屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
& {( \! ~. K/ x行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
需要有一定的时间积累。
+ F7 a& d2 e6 W. K+ I! O9 |/ I. C8 J假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
. ]3 H! l. I' I烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
( G# z* G- a  n. U有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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、 电流监测法
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
2、 电压测量法
# z  K) C, C9 A2 F' X7 \/ t: ]) b显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
" ~* u+ i5 |1 {; t假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
3、 波形检测对比法
& Y; v3 @8 A. u, r) h' U行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
0 L. {8 h* l) ]  l# v8 U极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
. {! D/ r* U+ LVPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
的
- y# ~  r* Y' R3 S7 n的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
1 C( H0 a8 @( l$ y- R& g! v9 @% ?: E速定位故障点，找出故障原因。
4、 温度测量法
) t( b# j) z, ?0 N7 h主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
70 度以下，基本都可以使用。注意测
个小时以上，行管的温度不上升，保持在
+ d. T$ G  g* w" y' H- \量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
7 b1 R% k# I* r- ]对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
" t& i% T; l8 l% Q- z/ e8 ~对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
7 {8 g  B4 h- U9 ]1 e的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
# E% i* K5 \6 M: W行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
7 V( |/ I( h* z: J5 {4 t行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
+ U6 L5 ~2 }, r' ^& G. e1、 开关电源输出电压偏高
% b" i$ q3 s* r. W5 w' {由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
! H/ l5 K& z) X5 \8 {' _" U7 P. K过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
& s" C) }8 ]* A9 Y; p范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
7 e9 k) T. p* r2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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5 H" F! W* E' P4 R8 X电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
. d2 |0 u2 n0 b9 Y$ @# Z; Y常。
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
9 c9 T9 w' t2 `4 Z行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
+ I8 |4 a( a' H: u/ M热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
& T# k& r  G+ G( z) n6 T0 {7 I; ]2 k穿。
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: p3 t5 Q% o& F( X、 行频过低
( F' U" {% x/ ~  h/ Z( S2 c1 n. Q2 q" {由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
0 h; ~8 A( J$ m) i  V周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
6 v" n0 u& N" B. E6 a4 C# w3 ~5、 行逆程时间过短
! p3 M' W/ R/ t5 \8 ~7 v在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
  c) e* Y& Q% {7 L4 e4 W的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
! q$ D! N7 e. [8 [0 Y  w  I& R" D由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
' D1 e4 q. ^* D8 c+ G# A$ @解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
  p- p& _3 A) X0 R4 R2 U8 W变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
. s3 b1 x4 P( O; `9 B. B8 |" N过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
. G' b. h3 r1 ]* |+ }: r, p超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
! B. ]% f# K& u/ ^变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
+ W$ \$ M7 |* H+ q" N5 z5 I效造成滤波不良。
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- R* F2 i) P0 o0 ~、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
0 @6 L, X" Q6 K/ `+ O' H或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
0 I# t0 ~. g/ Z导致损坏行管。
  }1 x4 ]# ?. W、 行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
% F' [  [( u+ A* Z% }6 q/ ~2 R+ G程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
" d; O/ E5 Q' W" X  n$ ]7 V' B及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
# n5 V1 {5 M, \5 r& C- E9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
% C! @, x- B+ j如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
而击穿。
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0 \' o- W  ]& p: {$ B. C4 \% F徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
! R; A) w* y% K. a$ Q压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
8 X+ A8 D+ i4 u, o) m% I流击穿。
; O# W$ M4 ~; E3 |9 i10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
, D: p6 e7 U! C& Q0 a4 X逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
7 J  ^! m# e# ~. n$ T1 O/ i/ X程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
0 l! N- T5 u' f12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
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9 d. {  @# D/ E  j' F、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
  O( }) y2 d. U" [5 s0 b5 t  P高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
/ X) c, D3 f1 ~6 T! y' i行管负载变化异常造成行管烧毁