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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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发表于 2011-4-28 15:46:43 | 只看该作者 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式

7 M& |- A/ c0 Y; |4 ~" ~6 h屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
: k4 ]7 W$ d* ]: g2 m根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::1、过压击穿 2、过流击穿
) Y! L# s5 K* B/ R& U" }+ g根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::
' W9 |/ j5 o9 w% l& P行管损坏后,我们在拆下行管,可以使用万用表测量其静态电阻,假如 CE# ~! |7 ?  E% W3 b" m
阻值在数百欧姆,行管一般是在使用过程中,过流后过热慢慢烧毁,在烧毁之前$ L, H- E, E" n( N, \
需要有一定的时间积累。
! {3 d$ r5 H; o. L: C3 G8 P8 p假如 CE阻值在数欧姆,此类情况是行管过压烧毁,多数都是瞬间意外忽然' V2 v# _0 A& z
烧毁的,在烧毁之前没有异常征兆,或者是开机即烧行管,或者是使用几天也没
( c9 e) o3 p: F) D有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。 " {, @( c+ B. a, ~/ e. S$ ]% t
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法:: + |0 \; _4 D2 h
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法::# {; W7 y" ^2 Z
17 ^5 {# h, }6 N3 W2 i" ]2 J
、 电流监测法 : a* a7 T# y1 g/ Y% d
检测点:在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处,二次供- l- B  m! l. M& U/ ?
电调整管滤波电容处,行包低级线圈后。2 [2 C+ z/ o* h& l. z2 Z$ f
2、 电压测量法 2 o6 `# G; S+ V9 A& a
显示器的行激励供电由于显示器设计不同,有取自 12V, 45V, 80V等几! j& e% r1 M1 w* P
种,显示器的行管有使用双极型的,也有使用场效应管的。 * ?* I5 v& p  Z( E9 u: n) N
假如不好找对应型号,可以考虑直接使用 IRF630,在代换行激励管后,最
1 d+ n, y, D, x  f) Z好使用示波器测量一下波形,同时长时间监测一下行管的温升。 % H) b# B5 d- M' I( N" v/ j
3、 波形检测对比法 1 p. f: G  X8 Z  i
行场 IC 的 HOUT 端,行激励管的 C 极,行激励变压器的 34 脚,行管的 B
1 g2 P4 K' s8 \1 P' {' }) ?( c( B极,行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的,假如某点
: Y8 g2 P5 b; r9 CVPP 值变低或变高,都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点: \, G3 Z' ]' j2 E. Q
7 r( P$ O( l$ W  E! r3 _
的波形畸变,也会造成行管过流,长时间使用过热烧毁。通过波形检测,可以迅
! W9 Q8 n0 U. d- `0 Z- M# [+ Q  g速定位故障点,找出故障原因。 6 I, H2 f8 |+ [; y# R0 n
4、 温度测量法
& d( S1 s* ]' }8 ~7 {7 q: @; F: {主要用于更换行管后,对行管的温度进行长时间监控,一般行管连续使用两- ?- g; L+ L3 e3 y8 U, m% F$ }
70 度以下,基本都可以使用。注意测
3 w" k$ V- U8 P( ~, k+ ^: F/ C9 n个小时以上,行管的温度不上升,保持在
; }/ l1 n; h" r' ~/ T, h1 X6 J& k量时,要盖上后盖,不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异,要测量7 w6 R7 w# g* v3 n& T( q' |' N7 q
时要注意与实际使用环境温度相当。 ' e& [# G; y; X- m1 S$ M
5、 元件替换排除法 3 D) d! q% s$ i' y2 m
对于判定行逆程电容容量减小的故障,可以采用电容并联法。 1 z+ }  Q# A& g# Z0 h2 P  a) q1 z, o' `
对于行管发热量大的问题,可以选用几个不同的行管(三代,四代,五代)9 a# D; Q+ i* K; i# R; p
的行管进行替换,分别测试行电流大小和发热量,温升最小的选用。' a# @4 S+ @7 V" c: v
