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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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发表于 2011-4-28 15:46:43 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

& F( X. U* Q+ p3 k0 w* k8 o屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
3 ~3 ^( _9 m9 e* t  V; F$ s) A8 U根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::1、过压击穿 2、过流击穿
1 R6 S( |. g' D& j& p根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::/ d8 ~2 r. z- P+ K: h: p7 F
行管损坏后,我们在拆下行管,可以使用万用表测量其静态电阻,假如 CE
  }7 Z. K2 O7 s2 v" G& F) V阻值在数百欧姆,行管一般是在使用过程中,过流后过热慢慢烧毁,在烧毁之前' I! F6 v) l' s. f4 f, \
需要有一定的时间积累。" U* c; _# _7 {) M5 d
假如 CE阻值在数欧姆,此类情况是行管过压烧毁,多数都是瞬间意外忽然* ?% i4 i* `5 P0 V9 a* p1 g7 x
烧毁的,在烧毁之前没有异常征兆,或者是开机即烧行管,或者是使用几天也没: z7 w) q  q' \1 ?& m
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。 4 A$ S9 V1 M; @3 A" y  E3 j+ p
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法:: 3 j3 h+ R3 q8 z8 Y( H
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法::- d& X& Z% s1 d( Q. U6 x2 D* I! N
17 ]- p6 {4 r0 F" i4 l" k
、 电流监测法 + [. [5 I" m% Y
检测点:在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处,二次供8 I: m5 I6 `7 o
电调整管滤波电容处,行包低级线圈后。2 q. g* T, `, A
2、 电压测量法
- P/ U" F: h7 Q; @- h1 G% k显示器的行激励供电由于显示器设计不同,有取自 12V, 45V, 80V等几; V/ V- ^' m# C3 R
种,显示器的行管有使用双极型的,也有使用场效应管的。
4 `/ k' X: Z4 J1 l0 M+ X# ?: y假如不好找对应型号,可以考虑直接使用 IRF630,在代换行激励管后,最. u. a4 X! p7 \8 E( Z
好使用示波器测量一下波形,同时长时间监测一下行管的温升。 % h% d2 C# R0 a6 I, }; S( r
3、 波形检测对比法   v, {* o7 {, [. U
行场 IC 的 HOUT 端,行激励管的 C 极,行激励变压器的 34 脚,行管的 B
+ s4 K) o1 a' @- T2 G极,行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的,假如某点4 e: V2 R7 U2 _7 t3 H
VPP 值变低或变高,都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
# c4 }4 K. z/ s/ p7 U! R的! ]) X2 ~1 _. ^8 V: \# b  N; w/ k9 R- N0 U
的波形畸变,也会造成行管过流,长时间使用过热烧毁。通过波形检测,可以迅# N! U, h: p# a, N
速定位故障点,找出故障原因。
. J& g/ H% W: Q4、 温度测量法 ) Z( _. Z4 Z' b, N
主要用于更换行管后,对行管的温度进行长时间监控,一般行管连续使用两  F' A/ U) |8 i+ ?# ?7 `
70 度以下,基本都可以使用。注意测
+ A% W$ l% x7 b! X# p; I个小时以上,行管的温度不上升,保持在
. s8 C7 ]5 A' _* x! u4 m: ]% S" D& _量时,要盖上后盖,不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异,要测量1 f& G7 a6 g) ^4 \
时要注意与实际使用环境温度相当。 9 Z( I/ Z+ Q/ V  g/ \' C" k) F& n
5、 元件替换排除法
2 J2 Y7 B1 i% p对于判定行逆程电容容量减小的故障,可以采用电容并联法。 ( M! Y' f" l: L; p2 A
对于行管发热量大的问题,可以选用几个不同的行管(三代,四代,五代)
' F3 p/ @$ @# t3 u, @的行管进行替换,分别测试行电流大小和发热量,温升最小的选用。, b  j/ H1 s1 X* c
