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5 ^3 a% i7 g7 V$ t( R屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
' o L4 h% `/ X8 c, `9 H1 }- |! l根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿 5 P% z; [ S8 d" k+ ?4 V7 v# @
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
0 n. ?+ t# u0 q行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
: x! g7 x1 }3 N5 C) W+ E* i阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
3 \3 D" a; s8 O* f0 I* U. G3 S需要有一定的时间积累。6 e$ u w& Y& C _/ V1 O5 s
假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
7 E# S& N* w& [8 h5 u7 d8 o烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没, `5 o. X8 L$ G/ L* V
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。 5 I! N6 v7 f9 k5 j
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：： 4 T, S' E" v0 l0 c
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：8 F1 m, ]. U# w/ a7 [
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- N: Z, Q% O0 y. L3 |, ~、 电流监测法 ) Z# n8 d4 r4 T: @
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供! s" u0 c8 E- h
电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。& I2 c ^" U9 w3 J. o0 ^
2、 电压测量法
' I6 v; s. m& \2 q显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
# o% A, d/ O, `+ ^! H0 Y# O. p种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。 1 W' Z. B* x2 F+ H
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
4 L8 o `& W# R* N4 s* E好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
6 e. l: M b5 t/ X3、 波形检测对比法 ' D* s) t9 |5 @9 l/ b" B
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B; h- ]# l6 z+ i$ `
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点) S0 T0 M6 T+ |% M3 o
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点* F$ K' ?8 P0 {/ l0 B. ?; [
的( f9 W# Y3 V: H* X6 g f
的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅6 `5 k- |8 p+ d n; G$ `9 U
速定位故障点，找出故障原因。
+ ~+ d2 m0 j" M* R& w2 O% \1 P4、 温度测量法
. M" i W0 b- G+ Q4 H# G3 t主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两9 T$ a9 J9 W% y3 z" d2 S6 t
70 度以下，基本都可以使用。注意测, w" r1 s. z7 Y$ g# [. p, D
个小时以上，行管的温度不上升，保持在
. T( _( F y% l: R1 ^( z# R0 r量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
& ~( p2 ` M* @9 R8 d5 s6 E时要注意与实际使用环境温度相当。
5 B. }2 ]3 l- Z* F! `% u, x5、 元件替换排除法
1 H9 H" g5 F+ i7 F! y0 w) w5 Q对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
: {9 Q( k, q3 T1 w对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）" U6 F8 d& k/ G) c8 L6 Q/ ?1 B
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
' h# q2 G3 k+ Z/ s% M5 [3 K行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
6 g6 ^. a, z& q+ h+ N. ^* m; n行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：4 h5 o! _' Y/ h0 q. `* C
1、 开关电源输出电压偏高 ) e+ ~' k0 U* U! p- d
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超5 V! k3 d; ]3 M' a7 \& k
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
3 K& `. p; Y+ I和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
" `" @; X+ t8 _9 d4 b* L3 P范围，也会造成开关电源输出电压偏高。 , X- a+ a2 g: K) s/ o! r; F
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
: ~$ n. V7 t+ v6 P正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
3 O3 q& |+ R0 p2 h: @高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
2 ^4 x4 Z d/ {+ {电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。 $ m2 d8 U* }7 B/ T; ~6 l- y
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异2 o$ |' e9 F& V, Y! q3 A. z
常。
& Q) @" ^7 u) C. V; ?' l3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路 : K/ c7 \5 Z) u4 q9 V
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
% G, {% p B0 @! a/ I# t: ?" U路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比! _6 U8 a# c0 u$ z& }
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散. u8 |& q& B2 l- c1 |5 F% u
热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
; I$ I5 f; M( K2 b穿。
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* U* U9 S$ S$ k% V4 |$ B$ O% [, P6 W、 行频过低 7 Z% t5 Z' w" k/ N/ n) P: A- j
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，- q* r% L8 U6 M# R9 a0 O4 Y; S* x
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
( p8 c. y1 S8 \2 P+ q4 X0 x电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
8 X8 E# J- ]6 R偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产% {; M2 T# ?% ^! ^2 z% R
生，一般不会出现行频过低现象。 e# A. L- M1 r- O5 L; l
5、 行逆程时间过短 : Z) [- E. x( p, J" t
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出5 @9 N0 `2 a ]' n+ ~
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开, D" i1 \: g/ C- k
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只/ z1 ?6 H: M6 \. j1 _, D
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是$ }) u4 T3 j. n0 d1 H
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
6 H; k, b' m9 A2 x; U1 P# ]解决方法：是将行逆程电容全部换新。 5 _0 |# d; o( H2 S! d/ O
6、 行激励不足 1 i. ?. J: m0 g
假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性0 S7 C0 N! S% b2 h* {' }
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
; H! X0 e) j4 @& h' Y过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦- ^7 e1 ~; W, Y3 I- h) v
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
% C# @2 _" y7 b) n4 R开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
0 G( ?. B6 m7 p' t. q1 @. R( ]+ Y4 e9 |激励级的波形，可帮助找到故障原因。 , a, J7 ^% D: |4 R+ D' j& { ^
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻: H9 W% f' F; {7 a
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容4 g1 B9 O0 Z9 C
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
7 b, q2 z2 A! E4 }/ E* g9 K# ^% R/ m$ l7 g效造成滤波不良。
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、 环境潮湿
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这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，) j% ]# w. R, S2 j- F
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
+ K' @! Y7 N) K; x导致损坏行管。
/ a0 Q2 O7 u1 D: z2 e2 W$ @、 行偏转线圈开路 0 k2 j9 G/ \) q* U
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' _; n) f& D1 O# j ^* N& N此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆- _3 w2 F o( E m% n
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈( J5 ]" d0 c- P+ p5 R% m8 C
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。 * a* a% U" d& w- [+ j
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
% v- @! B, |6 _( }如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
! x9 J2 f W0 q6 ~. X& i$ O q. E5 ^# Q7 ]而击穿。
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7 `. D: k7 |1 U4 {% ~徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK B) X" H: K1 q0 d
此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高5 j# X2 o3 u& Z4 m
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过; q7 w# q- E a0 \2 V
流击穿。. J% W3 L* Z1 Z! q' g
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。 - Q8 r% E' ^8 M5 x
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。 2 Q0 V$ {2 Q' r0 f" G" j7 X
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
6 f$ k; K# N% d3 ]! \1 ^逆程二极管等引脚虚焊
1 c: y" Z0 r" x虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆5 d, t+ v3 {! L' [6 ^
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造8 c! f% t) x7 c" W6 _* T# A) T" V
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
1 D% u$ J) K" J% f12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管6 w/ p- Z* e3 w' q% j1 V
或阻尼电阻的行管
) n& z; I3 s5 [$ }% P4 p4 D1 @我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
' z- M5 w- s- A. c* ~+ H/ b& i( P法不当也会瞬间烧行管。 3 _. {# ^# F3 a" r
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因 , `/ T1 C: M. x& X" U J8 M& B
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。3 P& N9 q9 K0 E; Y
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
$ `0 C8 q) u/ ~7 v- F/ @. m r6 W8 }压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
7 n6 ?( g( Z# B; B; _# o: Z- B. ?行管负载变化异常造成行管烧毁
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发表于 2011-4-28 15:46:43
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