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类::
* m) N* G, z3 p! X! L; r行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类::& T- ?- ^+ ]5 ?1 J% |
1、 开关电源输出电压偏高
0 }5 G  P3 R3 C3 X; s5 f由于电源稳压系统出现故障,不能稳压,导致 B 电压上升。假如 B 电压超, G0 m9 g1 W7 T! i" `$ J* G6 h
过 10%以上,会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路,误差放大器
2 W6 D& O/ Y; I" m( n5 ?" Z" r和脉宽控制电路的元件。另外,若电网电压太高,超过了开关电源答应的稳压值  \1 y4 B# H# x- r* a
范围,也会造成开关电源输出电压偏高。
# h, N3 U2 W, \) x# ~1 r2、 二次供电稳压电路异常,导致二次供电过高
) F$ {8 X% v7 {( S5 g$ y) z正常情况下,显示器开机时,由于缓启动电路的存在,B+的电压是慢慢升! }* U* ]+ H+ c% g7 T+ h0 I
高,而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏,就会造成开机时
% \( P! [* P+ b! b3 e! [& L1
8 u7 ?3 [$ G( W+ U8 r6 t+ p; S8 K徐州市菲克斯科技有限公司 QQ:26433849 TANK
& ?- ]" h2 B5 h5 e7 `电压立即跳升,同时电压不稳,轻易造成烧行管。
, y% Q7 m- ^6 Y还有,二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏,也会造民二次供电异0 \8 a' R0 ~7 C2 d0 \
常。4 j& b) c% y/ o; n
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路 , n( J( r- }( ]" P- o
行偏转线圈奩行输出变压器发热后,因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
5 f9 v/ S( K0 M- A路,假如保护电路性能不佳,则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比! w2 l) k- F) p' ^, R
较,通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管,此时用手摸散! _1 u2 t1 B  H
热片的温度较高,则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路,引起行管过流击. f3 S+ k, T5 t/ B
穿。$ w5 E) ~5 V: f* n& X! B# f8 w0 o9 _
4
# U% p9 j: ]0 J& ]、 行频过低 ) h7 l+ |- u1 f# a4 y" g3 H
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比,即行频越低,3 s" s. w5 y, I* J
周期越长,行正程时间相应变长,结果使行偏转电流上升,当超过行管所承受的
0 x* {6 e+ K, t( p8 y0 T& G# K+ H电流最大值时,使用行管烧坏。因此,在调整行频时,应避免使用行频长期处于, |7 ?5 F$ r( u  z4 f4 k) c  I
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后,根据显示模式自动切换产
7 y1 X8 o/ n& |& H$ D1 r生,一般不会出现行频过低现象。5 F& x! Q$ {3 Q; g* q/ D. M) J
5、 行逆程时间过短
0 F0 N, ?- E6 V$ g2 d在行逆程期间,会产生很高的反峰脉冲电压,这就要求行逆程电容,行输出
* D% I3 q  {4 X8 W; z管,阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小,失效或开  E, D7 }1 ?7 _4 a
路时,反峰脉冲电压上升,一旦超过行管的耐压值,就会出现行管换一只烧一只
6 D2 F8 o2 K' @5 p( @6 N  N的结果。此时,迅速用手摸行管的散热片,若温度与未开机前差不多,则说明是/ I6 d7 G* q& E# b9 h- y
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
$ ?! o( [' ]' \" W/ ^& U- N! [解决方法:是将行逆程电容全部换新。
  [. \, G7 y0 F7 C% _6、 行激励不足
' E- W/ j5 l6 }1 ?8 b6 u: }5 d5 l假如行激励不足,行管不能迅速饱和,导致行管内阻变大,使用行扫描线性
  X& `( s4 J# G, C变差;假如行激励不足,行管不能迅速地截止,使用行管长时间地处于有电流流
" V; D7 m6 q, i3 ]# ?过的不正常工作状态,将造成行输出电路的功耗增加,引起行输出管发烫。一旦" J6 O! e  x; X! ^1 W$ v( }5 ]
