屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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5 N3 Y4 e% L$ @6 Y屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
" r& S8 g  ?+ l8 u8 c$ @行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
需要有一定的时间积累。
* D" ^& y2 t7 [* S0 [3 T! a假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
6 n( R4 t1 F7 U4 P1 t7 b4 M9 M烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
3 ]/ X3 i: W& y行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
2 `. y! ~% ~9 Q行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
, a2 ?$ S1 ~' g$ a; J& P1
、 电流监测法
$ P" ~% M! y/ ^1 V3 l检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
- r, ~$ D- E" ^$ N1 D+ O8 Q. A4 Q% R电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
9 n/ \  ]- \3 d6 l% K2、 电压测量法
( K* A& }, b" f9 T6 |" c显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
* J1 D. J/ f7 {3 ^假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
3、 波形检测对比法
7 c$ D4 L( A- A6 I& \行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
0 \' Z- L1 `2 W/ s2 {2 z1 f极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
5 l; k5 O9 y9 N的
9 U. h$ R/ d$ J: c8 E的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
  x2 j3 `) {% W- v* \速定位故障点，找出故障原因。
4、 温度测量法
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
7 X) a5 M1 ?) [( X70 度以下，基本都可以使用。注意测
个小时以上，行管的温度不上升，保持在
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
" A* ?6 `/ K, R8 t4 z时要注意与实际使用环境温度相当。
0 ^; H% y  t, Q! J5 l; X" m5、 元件替换排除法
) |8 @7 u% v+ H* j2 G: N2 ^: w  L* a对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
4 P$ t0 r5 |8 }) h1 K) T2 F行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
5 h; g% F( X" O/ t行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
  p2 q. ^0 o. i. w/ f1、 开关电源输出电压偏高
! q- r0 @; I" p6 H' q8 n由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
5 j- X( `0 E+ f1 T4 G( ~# E8 o和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
% e) A$ B9 f! G7 Y) l范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
6 p) o9 ^2 n$ {9 S& y2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
) z, r: R7 y8 L4 z/ h正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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3 j& g9 o% O6 d徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
+ |1 o+ F. E' c* k( k/ F电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
1 j* J) a* Y6 J6 s; E! w还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
5 D. r/ t% l* }7 [" }行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
6 r7 |5 `/ Z% T( j; P. n热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
1 K' n( I4 Q, H穿。
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、 行频过低
$ C% r, ~$ f1 R; C5 Z- E由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
; S" ]3 g' n5 |4 A# d/ ?5、 行逆程时间过短
& B* o  m' M8 k) S, j在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
% l5 e6 a7 C' }0 y6 u路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
  }4 D# K# P& y% c- K4 _; X由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
; f6 r* x& X& n2 x( o( s解决方法：是将行逆程电容全部换新。
5 }- k8 Q" V7 k6 f% s$ F6、 行激励不足
假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
3 D/ q6 v: s/ b' M+ D# a5 D- O9 P变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
' r" X' w/ P( M, T开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
. d, b# \. C' a造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
2 \- j' o$ X! T7 n' U变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
效造成滤波不良。
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3 P' W3 R7 q9 Z7 _3 K, z[NextPage]
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2 S5 u" Q/ W$ U5 m. I、 环境潮湿
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" r8 O; t% x8 ^这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
- m% d* _7 e1 X. A9 ]# @0 z: d或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
. Z4 i, n7 q" n* [% ?导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
& L2 E7 D  u  e  Y, |9 @程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
8 n: I7 q2 v- O3 N及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
; y3 X4 z( R# f( p' p9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
. L! d" G) j+ Z0 }# t* i& [如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
而击穿。
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' i, E1 ?6 h" x: R, T3 N徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
' e* Q6 [0 c* M$ ~此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
& b+ _1 Y/ f+ Z4 F% l% X& M7 _% R压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
0 e# K: \, I9 @3 I; W. O  y/ S流击穿。
9 `) C8 @+ Q  p3 f6 D) Y, }( p8 i10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
逆程二极管等引脚虚焊
2 U& Y  ]" F% Y$ v* r4 L- A虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
5 p! T4 C& f7 W+ r+ A+ t成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
$ ~  P8 ^- c. ]$ k7 K/ S或阻尼电阻的行管
. U6 [7 M* d$ \9 P! u' B我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
7 o6 _1 w" L' E( D法不当也会瞬间烧行管。
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1 L2 A$ u, Y7 Q& K# c0 M、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
* z: l* S- o! U! X. P, f高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
% M' Z' i- ^2 {5 l2 h! u, s* Z高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
8 c% O- }! e5 [0 t* V, ]9 S7 s压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
行管负载变化异常造成行管烧毁
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