屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

江西电子维修

屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
: ]* }8 ?% t) J+ X( n6 ?% Z3 e根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
6 A1 R& w- m- b* Y; z- L; l行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
需要有一定的时间积累。
2 X; s$ R! U5 X1 X4 L# {! E1 n( |假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
7 O* h" ]2 J$ K行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
6 B% r4 @4 Y% b8 v% X2 v- a行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
8 |7 I& V0 R8 D, A. C& o/ O1
4 I' c! B5 n& n# [5 j、 电流监测法
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
3 b9 g: q! e8 E电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
2、 电压测量法
$ Z4 X& Z6 e* O# e' Q9 c- j' E, S显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
- X* p3 u# O9 r3 o假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
3、 波形检测对比法
% M. N$ U6 Z1 s3 q  O* {0 T行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
& K3 x) p4 J* B4 F( T# R) s2 i的
: y" q& L4 E8 a3 v# ~; d的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
: d$ ^: a) A2 I, H* N7 l9 J速定位故障点，找出故障原因。
- H" t6 H  j4 t) ~7 n4、 温度测量法
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
) J. I" c: e3 w2 c9 u, [6 D' x70 度以下，基本都可以使用。注意测
个小时以上，行管的温度不上升，保持在
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
时要注意与实际使用环境温度相当。
1 P% I  @- Y+ D4 C; Z6 y0 t5、 元件替换排除法
  ?/ G, N) E8 l对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
0 T. ?3 d& a5 {& s6 y+ G6 V对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
- J* e! H8 w; h% D( S的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
6 S; K5 W( J$ `, B行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
9 I8 C9 w1 g* L# X1 Y8 V- x2 B行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
1、 开关电源输出电压偏高
' n: p0 i; Z! V# e" S% Z0 [由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
$ m: z* s! }" D6 H5 n6 \$ U和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
0 V% ?  i7 _0 M* Z( k2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
9 T' Z2 Y8 q$ U4 I, |正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
0 X3 X- Z8 i" j- l5 F高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
1
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
% _+ B: |7 M! [电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
' m& C& }- N7 B还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
% }0 W- R/ n( n3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
& W+ V4 E" K; N8 x3 @( F, C0 f行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
7 H+ X* t$ f* R  {路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
% q3 q0 c+ P+ {5 Q较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
+ R7 n; G: t7 n0 P+ n6 ]热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
穿。
4
、 行频过低
5 M! x( Z; V0 O  I2 T7 e由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
0 q5 l! q( {& c) T+ S- m周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
. k, J0 h' d0 J* Z偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
4 S' e& B3 L3 [1 o# q3 I' B: k+ }& L生，一般不会出现行频过低现象。
3 N- x, `; N5 R4 ~( C5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
# b, \# n# J# }6 t/ G3 i! F管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
# {* Q6 Y3 }  F3 x, P$ |' K, z路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
" o4 {& o- P4 u  J8 c' X的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
3 j9 c( r& V" u# k解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
5 A0 N! F4 d( y9 h( u假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
5 n3 L. J9 Y6 A, `7 R) m: i造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
效造成滤波不良。

[NextPage]

* s  ?" c( M- `) |+ B9 v、 环境潮湿
7
这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
" a- l2 J. F% a& G8
3 y$ [4 z$ ^( m; P0 `$ ^此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
8 r. T' Z! A9 t' t1 ?) a2 n+ P程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
& U" R7 b7 f% G8 U- _9 Y) d: S而击穿。
( a$ B$ V( ^7 W0 d4 |5 T0 ^0 o2
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK
+ ?: e- ?. B# o, J4 |7 O; r% }此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
0 V' W: v" s2 Y6 P流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
逆程二极管等引脚虚焊
7 g7 W5 \; [& `虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
* H$ W# B/ D" H: d# t# S' l6 N程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
, W( C0 A: Q' Q# K9 t12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
, p8 Q1 ]. P' L) k" b# _; ?! j. R或阻尼电阻的行管
' g: V7 z* _( {* G- V5 [我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
法不当也会瞬间烧行管。
+ o# N% n8 ^5 G" m13
+ I; M4 r1 G: f4 C" y, P9 [、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
! ]' @- X5 [9 q' b高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
1 f; s, a, z, U' G, Y( s. j压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
# i8 b* d4 k; k5 X* L$ X% q行管负载变化异常造成行管烧毁