超过行管功耗的极限值,则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢,有的则) K; ]8 k% r1 j! d: n
开机就烧行管;有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长,不防用示波器观察
2 _  N! j! Z% [; F% V激励级的波形,可帮助找到故障原因。
9 B5 J" X/ m, E. E- X4 F造成行激励不足的原因有:行激励管性能不良;行激励变压器的供电电阻阻
5 y. `* s$ G3 _2 |# [  }' _8 k值增大;行激励变压器的周围元件有虚焊;行激励变压器低级烧组上的滤波电容
1 H; G; u$ w2 ?5 d. k4 k4 Y变质;行振荡电路的晶振不良;集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失$ Y4 q1 l* v. {. {. _# N
效造成滤波不良。 8 ]5 q" M( r; t
+ k) {" ]* G; P% p7 \+ y
[NextPage]
, h. l9 T3 C3 ]3 y: r0 Y0 r  E+ ]2 p6 Y' r( Z/ j
、 环境潮湿 ; G- B0 `* ]- @5 }% H
7
( `) D# l' s; k  p. w6 O: }这使用行输出变压器周围元件漏电,或者因散热不良(如将彩电置于柜内,! y! S1 z2 O) I& U* q
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧),行管过热,使其耐压降低,最终$ j/ R" i/ j4 I5 `0 G+ A3 O9 m
导致损坏行管。
, g) Y6 x/ Q$ s/ I# A、 行偏转线圈开路
# \) B9 d4 Y0 p9 H! Q! Y& K4 K89 {# V4 [0 `. t5 [/ H
此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间,使用行管在逆7 P' G5 r$ Z  G! u- F. `2 O
程时间内也短暂导通,导致行管损坏。因此,维修时要特别小心,在行偏转线圈: K' t# Z4 `8 F$ ?2 W, Q
及其回路开路的情况下,假如长时间通电检修,是极危险的。 9 p/ l8 R$ t! |8 @5 H( E$ ~. M
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化,损坏短路等问题。 $ h) {* a7 N( j/ Y# m8 Z# D
如 S 校正电容短路,枕校电路元件短路,使行电流大增,造成行管因过流
, @4 G, ~& h5 G) \. b: C: a而击穿。
$ @/ m' l: G, c8 @2
& n/ q) E+ D: j* ^) X; K' [. J徐州市菲克斯科技有限公司 QQ:26433849 TANK : ^6 q; H2 ]5 ?$ t. ^+ o4 l
此外,阻尼二极管开路,自举升压电容短路,高压电泄露(如高压打火,高# e+ Z4 A; c: ^
压线穿孔),行管质量差,显像管内部跳火,AFC 电路故障等,也会造成行管过" ?6 j0 `" B! k7 @" Z, x, I
流击穿。
+ s: Y: Z6 _" i0 L10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容,取样电压滤波电容失容。 0 h; S% u, w2 ?/ |! I1 N
受四周大功率元件高温烘烤后,电容失容,导致行管击穿。 / N" b4 A: q/ C& |
11、 行包(FBT 回扫变压器)或行中心调整线圈,枕校变压器,行管,2 d1 p  L  ~" a2 e: \
逆程二极管等引脚虚焊
/ `( r& a) h" R( x0 J% m9 F虚焊是显示器元件损坏大敌,开关电源变压器,电源管,行管,行包,逆4 m6 K2 }+ L+ q( o
程二极管,逆程电容,行中心调整线圈都工作在大电流,高电压环境,虚焊会造0 s4 t8 H! \9 |: |9 O
成瞬间的接通与截止,尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
( N# p* j5 s) Y, o* _12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大,或使用了内置阻尼二极管
' G; i3 u& g- O% F6 R  j/ ?4 o; f或阻尼电阻的行管
9 y/ N3 E1 z  h我们在测量行扫描电路的、关键点电压时,也要注意测量方法,假如测量方) b& Z, w+ r: W; K; [' ~1 `
法不当也会瞬间烧行管。
" P. D: W+ T9 n* a. y# W6 d13
. ]. _, \7 G9 W% L: s、 高压打火,也是造成行管损坏的一种原因 ) N8 d! f0 m  X
高压包在使用三到五年后,由于绝缘介质的老化,轻易出现高压打火现象。3 g1 \$ g! y/ x2 A9 F2 r
高压打火可能发生在高压包内部,也可能发生在高压包对接地装置,也可能是高
2 r. N: u0 B0 m, A压嘴周围打火,或高压线穿孔,高压打火出现会造成高压不稳,瞬间的放电导致% E; ^$ I% h, @. O1 q" s
行管负载变化异常造成行管烧毁4 |3 [3 G, f; `0 V$ C
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