屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

江西电子维修

8 {# k6 H* R& P* b8 k屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
- @9 v) d  r4 p; v根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
7 A# ~, q/ Y0 T9 S# R  i, [行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
8 U7 L& ~. R/ d, d9 T9 P& d需要有一定的时间积累。
$ k/ g% v/ N0 N假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
* \& s* R' \, u8 b烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
+ J% c# n9 \7 Q, F有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
) h- B- C" V: I% T% `# ?5 |行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
. u; l3 h2 x. G6 \6 Y8 I6 K行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
1
; Y. \5 E$ z. `* u" s/ Y: e% x、 电流监测法
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
2、 电压测量法
& C% J& K/ s7 X0 L5 N: ?7 T+ a显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
3、 波形检测对比法
0 F; ^2 Z+ Q- y( B) F  f行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
. T- v/ Q. I3 I9 l* kVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
的
的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
' j* n' ]7 e1 i6 d1 n速定位故障点，找出故障原因。
4、 温度测量法
5 s; {# Q0 e1 t0 q" n2 [  [( s主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
+ m, a, [( P% E: W% O70 度以下，基本都可以使用。注意测
: h1 N% Y5 z# B# F/ K个小时以上，行管的温度不上升，保持在
  q; D4 T1 ?% {1 {! i7 i$ r  J/ N量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
7 ^! s# J  m8 a% k( h! ?5 p+ d对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
: o% a9 o( m& {- h8 }1、 开关电源输出电压偏高
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
' i; ~+ h& E; i+ P" S过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
2 j/ y9 f6 Q5 ], b和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
' y! A, ^% h; c0 o5 D范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
8 H7 i+ a& o5 w+ v$ j( R6 U( k9 {2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
. p$ [5 L! ]: G1
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
& @8 E; K2 u! `; A$ D5 q行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
6 v7 z  H0 h1 m( L- j6 w: |路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
( ]0 U6 w- G  ?+ {% e! s较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
1 p3 o1 O! {% }+ W: q3 F热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
; }' m: q* `8 M$ o  H. q! b穿。
4
: e2 D5 }& p0 h& w; b、 行频过低
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
4 }: A4 i; C% u) w$ T电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
& G, e3 v" Z; D, G0 b- z8 p. ^# P3 O管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
6 Q; ]1 j# b7 U8 t2 K路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
$ u( p' L! ]# F( _$ N* \) b6 U' e变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
7 P" f% i( w. \3 N. D: o开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
( a# b7 S; f( y. [* J) C5 y5 ^$ ^变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
效造成滤波不良。

% O; H3 g7 q8 J3 w5 ?. A* `6 y" D: M[NextPage]
" l% ~7 f9 n% t9 r: F8 ^% q
、 环境潮湿
. j% O+ o( b! a' ~3 S  h7 X9 O$ j7
这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
2 l' ~- E* Z# i! {$ Q" O6 h+ t或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
8
. M$ Z$ }6 E* H  N- J' \此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
6 d8 ], V8 v1 c5 E* h程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
- \* r4 z; B1 d4 m2 [! d! r( F" M如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
而击穿。
  u" \1 z! y0 n9 u: c2
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
/ K/ L" x9 E( m# R+ P! f/ k此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
$ ~2 s$ f' d3 A9 z11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
, N* P0 J, P: J( {% C逆程二极管等引脚虚焊
* U8 m8 a# i7 S虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
$ H+ e: p& ?$ H0 T# i或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
6 q4 h, A% r5 s) P3 C0 p法不当也会瞬间烧行管。
13
、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
/ N; n. v0 x5 S- C高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
, @* M2 E0 D/ T% l0 x压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
行管负载变化异常造成行管烧毁
! Y' t2 _! U* `) ^( z7 P