|
|
! m3 q Z# _' Q
屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修! D4 C* [+ ~4 \, M/ K& U% r' M9 p
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
4 ?: {4 \4 m3 e" J* {根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：( c. N3 {+ d2 m+ H1 W% z7 e- ]
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE5 z" |0 w( n% T
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前+ V# _5 e0 {$ D# w5 e& t" M) f
需要有一定的时间积累。. U! v2 ?6 j' a, e$ G. z
假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然1 F: v$ @& P6 {4 k% k
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
7 ]/ b$ j0 G4 `% C2 |# B7 M有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。 ( ]% H7 r- N: s- K+ |1 Z7 y3 {5 k
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
& K( `) m4 j+ o9 n9 N9 W5 s; E行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
, r( u5 j( `- t1
N( l! [" v+ P* P、 电流监测法 5 z/ Y( P9 P- Y; t V1 |
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供 W* d) n+ E( T# C" F6 q9 T
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。/ O I; i) N/ ?# z
2、 电压测量法 : X* o8 l: W2 v0 H) O% m3 \
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几7 ?& P8 O# ^8 K6 t" {; Z
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。 4 K5 d* W; |" R& V# s) {$ |" U
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最8 Z) ?; F5 O6 }# G
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
0 t# p$ J9 h4 G- l7 d3 p. [3、 波形检测对比法
: b% m. \' A8 \& @行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
0 ?+ S. Z0 h% Q2 Q5 r极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
, ^4 z5 Y1 a; w1 v* x) j* W4 q1 O" KVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
& S4 c# r3 T" s5 b- R5 y* n的
7 n3 e7 A2 n6 U1 o" i( k7 w+ b5 [( Q的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
3 Z" p! Z6 g% F$ _* H0 ^速定位故障点，找出故障原因。 $ }* m$ C1 o( k' U! \' i
4、 温度测量法
1 _* p M; R1 t, Y" `主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
+ l* N% k/ ?2 w$ i7 g, f70 度以下，基本都可以使用。注意测& m" v1 }5 h/ J! e
个小时以上，行管的温度不上升，保持在6 v! e3 y$ n/ h& X# C& M
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
3 x3 B" m! B! L) r时要注意与实际使用环境温度相当。 * h, D% m6 p- ^' {. I3 u
5、 元件替换排除法 1 B" X$ `$ v# I ^
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。 # L/ T; l. x: L$ R
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）% L+ h( t' M6 R) D5 v
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
+ F+ i8 V) t. Q6 w) F1 j N行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
: B+ A2 L# h+ g: n& t& i" |# a7 d行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
% U; P# K* m' Q- b1、 开关电源输出电压偏高 : P( ^1 C, o$ B: L% u' [8 A% N
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
7 x, r4 h6 I) i, R& N! h过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
8 C' a/ h5 M9 `1 C" q5 f和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
# x! B3 x7 U8 f" b范围，也会造成开关电源输出电压偏高。 9 v& V4 D( a& o [! ~* ]
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
& Y9 e$ f8 ^2 s9 I正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升9 i4 c1 H! t# L4 [/ h
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时$ O( d: u9 ^; h9 i. W P2 T- i
1 ( c: N h/ y0 Q) d* [
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK 4 }6 u% h" q3 X, B9 @9 Y- X
电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
! t, A ?3 L3 [8 o( {' X还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异% C* r# {" j, A, U) R u" D# R
常。2 b# D6 @. } e* w# Y7 W
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
4 v+ V/ P: K' I# w+ N行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
) z8 S4 C( F; @( U/ A% X2 _' l路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比) @5 m6 h% [' ]; S& _( x
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
5 i) q$ J8 ~: D$ k1 G. v% P0 X$ a) R热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击& ?% a0 Y0 t b
穿。6 S# A6 s' k- L% R9 O# _
4: G' Q9 e0 h4 [/ e4 c
、 行频过低
Y- k2 B9 @6 u由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
