屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

江西电子维修

屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
1 ?4 F% i) Q8 g根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
# b5 Z0 i$ a$ Q0 D0 R6 h/ ?* t$ d根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
; S* E6 z" e& f0 k4 _阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
需要有一定的时间积累。
假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
5 M( y$ E% l+ F: e烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
% G8 w. E) M- [1 B& d有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
1
、 电流监测法
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
: [  |% k9 |' q$ L3 {! N5 L电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
2、 电压测量法
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
& F8 |1 v7 T/ s9 a8 S! |7 q2 \种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
& \; u/ p. R4 b# d/ i3、 波形检测对比法
. q- w, y( d: X9 B! u  `行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
7 m( F# F% N  i+ @极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
! P# z$ @1 X1 S+ z2 e% L% ~7 r" QVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
的
的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
7 c$ \+ S- r1 L. A- }速定位故障点，找出故障原因。
7 s" f- D" F- S& f/ w4、 温度测量法
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
7 M) f( q  h" K, ^70 度以下，基本都可以使用。注意测
个小时以上，行管的温度不上升，保持在
5 n) E) B+ n6 p0 g: j( x量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
, S" @0 |; f/ J( t( M3 Q的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
  }8 z4 X& W/ [/ B行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
, @7 ?$ }; f1 E6 m行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
% M* }- A! |$ t; F1、 开关电源输出电压偏高
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
& l0 C6 w4 n0 V' z过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
+ L& n5 [5 {$ }; {; s) Y3 \1 F  H2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
6 m! W2 ?# y# u/ |( f7 [1
, [" s; z/ j' s' p; f徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
2 p: m0 d& D+ \2 R2 z电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
6 |& e6 a* O+ X7 y& P4 w8 x还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
6 @" ^  [! G/ y, [# u) W较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
; }) o" f: ?& y! i+ P% J热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
% x2 ]% Y% M+ w8 k3 s+ F8 ~8 y* ^穿。
4
9 b9 q" D# B: p  L4 i9 _8 S、 行频过低
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
; _% r# p, E. g4 @( X7 e周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
2 p8 A; ?0 b+ @. c9 o( l电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
% a) z. c8 N% t- I0 t0 m9 f5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
% b% \! ~# E5 k/ x管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
) Z3 l% l& w: M! d' N路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
, P6 O$ N* B, g5 K由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
! R( Y& D0 l9 ^: p5 |$ f/ U( v, K假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
3 x0 q$ d7 x2 Z" c7 }2 U变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
' f+ ]/ n3 v7 M* b超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
: A) O4 K' M; s( W3 Q: ^造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
9 x- q7 M9 S# X效造成滤波不良。
" g: L/ ?- i2 [$ v! T4 T' y
[NextPage]

、 环境潮湿
; r) Y5 c6 a' ~. @8 c7
这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
导致损坏行管。
+ M! c9 {# i6 r$ k4 c2 B9 z8 u, w、 行偏转线圈开路
8
此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
3 X) W7 t6 g; j0 {程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
+ M4 D( h9 {, c/ K及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
0 c  ^8 J1 I* q9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
1 D3 M6 w1 h5 P* b如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
4 ?/ F# ~% O+ |0 Y) g4 `! }而击穿。
2
$ K1 F7 M" c- |7 c3 C8 T, [徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
! p6 }+ [' x1 _( G" t' i压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
. N; R) q# b( s1 J6 V5 e4 [0 ?流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
  P/ H- ]- x+ L11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
逆程二极管等引脚虚焊
" s: t/ X! d/ T2 S+ K虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
8 f) U' V9 [; y) P$ L# _. W3 c程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
7 K$ N5 |! k: S7 S7 L$ ]) K1 i/ s成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
  C$ P* w6 w9 h3 G9 B) r: J或阻尼电阻的行管
, g* z7 f8 T5 K. Z) E; @我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
13
、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
2 y- e- C3 W2 z& D3 }高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
5 G2 P6 W% i. s, Y1 d高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
* v) Q! ?' n/ Z6 [; X行管负载变化异常造成行管烧毁
  |; D* }  n; F. J5 H: M