屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：：
8 b; k; J8 s: I: U- J9 t+ ~. f, n行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，假如 CE
9 b; O. z5 x4 b阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
" w* V# k: M( q需要有一定的时间积累。
假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
7 L; ^0 W- W' `烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
: M/ q. u7 I1 a5 W% J行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法：：
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、 电流监测法
检测点：在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
. A/ q9 m7 K6 Q: @电调整管滤波电容处，行包低级线圈后。
0 l- p* H) S* Q* e4 F6 f3 E  T2、 电压测量法
% `2 B  ^7 _" |/ W; S显示器的行激励供电由于显示器设计不同，有取自 12V， 45V， 80V等几
6 B( y* i0 y* D6 Y7 E种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
9 B# p3 a# `# V$ n; Z9 M假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最
好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
0 b& z4 r& I! @" y. n  i: {3、 波形检测对比法
7 e# Q/ P, {$ e6 P行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B
9 I1 }: N/ Q, }6 X% T6 T极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，假如某点
VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
3 s- {+ f, ]  h7 U% I: x的
2 s$ o5 p+ p6 E' k+ [1 o/ k的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
/ l% e# S* j, L7 T5 O1 k" A速定位故障点，找出故障原因。
4、 温度测量法
9 \5 T3 r5 [- z主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两
70 度以下，基本都可以使用。注意测
个小时以上，行管的温度不上升，保持在
7 t- F" W% [+ X6 d量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量
时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
9 N3 M6 u5 O2 i  z2 N! u9 C对于判定行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。
+ f! z# m8 Y1 w: x5 Z2 X, x对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代）
$ r2 u+ h8 _. T* m' z的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类：：
1、 开关电源输出电压偏高
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B 电压上升。假如 B 电压超
8 I& w* `* f6 b2 R0 K8 V) Z# G过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器
和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源答应的稳压值
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
$ _& G( `, P- Q2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
( D0 S' U% a& u高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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7 c( N, {( A* Z3 r" I电压立即跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行管。
4 C. ~& R  o9 W2 ^8 M8 |/ w还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
. U% V4 g9 q, N6 w% C' p常。
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路，假如保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
+ \. K) ^2 ~! m3 {; I% \" G1 G4 J较，通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
: B& `. g* a9 F6 r热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击
穿。
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、 行频过低
由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
3 z; G2 P4 I8 U; J, k周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的
. u) V4 R; m( I: x, M电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
/ |' @, g8 X. ?1 h& J. Y! s) Q5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
* V+ \; g; s2 X7 Z" |* s管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
0 l& J) x/ q0 Q路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只
& ]2 a' l- ~' }; n1 t的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。
2 a! H# I5 N4 r3 _) W% I解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
# w1 _+ p: m5 T& \( y6 R: s假如行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
  D$ r" C4 ?( q4 d变差；假如行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
9 y' c# {- M" L: t! ^超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
9 i1 c: A, C! h" M开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
激励级的波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
( G5 E; U7 F8 \# n0 N2 k值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器低级烧组上的滤波电容
, o: ?1 N. ?/ R9 w0 F+ W  }2 }变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
. }# `- L, w: L$ a: v效造成滤波不良。
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、 环境潮湿
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2 r. \2 S( ^/ S, u) B% d- R这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终
导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
( p; C8 K# {; T4 @3 C2 p! ]如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流
而击穿。
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此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
: i: Q& B/ P* ?0 L8 @8 h受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
( w& e1 J3 @% o6 Y/ s11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
/ l8 O5 @0 p" L- W, w8 \) \逆程二极管等引脚虚焊
7 a0 J7 s) v. c) \) A% t* r虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
+ P$ _) `5 `# t- u3 E% n程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
7 B# E- j- A$ M' W( u成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
( N/ g3 o' h" i12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
或阻尼电阻的行管
3 \+ n! Y+ P7 U8 Z0 D# C7 ?1 [我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，假如测量方
1 D, G( z/ [( }法不当也会瞬间烧行管。
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、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
$ k! [3 W, T: n. s; v高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
% w5 Z% A- I, Q* @. z% L0 ]; d. g高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
6 C$ S, L( F, J/ |压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
9 B. p$ _0 s/ ?. [; w) ]. A" B行管负载变化异常造成行管烧毁
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