屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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* p# g" x$ D0 e7 q屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
2 {/ p+ D. c- D根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
2 |7 _0 r" q& v2 M根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
: n, m  g. T4 H行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
" a# z" U6 z3 P- U3 U  [阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
! Y% i8 z; j8 N7 p+ T需要有一定的时间积累。
6 ~! w! V: E7 I; R% u6 Z假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
: D, o% P9 R# f2 s2 j有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
" ?" l; B0 g) \; |; e行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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、 电流监测法
# B. u* C) a8 r3 _; z, h* D检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
2、 电压测量法
9 o: w/ r' t; o0 e: s* b6 G显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
' Q3 u% ^) a# y- B种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
8 G2 x& u! g9 V$ k; X好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
3、 波形检测对比法
5 J$ W: z0 N7 b行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
的
的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
4 S# T6 l/ |3 i: W/ a" r% T2 J速定位故障点，找出故障原因。
) M3 P" D  z% ]* \4 y5 n$ ~& h4、 温度测量法
) w# C' |: G/ V, [) G# s/ w; I主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
70 度以下，基本都可以使用。注意测
个小时以上，行管的温度不上升，保持在
- `" c6 F3 @; O6 V量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
/ t" _5 ^& w0 ~- }' e. W5 H时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
4 S" K2 n; E7 M5 Y. j行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
: b# R: k! b# c* i行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
* x: ]8 c4 w. W9 x7 m! T1、 开关电源输出电压偏高
% \7 D1 x6 b  k* Y0 K* ~5 Q* U4 v- c由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
9 g1 S" j& U9 M; o  ^  d  v5 Y; ]过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
* N# X. e- K. d0 C" v% g和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
7 o! _8 n, o: M" c2 w# C范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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3 Q! h" z1 q6 n3 L电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
: s9 R# t# y' Y' x7 C行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
6 l$ \' D/ H* l( X0 I& S路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
/ g  a" r* V, j1 ~较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
1 j! x$ Y- ~6 E% w; c热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
穿。
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5 U4 Q4 E( O; _( _: A; E、 行频过低
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
8 l) U( [, m5 k0 _6 l周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
6 _# L/ o$ ~) O偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
/ s; Q' i$ h6 j, D! J& l管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
/ D: h8 F4 q9 i  Y的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
0 @2 r9 p+ x, ]- Z7 k由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
解决方法：是将行逆程电容全部换新。
* R! k+ J1 i# N: ]3 q, W6、 行激励不足
# V5 l' L- ^( x- \. W+ \! l8 A假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
. B$ c5 @3 P1 k* }7 c/ X5 e+ ]# Q超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
9 C# m  `4 F5 ~" e) V变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
效造成滤波不良。
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、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
% _1 b0 K: Q! R. b或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
# Q' @5 \; c7 p% W9 g4 v程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
; g- ^$ S9 x! s# [# L5 f7 E及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
6 b2 E& k4 p4 C9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
1 ]- U1 t$ ^+ @& m" M, S如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
; m1 G; C5 _5 O. m: }) [而击穿。
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+ x* E  C5 j5 Y" k' p7 o, ?$ O4 f此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
" l. v* f5 q; z压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
流击穿。
- M; d5 d) ~' j, e  d9 l6 o8 }10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
- r) ?8 ]  q  B  {# E5 q. W受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
7 I# I# R! x. T4 Q. ~/ o0 P11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
5 U7 G* |( U9 f, L逆程二极管等引脚虚焊
; a8 a: c9 ]3 x5 o/ Q8 o- x虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
1 g0 \9 p$ }! R; g% X8 P- R程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
: o' N4 p/ q# d. U5 r0 k9 `成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
( p# l) r4 C/ C+ h  v* ]12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
) `: b9 u( X0 ?/ h法不当也会瞬间烧行管。
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
8 c( R8 |# C$ t高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
7 _. i$ x4 i/ k0 B( l/ B+ T9 P6 D" F" }压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
) i' n6 V8 c  p1 F0 [3 ^; b8 m" H0 J行管负载变化异常造成行管烧毁
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