屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
! Y  R' X  E  A+ ^5 ?* t根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
% S( l6 l% C. w7 ^, N根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
7 r  B* X5 ?$ q4 R行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
! ~7 J& W! \: x7 }, i阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
需要有一定的时间积累。
( ]0 [7 t& J+ `# C1 R$ i假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
* E" o3 Q/ f9 J+ _% ~& S' t2 o, d$ O9 E烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
8 J! d9 c! U6 f9 G9 F有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
7 g# S& n) {) P4 W8 E9 c( }行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
9 A) K  N4 G. \$ b% e' B行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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. E" e6 ^6 i, {6 t2 \、 电流监测法
, ~+ {3 V2 o; ^1 p9 ~" y! m( p检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
- B& v* h6 P! I: A电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
! }- w  l. z; B$ p2、 电压测量法
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
' K1 C: H2 W& M5 w/ A好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
, z7 W4 a8 h8 [; R* o" x% O3、 波形检测对比法
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
, P/ A+ q0 T' U1 @2 Q$ T0 EVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
的
的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
& x' c8 b9 S+ e; O速定位故障点，找出故障原因。
4、 温度测量法
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
1 N0 R; {6 K  S; z7 F70 度以下，基本都可以使用。注意测
个小时以上，行管的温度不上升，保持在
9 g9 e' O$ S4 E& R( P量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
* P# y5 g& d5 ]7 V, y6 t时要注意与实际使用环境温度相当。
' r7 f# C; n1 q5 {- h# K5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
1 w, m4 j# I4 r% h" B的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
" h4 d9 C2 d! e& ]* q行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
: G% B% \6 U  H; s! b1、 开关电源输出电压偏高
* g% k, }6 c- K% R4 i5 ?4 z/ o. \5 |由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
9 \' [' y% @/ ~过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
3 @) {( }* X: X5 ^, h' Q2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
7 j+ f6 u2 f8 S9 E7 c' q! I正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
# Y5 c- K" r" U; L% |高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
2 ]) Z) P# t- h' x- W+ F还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
0 [. ?7 x( ~0 l9 Y. ]9 s常。
1 T$ {$ i, }) s+ B. C( i3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
, o* [2 g( z! D! {9 b2 i. b( f. U行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
( O# N: B* o* Q' c9 ?- v热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
7 j* e3 V7 E, H) ?# x穿。
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! f) m( U- w" _1 c0 {3 R% Y5 Z、 行频过低
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
' ^4 L# u& v3 o: V  A/ P周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
/ N, Q/ q( R: N3 _4 U- E# n# g偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
+ w# L, Z2 U6 o2 h2 e7 j1 u5、 行逆程时间过短
3 C$ D! l: t- {. }( D+ T/ j在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
8 U1 T1 _- |( p+ f管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
; T( `5 b  ~! H3 A1 x& X# Q9 J解决方法：是将行逆程电容全部换新。
7 }3 ^+ G& J8 \1 a% @* K  _8 Q" E6、 行激励不足
/ a- c+ I8 Y- U! j+ K7 o) C假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
0 h/ g: X$ I0 r过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
' G0 U% h5 f1 j% |造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
9 n9 l% F0 M! Y$ Q5 s4 U- @值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
3 b6 Q7 N* D2 Z1 y6 E5 \( P" Z6 R效造成滤波不良。

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" K* w. L* z0 W% R、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
3 Z9 Z$ ^  _; I9 _3 S- _或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
3 ~1 ~8 b7 K! T9 O' `导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
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8 @( Z2 V7 r) P  k3 |% ?  V) D此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
/ p% [8 T% q5 O6 N5 x+ e. E! l而击穿。
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9 q" J0 M) s4 e! E( l3 h! ~徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
# F; w; T2 m$ v* @( _- `压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
) D$ X( d, d5 v3 m4 [* g5 k. N流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
' R* S/ ]4 n: I* T; v1 ~: E6 k受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
1 s( C0 ?8 X, N! p/ E, {& F  g11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
* f, F) `' I+ x; o2 g# m逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
" b* r4 N$ M) M! o3 g程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
" ]) V4 _  b+ A; c- l8 v3 s0 R成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
! O- P& H6 ]7 E* V8 p9 V' P12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
& `" c. c" q% q! J. ~1 g9 f法不当也会瞬间烧行管。
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+ z) [8 P; V. d、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
$ E0 U  \4 \, t! a2 L) y压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
行管负载变化异常造成行管烧毁