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屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

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发表于 2011-4-28 15:46:43 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
1 \2 L) T5 V  q  c2 J7 s
屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修5 ?; D3 h; H/ s* M6 |2 [
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::1、过压击穿 2、过流击穿
  \& M' j% e8 [) a+ N) }4 {, ~* q根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分::$ U! f3 j6 M! v0 C4 {  Y- ^
行管损坏后,我们在拆下行管,可以使用万用表测量其静态电阻,假如 CE7 [; w5 K7 ~1 m& \- n% e; R
阻值在数百欧姆,行管一般是在使用过程中,过流后过热慢慢烧毁,在烧毁之前. m2 q  q+ r' t# u
需要有一定的时间积累。# d+ o$ l3 V. m6 A& w& p: Y
假如 CE阻值在数欧姆,此类情况是行管过压烧毁,多数都是瞬间意外忽然
0 }% ^. M# e7 B7 I5 \: m* w$ n烧毁的,在烧毁之前没有异常征兆,或者是开机即烧行管,或者是使用几天也没5 G" X, U, m: b1 \0 x* J
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行管。
6 ~2 C" g5 U3 }5 A, C* t% G行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法:: ; G+ z/ j& D, d# {2 n9 n& P% i
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法::
. U( w# V8 n9 H4 \1
8 v; L0 m2 t/ R5 x+ e) @、 电流监测法 3 r4 [: M) M5 g4 c
检测点:在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处,二次供1 H7 K5 p5 `7 A. P
电调整管滤波电容处,行包低级线圈后。8 Y+ b! ^. d6 O  Z' \0 C* k3 u
2、 电压测量法
$ ]/ [9 K( ^$ ^显示器的行激励供电由于显示器设计不同,有取自 12V, 45V, 80V等几4 ]- V4 [) v% i
种,显示器的行管有使用双极型的,也有使用场效应管的。 5 n! G) c3 U7 ?
假如不好找对应型号,可以考虑直接使用 IRF630,在代换行激励管后,最
! l! i+ o6 L; E6 T0 G好使用示波器测量一下波形,同时长时间监测一下行管的温升。
# e, y  A; L, {8 o3、 波形检测对比法
1 F. Z: h& i7 t( i, h1 z行场 IC 的 HOUT 端,行激励管的 C 极,行激励变压器的 34 脚,行管的 B7 a! ~1 ?. B0 p% F& k4 O9 {: J* L
极,行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的,假如某点
0 H( @+ X5 J+ L) |( JVPP 值变低或变高,都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。假如某点
6 }; l  q+ F3 S, Y/ J* q3 f
5 ^' U3 J' N9 W* D/ H的波形畸变,也会造成行管过流,长时间使用过热烧毁。通过波形检测,可以迅" }5 Z- X, p) o9 b# [" V
速定位故障点,找出故障原因。 + |- y) O, I1 S0 p/ w3 R2 E
4、 温度测量法
9 N. q* S; c3 Y主要用于更换行管后,对行管的温度进行长时间监控,一般行管连续使用两7 G+ b6 m: F$ e& x( H. V% @: a
70 度以下,基本都可以使用。注意测2 {, V3 `& C2 ]3 Z8 Q7 k
个小时以上,行管的温度不上升,保持在1 o% N5 ~7 w! f' m* i* ]8 [2 l
量时,要盖上后盖,不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异,要测量
1 [/ R8 y  e/ X. L3 T时要注意与实际使用环境温度相当。
' ^* h( u; q& ]" B% P0 D3 u5、 元件替换排除法
' |6 S2 V3 e' A: W+ s对于判定行逆程电容容量减小的故障,可以采用电容并联法。
9 p. @; O- M+ p& I% ^8 |" `" R对于行管发热量大的问题,可以选用几个不同的行管(三代,四代,五代)
- p; ]1 M) e3 u$ o" }- ~; |的行管进行替换,分别测试行电流大小和发热量,温升最小的选用。9 ?( r( h1 N2 A1 ?4 {, Y