/ f" b p8 M5 K+ l0 s2 V周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
! K. ] G2 I& O% C+ z2 B. l电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
1 s l% d$ Q2 K0 w% j0 v偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产 B" |; n! B' b
生，一般不会出现行频过低现象。( U- ~4 u* M; H- F5 y7 f9 l
5、 行逆程时间过短 * W6 @: i; _- p& c- P/ O3 d. C: a0 m/ X
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
' O* O$ T5 J2 r3 G/ M% U管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开2 k A/ R% M. W, X! a
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
$ J8 L& e7 d0 Z& B) o的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是4 ^+ A$ X$ d; O) n5 n
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
, A- I' U4 ?; I: A$ ^) N2 w解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6 s9 h$ G! j i g; p6、 行激励不足
$ I L+ Q h9 l+ y. c% R0 H) z6 e* H$ K假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
+ E. K- }. J, W ]8 f+ k变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流. k$ r- `) Z2 O; d8 s3 N5 J, T
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
' R B1 X5 f" Q& m/ C/ L超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
& r0 t8 q7 w2 e) X3 A, U开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察' k, r+ F' a; }) i) X
激励级的波形，可帮助找到故障原因。 . _$ A5 }6 ~3 F) o; h7 f
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
( F5 ^- e: A' l d1 M8 R' M0 m/ C值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容3 Z: Q" ]! y8 G+ k
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失! J- [' a9 N: h5 y: c
效造成滤波不良。 ' z W" }9 z6 N* Y( j
: j, o3 a! E( p( i6 ~5 }* h; H( d9 a h. S
[NextPage]
& Z, J8 r8 Z: C' u8 k4 D8 r) @1 b3 w) @5 x
、 环境潮湿 2 {' I9 m& r+ o7 y7 Q
7
! b" J6 V$ b# J这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
" a: A2 }. J. O9 Z' M: k9 w或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
6 B* c$ p7 D' N$ N4 h. P `" M! j导致损坏行管。 5 [* m* R1 i/ l5 ?
、 行偏转线圈开路
1 x6 u/ ^( d. g9 p! {0 L$ G: ^86 z4 W1 D( q3 }3 W6 J0 X
此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
% I4 a) v, t5 x程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
' Y7 b7 g3 }0 i1 v及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。 ( i1 g. s+ _7 P' z A9 H
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。 y% e( y1 q% d& `
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流8 Q5 ?% B K/ f* D# r8 K2 ^ V
而击穿。# q, P/ n; |- n
2
6 Q) |' m$ ]" F; {徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK , b; Z' k$ Q4 s" Q1 g
此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
: I1 D5 e7 p- H& y$ ^压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过* |, ]3 K. r0 ^; o
流击穿。
9 S" @9 Y3 _( J9 x1 j, ~$ p4 W10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。 : n' n7 ?" W! I5 B
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
- A# b; I! j& S( T T! {11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，. E# _# ^8 D, T
逆程二极管等引脚虚焊
8 T7 C+ l$ e4 M' E) E3 x% c. |4 z虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
6 X) t7 M1 L7 p, c. F7 J' o; u5 K% J( c程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造' f1 [, k3 y5 w3 J7 Y
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
8 \! W# N& j* r8 R" s( H12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管/ x8 k# e+ p0 H8 ~ Z/ `
或阻尼电阻的行管
7 h! S! t& h) t. V, G5 x% r4 j我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
1 d# t3 }9 y9 Y1 n' U. u8 ~法不当也会瞬间烧行管。 7 @# e+ W0 @/ M6 S" B; J
131 B! o$ `3 I" B! z
、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
% A3 p' P$ o6 N Z, f0 f" Z高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。6 i' Q+ ?2 t6 C$ X
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高( c5 S; t9 t2 Y5 [2 ]
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致$ ^6 f! \* C$ z! l4 Y3 c% q
行管负载变化异常造成行管烧毁
3 t' s$ N5 i* U6 W- q |
|
/1 
|手机版|粤ICP备13038386号|粤ICP备13038386号|美丽的网站-英华家电维修论坛
( 粤ICP备13038386号 )
站长邮箱 505966338@qq.com
发表于 2011-4-28 15:46:43
QQ好友和群
QQ空间
腾讯微博
腾讯朋友
微信
收藏
分享
支持
反对