屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

江西电子维修

# M/ M3 @0 Z8 `$ y屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
( w( B$ a" E) ^0 b/ p根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
7 \8 [4 V% A) n4 ~( O根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
7 ^- W: _4 [5 ?) N" B阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
, K! j  U. w6 ?需要有一定的时间积累。
: N4 t- ~4 k2 L# w假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
4 Z! L! p" O  i3 t有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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、 电流监测法
# q3 K3 d' K9 V5 k检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
7 R5 y- J# C. H电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
2、 电压测量法
% @/ J& B9 r& O/ L& }/ G4 \2 B显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
* R2 v) d. g! q) `; I5 P好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
3、 波形检测对比法
, Q: V% W! O5 v  b4 @行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
的
( O3 W- Y- R5 p' Y% S的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
  r! `0 E6 j* L9 V速定位故障点，找出故障原因。
* w! z" L4 O8 F" B4、 温度测量法
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
70 度以下，基本都可以使用。注意测
个小时以上，行管的温度不上升，保持在
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
( _5 _3 }% l3 y5 `  E$ l" B对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
- _$ o5 G: N! m) A# y  T对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
! y, L$ J4 n5 n+ n$ [行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
1、 开关电源输出电压偏高
2 h' t. [0 Q, X$ r8 _( b6 c由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
1 e' J* c1 X$ V! f. c) S( d0 e过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
2 v9 `; g; ~% q" g2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
% [! h- x+ ~8 J: \; \' |& o正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
- ]+ p( T/ i8 y* j0 S$ T. E高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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4 x( z3 Q3 s5 m" \  X) D/ ]0 r徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
7 I5 o) q6 u6 |' ?5 t/ ~) E) G8 `4 i电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
) [" K. ~$ s( k8 {) ]  v& @! ~3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
  I9 q/ x2 a' {4 {0 z路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
7 i5 J& c% l- Y: }0 [. E& O较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
; d! T+ b/ v1 v6 |! f热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
6 o; |4 ]$ ~& \1 |穿。
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、 行频过低
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
2 W+ X3 L- q& J5 O. a. ?8 \  i周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
  H- C. ?- O% r偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
( ]! V5 W$ t0 `0 V# u( p生，一般不会出现行频过低现象。
3 T, E2 ]  q) J/ I2 r1 T9 F, R1 r; {5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
6 n. ^3 {( c5 B, r" U路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
% c0 [* {: G+ }2 N" v的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
: i* T0 j2 X: d* r% A5 N3 `! F由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
  z0 q( X3 T/ X' W) ~解决方法：是将行逆程电容全部换新。
$ A/ d' O$ w- `9 ]# a  s6 W6、 行激励不足
, B6 n9 u# |4 Y% ?9 v假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
! x0 l2 Z/ g5 V" r  o- m# Y: G$ P开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
6 ^( v, y" [5 T! g1 X" h) l激励级的波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
效造成滤波不良。

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、 环境潮湿
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( F( C3 Z( ]1 |3 i这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
8 N& a: i; p1 c2 o9 z" S或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
, y. C  L3 s9 a8 K/ s. c- A导致损坏行管。
% Z% m3 T) U! w5 h. N、 行偏转线圈开路
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+ J( p, f' V8 {$ l此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
2 ]8 v8 [/ A) G5 k6 s% B9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
而击穿。
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+ Y5 H% ~- v7 T5 D4 z徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
& d3 ^% ]' J. }. e) d此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
) a7 |5 V3 |' }9 X5 A压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
6 L; A) O3 z) \- m流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
6 J7 f6 ]* T! R: D. u受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
2 \5 x# h5 {9 q! ~' j. H11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
8 d) r. a* y8 n  \逆程二极管等引脚虚焊
$ ]2 q$ }) n1 q$ V) e虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
. }7 ^  G' Y. k, n3 N程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
* D4 Z3 }8 V% C" [1 {12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
或阻尼电阻的行管
3 I8 T% R9 A4 y# @3 }我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
% e* T1 M% d: H( g4 }& s13
1 |' h) R. ]& A8 M、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
5 \. W+ @! ^/ r" ?) e! d高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
# E( [% _- Y' }, d* T. d高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
行管负载变化异常造成行管烧毁
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