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类:: , S, ~$ w3 |. o
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类::: `1 I2 x1 y2 K; A
1、 开关电源输出电压偏高
( N! q6 s, V( A8 m4 J由于电源稳压系统出现故障,不能稳压,导致 B 电压上升。假如 B 电压超
9 ?8 J) Q: K; G# Q3 O1 F, O过 10%以上,会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路,误差放大器
3 v; h3 T$ z9 p% E3 l, Y, \, R和脉宽控制电路的元件。另外,若电网电压太高,超过了开关电源答应的稳压值( H: V3 t, c) a4 J& U! F, R/ p
范围,也会造成开关电源输出电压偏高。
4 f5 U( m: n& I" J2、 二次供电稳压电路异常,导致二次供电过高
  \3 A1 i, ]" j* F) |正常情况下,显示器开机时,由于缓启动电路的存在,B+的电压是慢慢升
4 R% A3 s7 G8 `2 s, C8 w1 N高,而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏,就会造成开机时: \7 W8 }0 K  B" g% T+ ~' N3 I( u* @
1 . p1 f1 T0 W4 u1 W' E5 K
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ:26433849 TANK
0 n5 E( V+ u. P) d4 Y电压立即跳升,同时电压不稳,轻易造成烧行管。
3 i/ r" r# o) W% r$ H; i还有,二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏,也会造民二次供电异/ G  c& M3 O) L7 t7 F8 X" d; @
常。
4 @( _+ t4 c% k3 Y6 y3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路 3 N% f" w3 n/ K$ b1 o+ x. I' G2 u: }
行偏转线圈奩行输出变压器发热后,因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短9 S* w& a. `2 w2 B; o" p
路,假如保护电路性能不佳,则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
2 G* b: A" z7 g4 k9 K较,通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管,此时用手摸散
) ]+ H: S( O. o/ g3 N热片的温度较高,则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路,引起行管过流击
) |' g4 r( R3 ?+ v穿。
$ f' d5 c6 k* a6 [, U; g41 q8 w1 C9 z% E' Z7 l
、 行频过低
1 W/ z, O( b3 X: K# k9 m由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比,即行频越低,& n& q' q# X& n/ G! [4 d4 A
周期越长,行正程时间相应变长,结果使行偏转电流上升,当超过行管所承受的
8 T: f3 v! k7 `  n电流最大值时,使用行管烧坏。因此,在调整行频时,应避免使用行频长期处于
6 e% M4 T# p' p  R偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后,根据显示模式自动切换产
  G5 i3 b. g& O# I+ L生,一般不会出现行频过低现象。
& |8 R* n. r& L5 s: ^" L5、 行逆程时间过短
, T0 |5 d0 q3 T! u在行逆程期间,会产生很高的反峰脉冲电压,这就要求行逆程电容,行输出2 V2 z0 Y4 A& U$ \3 `% _+ M0 ]
管,阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小,失效或开. x8 E2 I6 X7 v9 U
路时,反峰脉冲电压上升,一旦超过行管的耐压值,就会出现行管换一只烧一只
7 v+ s* e: f3 r2 t! \6 E的结果。此时,迅速用手摸行管的散热片,若温度与未开机前差不多,则说明是$ e! E* \& H8 }! c
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。 * Q3 y* Z* W% \& P) U2 \
解决方法:是将行逆程电容全部换新。
" v) X) A6 I% l0 a9 h6、 行激励不足 & Z( h  K' F* G* M* Z" j
假如行激励不足,行管不能迅速饱和,导致行管内阻变大,使用行扫描线性; T3 O9 f4 U5 v$ c3 @
变差;假如行激励不足,行管不能迅速地截止,使用行管长时间地处于有电流流
/ |) g3 p* W! \/ u过的不正常工作状态,将造成行输出电路的功耗增加,引起行输出管发烫。一旦1 Y& F- v2 e  s
超过行管功耗的极限值,则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢,有的则
