屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

江西电子维修

, \& }2 s9 W7 L6 m& J( T屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
; `; c2 J" U& n( |  _. }根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
! X* B7 `1 I. X7 t7 O# t( {; H" X行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
( t% v$ ]( J: L8 A$ ?阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
需要有一定的时间积累。
假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
, J! O- f. ~/ O/ [$ _烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
* S" o0 c" ?1 s行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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5 k* B9 [/ y2 n' i、 电流监测法
( K* K" K8 ]8 Y- H% X1 ]检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
2、 电压测量法
  A+ K" F7 S/ f! T3 i( X' {显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
1 A9 t8 I# A, ?8 o7 L8 r, p0 I假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
5 ^. G0 _2 }! X好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
. M9 r: a+ t( F0 y3、 波形检测对比法
; `2 M2 `6 ]' P3 r) z) g行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
6 e: Y* n8 Y9 K+ z2 O1 V$ M的
! u2 i4 B* B( X2 C! p的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
6 Q: h' L( U* ^8 @速定位故障点，找出故障原因。
4、 温度测量法
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
2 m1 i) F) g. Z. k70 度以下，基本都可以使用。注意测
6 J/ C7 _+ y$ y3 j# {3 h# z; k个小时以上，行管的温度不上升，保持在
0 c7 A! n9 J# E9 ]; l9 d" k量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
& A4 B, l4 `5 l/ I的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
9 K6 n* _2 \& e3 j, c- Q4 a& T* h行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
0 G6 b/ V0 F; G1、 开关电源输出电压偏高
. L2 Z4 I0 l- h由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
3 e) o; b) S5 U0 t* x和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
& S, y4 U+ c  q: r  k9 \- ]范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
! ^6 j! b+ G* H: d; d( R. ^2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
* N. w* T1 T) _4 Y! N- W正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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4 z/ ]% h5 l+ [: c2 t3 V电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
/ ^3 {% L( C8 Q$ H; G* N$ @还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
, x! R# G  q3 V: L7 P. l7 K0 {常。
/ P7 V& f3 a; ~0 W+ y3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
0 u+ t* x$ S; F* k$ L  O6 b路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
穿。
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* L3 o2 V/ `, k、 行频过低
1 W" B* [7 |+ Z0 R由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
# \% e2 z  u& p( E周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
9 K1 k: S0 }' G4 y电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
5、 行逆程时间过短
6 p9 d( J  Q) {+ p9 ~0 h% S& ^在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
; P" M' \) N+ k1 b# Q* v解决方法：是将行逆程电容全部换新。
; Z6 }! {8 j7 D6 ~4 n6、 行激励不足
假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
+ c: n3 D# g$ B变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
+ O0 F% [& u- ?8 Y3 y. I8 c' S开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
% r) L7 m- R: p9 _6 g0 \" t激励级的波形，可帮助找到故障原因。
5 B# S; I: p0 r2 ?9 i- j0 P8 K) L" S造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
: s  t; a+ H) R' i) U* q效造成滤波不良。
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8 f) b3 d- {! e' d7 n& b、 环境潮湿
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3 p( h) u9 b" c4 w+ n" g这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
* q/ X/ L. N1 K  J% ]或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
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" f2 g+ b/ k: p$ w. s& h此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
- ~; D6 G' x# w1 F8 V: V* i程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
. N1 E+ `0 [7 w+ _8 N如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
* c" {- ?% z  G% t$ N' M- Q' R而击穿。
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" ?2 B# m# y0 z% c* p4 |7 K此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
流击穿。
9 o: n; R9 d1 O0 M10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
& L: n' ]* i* D& Y9 [3 Y受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
0 h  }$ c9 ~8 p* w- H逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
! Y* K  W* M, |" k% o3 q程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
; Q+ T1 D, p( W+ l& R2 Z' B或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
6 e7 P1 D0 u, f7 ]* g# l& \% A9 z高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
" e: q1 z1 C2 U5 z4 ^0 H" l行管负载变化异常造成行管烧毁
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