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类:: + n% u# M  s" z: |' a$ o, e) l/ o
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类::
& i  m' c. H) z5 I7 F( ?; L1 M1、 开关电源输出电压偏高
/ K5 D- p) z+ l: M' |0 Z; @由于电源稳压系统出现故障,不能稳压,导致 B 电压上升。假如 B 电压超
; k  k' |% i) \- e4 `* c3 v" T过 10%以上,会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路,误差放大器% q* J; k/ h" y) z& \% t! d
和脉宽控制电路的元件。另外,若电网电压太高,超过了开关电源答应的稳压值
- d' }& d# S7 M范围,也会造成开关电源输出电压偏高。 , i( E9 W. z7 v9 a9 I
2、 二次供电稳压电路异常,导致二次供电过高
! G& Z; m7 p; z) C+ A) M正常情况下,显示器开机时,由于缓启动电路的存在,B+的电压是慢慢升, a$ {5 s$ C3 o" S
高,而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏,就会造成开机时
8 k) b- J. B+ V& \1
# _; ^7 A" G* o. u- W; O6 M徐州市菲克斯科技有限公司 QQ:26433849 TANK , p! T0 X' K9 i. W( c
电压立即跳升,同时电压不稳,轻易造成烧行管。 2 |. x2 C) q, \# R
还有,二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏,也会造民二次供电异
$ s" n$ Z0 q7 z$ `2 n, s常。: _' o7 L5 w' R' g  V
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
# g$ V/ j- A* F行偏转线圈奩行输出变压器发热后,因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
4 \0 I5 z/ ?8 s4 n3 k路,假如保护电路性能不佳,则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比9 c9 |/ e) M! Z
较,通过测量行输出级电流来判定。假如开机瞬间马上烧坏行管,此时用手摸散
  e0 w" x3 b/ s  U4 t) q- k热片的温度较高,则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路,引起行管过流击$ ]4 O  B+ {% c  j) F
穿。
' N5 \/ Q) q, q* F: x% z47 _" J) O2 ?/ z2 N$ `
、 行频过低
' r$ d1 D+ r3 X# s1 k由于流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比,即行频越低,
1 j9 ~# [6 e! V2 e9 @- E4 C# ]8 i周期越长,行正程时间相应变长,结果使行偏转电流上升,当超过行管所承受的
; W( B% D/ x( z, o# N电流最大值时,使用行管烧坏。因此,在调整行频时,应避免使用行频长期处于
1 P2 i1 J4 Q' ~) \" t$ K1 M偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后,根据显示模式自动切换产" b# Z+ L5 K/ t
生,一般不会出现行频过低现象。
2 V& g3 l2 W) Y) J# J2 ^+ z5、 行逆程时间过短 2 }3 ^1 e0 ], @1 |) w
在行逆程期间,会产生很高的反峰脉冲电压,这就要求行逆程电容,行输出
. d' I# P( g+ a7 p2 H管,阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小,失效或开1 Y$ K5 v+ g6 A* g: Z8 j1 C0 h
路时,反峰脉冲电压上升,一旦超过行管的耐压值,就会出现行管换一只烧一只
) [7 `) D# L8 t8 Y! |* {的结果。此时,迅速用手摸行管的散热片,若温度与未开机前差不多,则说明是; o9 M- K  a  U( `  g+ A6 o5 S' A
由于逆程电容开路而引起的过压击穿。 3 N$ W! i) a# a3 L$ @8 O9 I
解决方法:是将行逆程电容全部换新。
/ l; q0 p# n# N$ j& d1 T6、 行激励不足
  _. U6 ?+ v" ]& m& L8 o假如行激励不足,行管不能迅速饱和,导致行管内阻变大,使用行扫描线性8 n+ f; s3 Y/ \4 P, Y; z
变差;假如行激励不足,行管不能迅速地截止,使用行管长时间地处于有电流流
3 H6 P" ~- i: R$ t6 B- q/ Z+ Q过的不正常工作状态,将造成行输出电路的功耗增加,引起行输出管发烫。一旦
* w. X* D( Z1 v+ J" k$ u2 a超过行管功耗的极限值,则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢,有的则/ L' F  z8 _+ A3 j
