屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

江西电子维修

) V: r6 w1 e$ V) j2 C$ E屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
& m" x2 f8 a8 e# X根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
; J2 ?& w5 ]4 j: v' a. e$ L: S! H行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
需要有一定的时间积累。
% N/ p0 C( s6 _$ p假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
# e  N* \$ {# f3 l烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
) k% c5 \% W( D( `  |; M) Z行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
! @& V6 X! ~. |' ~8 l2 t行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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、 电流监测法
; ?7 Y) A8 ~/ H! `7 K- F检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
, w, H) [1 H! c0 i. O2、 电压测量法
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
3、 波形检测对比法
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
; Z! {* ~5 f. C) N1 Z2 N- q极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
8 K/ {6 E, k) b+ H8 }+ c1 |的
$ ?/ J) j8 n; @- q1 W的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
) ]; ^. G& H1 P$ X" R' l. X4 J速定位故障点，找出故障原因。
- p6 F' m6 N6 {7 e' g4、 温度测量法
  p1 T$ \) n+ G1 @主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
70 度以下，基本都可以使用。注意测
+ z  N% f4 Y; d6 f个小时以上，行管的温度不上升，保持在
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
时要注意与实际使用环境温度相当。
: q+ @" r0 x1 C; ^# c* l5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
4 o4 v2 T3 v6 I1 A! M) ?$ _的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
2 q2 \8 U3 n, u7 D8 l5 u行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
' v5 I) s4 `: n- l* e2 f" X1、 开关电源输出电压偏高
: E( j! O- `9 T+ _; i' t3 B* R% d由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
; V$ A. l; P2 W# B# v范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
* f; @  I& q2 d- K9 W, ~' y正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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" S' T  k+ ]9 F% ?$ f7 q; g/ j徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
  h* z# m: _. p6 o( S" v( ^电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
  J$ Y8 K' ~) J3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
1 T) |  }) _! Y) o5 ~0 b& J行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
+ p$ f2 _4 }' p6 U* ^* |* ^- O) k路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
; X% D+ R+ B/ M  i4 m; D热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
穿。
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、 行频过低
0 z% S  r. I( p8 C/ d9 z' t: |+ `- f$ G由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
1 R) Q2 P6 g; s4 H电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
1 Z" W  J& d' A2 U生，一般不会出现行频过低现象。
5、 行逆程时间过短
* j. R. J- `) M8 [. A; p在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
$ B: B$ h6 G% J5 Z# u: d- ^2 }路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
) Z" a8 V& Q# ^+ t的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
( P. |8 `( M4 w& }& B解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
) V6 q& C# @! K/ o1 A过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
0 c1 J/ N  Z) S/ L. m- A' N+ R激励级的波形，可帮助找到故障原因。
* V7 u) H' [' K0 x2 R造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
9 {% k# a& u1 _& k: }效造成滤波不良。

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、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
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+ p* \+ f! \3 \+ H7 j, @: i' C此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
: c5 @, E* @7 F程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
+ S. v$ R( h$ v及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
0 i! \. t8 q/ q9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
- p- Z9 g# m& Z! y* _. |+ r而击穿。
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此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
! {, x! [; g" E- J压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
: l2 V1 y3 [) n# u% M2 e3 h: c. k流击穿。
! H% S+ y: A! Y10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
& T9 E! [$ X2 s/ l* h7 C7 z11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
, |, v7 }6 i% Q  ^1 p  L逆程二极管等引脚虚焊
; @) }- j4 L+ ~# O7 r1 X虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
5 M- p. m: x/ @; a: [成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
+ p, E, z/ e3 _7 w12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
: N% D# d# E6 \# g或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
$ }9 r+ B% x9 w% p; x* r5 W法不当也会瞬间烧行管。
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
, w7 [) v: U5 O4 b: v7 ?% @. h高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
+ c2 V7 Z5 X6 w: M7 i( F. c行管负载变化异常造成行管烧毁
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