屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
" q/ G) N/ `5 x+ C根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
7 F% ]0 S; H( x" l4 G根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
; t0 k  P  V' L; s) ^行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
2 q. r1 W/ Y( T1 O3 c/ ~, C阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
需要有一定的时间积累。
# j( M0 h4 ]  O假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
3 c* X  s, V/ K; O  H行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
8 A9 u* r# x* B- k% [2 K行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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) N0 K0 a# O0 C8 N、 电流监测法
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
3 E6 G# c2 E) ^9 }: b; O6 e  }电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
2、 电压测量法
显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
- z- A6 E; E4 _; }. w0 j假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
  a  h) O9 o! V/ i3 G好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
  K4 k& J  [3 l/ J0 `3、 波形检测对比法
% o5 |. v. d6 p: w8 V  O+ I( @/ L! W行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
. I1 j! {2 ]# m# b的
* |* B& V) }1 t的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
速定位故障点，找出故障原因。
! K( e0 E2 K; ^4 S0 t4 p4、 温度测量法
: \0 Q% d  x9 T" D' n主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
6 U% l' D6 D8 Y, c& t70 度以下，基本都可以使用。注意测
* A. Y9 k6 T) q5 }8 w1 B8 g5 `% J个小时以上，行管的温度不上升，保持在
- y2 Z, u. W! u( P8 f量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
4 N1 q5 o' g- s: P; y+ Q& l7 p# ]2 p时要注意与实际使用环境温度相当。
, g6 Y6 ?3 e* `% ~' w7 c5、 元件替换排除法
0 u$ q+ Q* }2 _' h" M2 b) u( z, z对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
. }: X9 i; Z3 e8 I- s! a* m8 S对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
: r1 N  X4 V4 E; k8 c1 i* C  y( c行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
1、 开关电源输出电压偏高
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
! Q+ O, t" i2 d6 V  _: q  N2 D5 x+ k过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
  F) p4 p* W- K& F0 D0 d: z1 h/ c和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
* D, J' a# L: Z' t8 o4 c$ d范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
; ?- z$ r4 |2 ]: j5 Z2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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& A* }6 E. u+ e5 p) ~+ X& ~5 U: j4 u徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
  d, n4 \5 }1 u/ Y电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
! t6 ]" }  G6 q& k  H- Q% Z3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
$ {8 _. X+ \7 ]% j; n穿。
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、 行频过低
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
. x1 \- I8 W. K* D电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
8 x6 Z$ H0 q# R5 o+ i, K" _生，一般不会出现行频过低现象。
5、 行逆程时间过短
- K+ x& {) ^( H, a7 q1 P% O' b在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
! H/ x8 z9 q; M$ s; ?8 C管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
0 z0 Z7 x; \$ ?. ]  w( r$ C的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
  Z- w: M% _) F2 \( f4 V由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
. C: P8 n/ n8 t4 [$ }- h解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
# p; h% ~, o; X# a" M假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
# `7 U6 Y- g5 C' k+ \变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
/ b; x: Z" ?% }( V7 ^0 c过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
5 P5 `: `( t2 l( Q. O开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
  x: N" D& E( W" F激励级的波形，可帮助找到故障原因。
& h2 e4 w1 ~# O  s! ?2 p造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
1 L# j7 q7 p4 Y, s! x+ u% v值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
! S) n" R7 E+ i) o效造成滤波不良。
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[NextPage]
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1 B4 x& O  p% n# f& S: g1 ]、 环境潮湿
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: e5 V/ X5 P: ~这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
. C" B, f: Y! y- [: e3 ~3 D# H; e或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
9 B% d9 X9 D) N导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
" m8 L! M2 h! F( a5 g而击穿。
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此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
( s% Z- {5 |/ d! a5 m, G: y% @- X流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
; r# w( b- g, `% U+ |! q逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
9 L( E* A* J- X$ P' i6 F" p6 S! A程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
! i3 O  E, @" I& M6 Q: e7 P; Q! c成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
0 o: V5 l1 A" Y* \12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
" v! x$ p8 ]6 [' }或阻尼电阻的行管
( t; g) N* F+ U; L  V4 q2 n, O5 O我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
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6 N  L* I/ V$ n! P  B. c7 F、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
5 R/ d6 w& V' H7 L# M高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
5 N5 w* `7 F  n2 i4 ~  Y压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
. e$ v6 c9 H, o1 u) u# p; a  H$ b行管负载变化异常造成行管烧毁