开机就烧行管;有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长,不防用示波器观察" Z2 i" z9 J7 }0 h
激励级的波形,可帮助找到故障原因。 6 F5 W, R! I$ p
造成行激励不足的原因有:行激励管性能不良;行激励变压器的供电电阻阻
/ j; e7 g. l) H8 z1 E5 L值增大;行激励变压器的周围元件有虚焊;行激励变压器低级烧组上的滤波电容9 b8 x9 Q# ]# g' M, v; z
变质;行振荡电路的晶振不良;集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
' \7 I9 I' a2 X, m* e效造成滤波不良。 7 l2 b) b5 e% x% @: D- }% D/ l
, b: Q6 r7 D, l) D6 q1 d4 ]
[NextPage]& `5 Y# S" {$ g8 h: Q3 H/ `
3 N& R3 e! i. X1 D* a
、 环境潮湿
  s4 }9 s* B  N- i7$ i$ _9 ~9 \& l  n3 ~7 X6 s
这使用行输出变压器周围元件漏电,或者因散热不良(如将彩电置于柜内,% K  u- q8 B+ l9 z
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧),行管过热,使其耐压降低,最终, u, _" G1 T: T% X0 f
导致损坏行管。
* E- l4 }0 i& o) W% |、 行偏转线圈开路 . e/ Y9 a% F) r) w5 C. h2 V
86 K" s1 e& V: ^0 [8 s8 Q# ~
此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间,使用行管在逆
( s2 v+ G6 R5 i  W5 _  |  A程时间内也短暂导通,导致行管损坏。因此,维修时要特别小心,在行偏转线圈
+ z9 p/ F7 b/ p# S4 v及其回路开路的情况下,假如长时间通电检修,是极危险的。 ; u3 a& n* V3 {" |; t, J; x: |0 n
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化,损坏短路等问题。
" K7 I8 s" a- u8 o4 X7 s如 S 校正电容短路,枕校电路元件短路,使行电流大增,造成行管因过流
* J" K0 C  N; N5 ^而击穿。
" `* y, E& m4 H0 t) v2 $ @9 B2 M4 m3 E" y& W9 W/ a
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ:26433849 TANK
4 _9 B6 j4 `$ y3 {; u1 {( h此外,阻尼二极管开路,自举升压电容短路,高压电泄露(如高压打火,高* j% f! }# w/ u! Z0 I. G7 ]
压线穿孔),行管质量差,显像管内部跳火,AFC 电路故障等,也会造成行管过
4 K6 ?' e6 D, l- l) x. _- E$ w流击穿。7 f% p; |+ v0 c
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容,取样电压滤波电容失容。
) P  G; r3 K9 Q6 [受四周大功率元件高温烘烤后,电容失容,导致行管击穿。   i0 |  N, }0 T) f& v' ^: n
11、 行包(FBT 回扫变压器)或行中心调整线圈,枕校变压器,行管,
3 r0 X& h$ k: h0 G5 t9 Y8 ^" s逆程二极管等引脚虚焊
$ f9 s& [6 o8 x8 t; p) B虚焊是显示器元件损坏大敌,开关电源变压器,电源管,行管,行包,逆# a8 n7 A) B5 I) e8 Z
程二极管,逆程电容,行中心调整线圈都工作在大电流,高电压环境,虚焊会造3 c* C/ d( i, g% s2 d+ z) H) \1 E
成瞬间的接通与截止,尖峰电压很轻易烧毁电源管和行管。
. B9 j3 O7 \7 j' m7 @12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大,或使用了内置阻尼二极管) P* e/ z: z5 i" a2 r
或阻尼电阻的行管 0 i2 \2 s1 H0 T9 [
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时,也要注意测量方法,假如测量方$ h% Z: n% [) D: _) F! k3 a! B
法不当也会瞬间烧行管。   \: V+ f6 j: ?5 D* r% r0 x
13  l1 b/ H& P# y" o4 h
、 高压打火,也是造成行管损坏的一种原因 , X( ?5 e7 l: O! R
高压包在使用三到五年后,由于绝缘介质的老化,轻易出现高压打火现象。
+ m0 i2 @( ]3 @, s" r高压打火可能发生在高压包内部,也可能发生在高压包对接地装置,也可能是高
0 ?" [, A- p) A5 _4 ?# }压嘴周围打火,或高压线穿孔,高压打火出现会造成高压不稳,瞬间的放电导致
7 J' A; v) _: E; ?+ W9 n+ O行管负载变化异常造成行管烧毁. @: b2 d+ y$ y% b
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