ l Q; p
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出; e! n2 o- q$ a; c3 M" |
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开+ X2 _" R. |5 e, N& H
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
# ]* }+ ?( } W# W1 j的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
8 [% O" @7 W. r; g# O由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
( i2 i) K5 n( e解决方法：是将行逆程电容全部换新。 , S. e4 i9 \5 O4 W
6、 行激励不足
% A" Y6 \7 @" |0 V) W假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性6 ^( N8 n' W( S* Z4 G/ a3 O
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
, [( h1 @' L; Z# n( `! d过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
3 g# V& O9 K: w# V! A超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
$ w8 Q* H6 z" ~8 T( I( |# K开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察 w' `7 o, A/ g9 J
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
( W2 Z. L& `$ ?7 K6 O+ s C造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻. o; f& O$ H. K- z1 |: N
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
1 Y. X( z5 F* B" k& }变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失4 I+ h9 X; `3 L3 z' R
效造成滤波不良。 ( D4 q& g* B) I
8 O7 E9 F0 [5 i% c- f: ^8 ]
[NextPage]4 ]* v/ e% d: [1 X
0 R; a4 T7 F, O( a、 环境潮湿 , _& U; P8 l' c7 x
7
3 D- k, a( Q5 f3 s这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，- s. F! |& A# D, E2 c
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终& {7 v4 c8 D6 b! C9 s1 S* B
导致损坏行管。
, O. r2 p6 r" b) U0 u6 l$ E1 _/ |、 行偏转线圈开路
# O# e$ F3 v& y2 d2 s1 j0 ^" K0 \; q( B86 W/ `4 A3 w7 t7 ~
此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆9 z$ _6 M" R- r4 |1 v0 L
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
6 A+ s& Y3 Y; h7 L及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
7 s4 `! u8 l5 H9 _5 o9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
0 _/ {: R5 U/ A+ a% C/ i如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
4 s+ M: O; {- k而击穿。
0 }9 u; w3 u' z7 ~$ _" `- b# u2 # V Q7 I B; x }% y
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
7 d/ u2 S0 j1 I; k+ r' ~; G* z此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
! Q3 t3 l5 S5 W g压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过: c: n, j) U* P7 k3 I8 s
流击穿。$ E; a# }: q0 K, d" k
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
+ l$ r1 L% q! P, l受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。 " k0 F; Y9 F1 j) M/ o
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，3 H5 N# O2 q$ ?+ G1 r2 |1 ?2 p
逆程二极管等引脚虚焊 , x4 z& g/ |+ ?+ H
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
4 C& s) j X$ W# U" J程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
8 `% K/ @% R; P$ ^9 O' _6 D成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
* k5 H" K8 L3 J |9 _12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
2 x1 @) _0 e/ a2 ?或阻尼电阻的行管
3 l3 `( l7 n( R/ I% C* b我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方, ?. S! h+ t! Q+ g+ H
法不当也会瞬间烧行管。 , C m, d6 S4 G+ f( p6 H3 X% S
13# `8 }8 @6 M7 c/ a" k8 _9 X4 R
、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
- G7 F' }* k5 M' j1 m6 F高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。9 ^- l5 X& C! v
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高. v5 T6 R$ N* L1 B3 `: w
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
" n( K; c5 i) C2 X9 b% F7 p6 q行管负载变化异常造成行管烧毁) R7 H2 C- P$ U. M$ Z) p
|
|
/1 
|手机版|粤ICP备13038386号|粤ICP备13038386号|美丽的网站-英华家电维修论坛
( 粤ICP备13038386号 )
站长邮箱 505966338@qq.com
发表于 2011-4-28 15:46:43
QQ好友和群
QQ空间
腾讯微博
腾讯朋友
微信
收藏
分享
支持
反对