: ]/ X% r! A' y开机就烧行管;有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长,不防用示波器观察
& r& N9 ~- h5 ]3 c9 M+ d激励级的波形,可帮助找到故障原因。 5 {# Z% P2 g% C( q
造成行激励不足的原因有:行激励管性能不良;行激励变压器的供电电阻阻* p( P! x0 f  ]! z) P* j% A3 J- }
值增大;行激励变压器的周围元件有虚焊;行激励变压器低级烧组上的滤波电容# O0 T$ e. }. n3 g! L" I9 Z
变质;行振荡电路的晶振不良;集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失, G8 ?2 L/ \+ F
效造成滤波不良。
. }. P# j5 {; B2 K% z5 t& {
7 h1 x# `4 E4 O" E0 R. h[NextPage]  Q' ]7 k1 J  Y6 S; U5 X  Z

" N, K. b+ g# N0 R、 环境潮湿 ' B; M7 R! n4 J$ M3 W
7/ {/ u' Q9 L1 Q6 o( J
这使用行输出变压器周围元件漏电,或者因散热不良(如将彩电置于柜内,
/ t7 Z8 l, i% X0 A或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧),行管过热,使其耐压降低,最终
' ~9 [6 G" u! M5 [) D导致损坏行管。
4 E' U! B2 {8 X3 m$ v- D、 行偏转线圈开路
/ F7 w5 r3 `" u: [4 h5 n8
4 Y4 T0 w3 T9 v" N; X) V此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间,使用行管在逆
+ F8 ?6 C0 M; N  S程时间内也短暂导通,导致行管损坏。因此,维修时要特别小心,在行偏转线圈1 m  l4 _$ v8 Y1 J- Z$ ]3 m+ d
及其回路开路的情况下,假如长时间通电检修,是极危险的。 4 h  Q/ b& f8 N2 W7 \# h  W
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化,损坏短路等问题。
0 r; e& l% H0 o: u9 O* w; x如 S 校正电容短路,枕校电路元件短路,使行电流大增,造成行管因过流$ P2 E+ v+ ]) X8 D8 U$ V" f7 C
而击穿。
/ {% {$ g) I/ w  N0 y2
8 b- m9 m/ p( O" g6 D* S0 O2 Q$ g徐州市菲克斯科技有限公司 QQ:26433849 TANK
) Z  M! H# K! j8 m( N此外,阻尼二极管开路,自举升压电容短路,高压电泄露(如高压打火,高
3 `5 W1 P& @; f2 r3 Z压线穿孔),行管质量差,显像管内部跳火,AFC 电路故障等,也会造成行管过, S" j( F7 R% L5 o* s# v
流击穿。
$ `- Q0 E8 _4 v/ V0 K$ r10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容,取样电压滤波电容失容。 ' ?; r7 w5 o; q0 |2 k# e( U/ l; a
受四周大功率元件高温烘烤后,电容失容,导致行管击穿。
7 Y2 G( P/ Z9 o+ r1 `11、 行包(FBT 回扫变压器)或行中心调整线圈,枕校变压器,行管,* R% m. ^# r9 g
逆程二极管等引脚虚焊
* u, ]3 i+ t5 K, u7 y" Z* a7 A# z虚焊是显示器元件损坏大敌,开关电源变压器,电源管,行管,行包,逆1 f+ v7 C7 A1 S8 G; N6 q, J
程二极管,逆程电容,行中心调整线圈都工作在大电流,高电压环境,虚焊会造
- c( A# a& y6 Z  ?成瞬间的接通与截止,尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。 # f( m* e8 Z+ N
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大,或使用了内置阻尼二极管- H3 Q; d4 e9 j* \
或阻尼电阻的行管
% M7 w4 E; T. ~; u% p* s我们在测量行扫描电路的、关键点电压时,也要注意测量方法,假如测量方
# O9 u  y7 b' V4 E+ \法不当也会瞬间烧行管。
' {! F3 d$ T# o9 N8 i* k13
" l4 x% F" A1 j% C、 高压打火,也是造成行管损坏的一种原因
) G2 C$ @" ]4 W6 J$ F5 o高压包在使用三到五年后,由于绝缘介质的老化,轻易出现高压打火现象。* v2 W% h% @, p1 D: v' U3 R- {
高压打火可能发生在高压包内部,也可能发生在高压包对接地装置,也可能是高% f& v; a5 I6 f: b1 p+ u
压嘴周围打火,或高压线穿孔,高压打火出现会造成高压不稳,瞬间的放电导致
0 [7 v* B  }; C. T3 g6 i8 V+ R- @行管负载变化异常造成行管烧毁. z: W( D6 T: ~: N
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