屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

江西电子维修

9 Y+ s2 L' ?+ x" w; J8 |) i4 c, z屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
# |" e+ c4 d) E$ G, Z1 y根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
# h" L& \0 k# b4 b7 s( K+ K行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
需要有一定的时间积累。
+ T3 b+ Z3 E/ }2 h0 H假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
' b/ l( x, N4 U. j2 j烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
8 n$ y- j3 A$ r) V5 A有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
2 F8 a& m  {( C; B1 W行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
+ r; c. _4 O+ U1
% ~& z& h+ u3 _& _、 电流监测法
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
3 j' U1 U9 X; u! l6 w7 u  z" D. ]2、 电压测量法
& T0 V# X# x) V7 b显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
( h$ T3 f$ x: l. [好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
7 X! N% n/ k7 l+ K0 ^3、 波形检测对比法
  b% e. b8 h9 S7 e: Z行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
; p% U( F. K6 u: G. M' G- iVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
的
4 ], M; \5 @7 z3 o7 g的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
速定位故障点，找出故障原因。
% H( G- e8 A' g8 s4 m4、 温度测量法
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
% r4 F- n* T* g; ~8 V70 度以下，基本都可以使用。注意测
1 e  i6 t" a6 S' Z个小时以上，行管的温度不上升，保持在
/ i1 ?; ^" J3 I! |& T7 V- Q量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
时要注意与实际使用环境温度相当。
8 L) C8 }8 u" I% D) F- _! H, A% M5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
: y& \5 V& h8 W; v的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
6 s9 h. M% ^# T) B; u' q' u. k# d行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
0 P( I3 X5 Z' r  \$ ?% r1、 开关电源输出电压偏高
; _) g7 _* L5 z4 m8 ~8 T1 e由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
5 b( i0 C3 O: S5 j/ p过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
) A" j# Q* J- Q* P$ t0 j7 [& Q2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
1
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
* I* V% Y* L: t/ Q  Q3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
: J. }) p4 J8 d3 [路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
- m/ u- n$ j9 c4 r1 E较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
* ?, C, w8 c1 c; j3 l穿。
4
、 行频过低
8 V0 ^4 }% h* u$ K' q/ L5 Z由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
1 v+ @/ B/ M3 K: \周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
7 c# Q3 @3 T5 X7 z) W3 @电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
  v9 \  H: C4 w生，一般不会出现行频过低现象。
/ [& K( ?. b4 N7 N* r' {1 m5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
* A& A% D2 g% S" e由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
5 P- }+ Q+ y+ @. U. P/ _+ p1 ^$ B解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
4 ~5 d/ l9 `! U  `" W9 i假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
9 l8 @+ ~7 G5 t  n5 w5 Q变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
- a4 @* j- e. K  _: O' L过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
0 V- E# L' `- R& S; s4 u* \超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
) `8 h/ H3 F) l' w6 W变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
效造成滤波不良。

[NextPage]
- q, a' d$ L+ ^  w: }
、 环境潮湿
+ |, e; g3 b4 N  y/ z7
4 s' T" w1 G% l7 \' p( F这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
6 e  Y+ X5 l( k5 t或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
导致损坏行管。
7 K* }$ v5 K4 _! r2 q、 行偏转线圈开路
8
此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
而击穿。
0 Q0 V9 L. x$ M' B9 M" U  I6 F8 k' L% S2
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
" ^" B6 }/ M4 C5 p, b此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
4 V% ^5 e8 a' _9 F* m, p压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
" K1 U8 r# O/ j0 h* p5 A. e. _$ K11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
3 n4 Y; _" }% s* B; N1 v  }. b成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
, ?! Y2 @2 W( `! u12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
0 N' Y  o& t0 E( D7 f$ [或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
$ T$ J: y" a6 k  J3 k13
、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
5 J8 R1 y, E  d+ `0 m高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
9 Q9 ^9 T% k" ~" R高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
( C' h' o9 _2 c3 q压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
行管负载变化异常造成行管烧毁
  E. S  [% n1 r7 O4 G& J